| 意味 | 例文 (74件) |
impurity analysisとは 意味・読み方・使い方
追加できません
(登録数上限)
「impurity analysis」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 74件
IMPURITY ANALYSIS METHOD AND IMPURITY ANALYSIS DEVICE OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE例文帳に追加
半導体基板の不純物分析方法と不純物分析装置 - 特許庁
IMPURITY ANALYSIS METHOD, AND IMPURITY ANALYSIS JIG OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE例文帳に追加
半導体基板の不純物分析方法および不純物分析用冶具 - 特許庁
SEMICONDUCTOR WAFER IMPURITY ANALYSIS METHOD例文帳に追加
半導体ウエハの不純物分析方法 - 特許庁
-
履歴機能
過去に調べた
単語を確認! -
語彙力診断
診断回数が
増える! -
マイ単語帳
便利な
学習機能付き! -
マイ例文帳
文章で
単語を理解! -
「impurity analysis」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 74件
IMPURITY ANALYSIS METHOD, IMPURITY ANALYSIS GAS SAMPLING DEVICE, IMPURITY GAS ANALYZER, AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
不純物分析方法、不純物分析ガス採取装置、不純物ガス分析装置及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
To provide an impurity analysis method and an impurity analysis jig of a semiconductor substrate having a sufficient accuracy.例文帳に追加
十分な精度を有する半導体基板の不純物分析方法および分析用冶具を提供する。 - 特許庁
IMPURITY RECOVERY METHOD AND IMPURITY RECOVERY DEVICE FOR LOCAL TRACE CHEMICAL ANALYSIS例文帳に追加
局所微量化学分析の不純物回収方法及びその不純物回収装置 - 特許庁
REMOVAL METHOD AND ANALYSIS METHOD OF IMPURITY IN SILICON WAFER例文帳に追加
シリコンウェハの不純物の除去方法及び分析方法 - 特許庁
To provide a method for analysis, especially, automatic analysis of ultratrace impurity metal on a silicon wafer surface.例文帳に追加
シリコンウェハ表面の超微量不純物金属の分析、特に自動分析の方法を提供する。 - 特許庁
|
| 意味 | 例文 (74件) |
|
|
ピン留めアイコンをクリックすると単語とその意味を画面の右側に残しておくことができます。 |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
「impurity analysis」のお隣キーワード |
weblioのその他のサービス
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|