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interface roughnessとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 界面粗さ
「interface roughness」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 67件
The semiconductor device is includes an interface roughness mitigating film 20, contacted with an insulating film as well as a wiring contacted through the surface of opposite side while an interface roughness between the wiring and the interface roughness mitigating film is smaller than an interface roughness between the insulating film and the interface roughness mitigating film.例文帳に追加
絶縁膜と接触した界面ラフネス緩和膜であって、その反対側の面で配線とも接触し、当該絶縁膜と当該界面ラフネス緩和膜との間の界面ラフネスより、当該配線と当該界面ラフネス緩和膜との間の界面ラフネスの方が小さい界面ラフネス緩和膜20を設ける。 - 特許庁
INTERFACE ROUGHNESS MITIGATING FILM, FORMING MATERIAL OF INTERFACE ROUGHNESS MITIGATING FILM, WIRING LAYER AND SEMICONDUCTOR DEVICE EMPLOYING THESE FILM AND MATERIAL AS WELL AS MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
界面ラフネス緩和膜、界面ラフネス緩和膜形成材料、これらを用いた配線層および半導体装置ならびに半導体装置の製造方法 - 特許庁
Thus a mixed layer is hardly formed on the interface and the roughness of the surface is prevented when the clear paint is applied.例文帳に追加
クリヤ塗装時に界面に混層が形成されにくく、表面の荒れが防止される。 - 特許庁
INTERFACE ROUGHNESS REDUCING FILM, WIRING LAYER, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
界面ラフネス緩和膜、配線層、半導体装置および半導体装置の製造方法 - 特許庁
At this time, the roughness (interface roughness) of the base film is about 0.5 nm (RMS) or less so that the scattering loss may be not derived from reflecting the roughness on the surface of the multilayer reflection film 3.例文帳に追加
このとき下地膜部分の粗さ(界面粗さ)はおよそ0.5nm(RMS)以下であり多層反射膜3の表面に粗さが反映されて散乱損失の原因となることはない。 - 特許庁
Surface roughness Ra to be a bonding interface is set to be 0.01 to 2 μm.例文帳に追加
接着界面となるべき面の表面粗さRaは0.01μm〜2μmに設定されている。 - 特許庁
The value of amplitude in roughness of the interface between the non-magnetic layer and the first ferromagnetic layer is h1.例文帳に追加
非磁性層と第1強磁性層との間の界面のラフネスの振幅の値はh1である。 - 特許庁
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「interface roughness」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 67件
The value of amplitude in roughness of the interface between the second ferromagnetic layer 23 and the non-magnetic layer is h2.例文帳に追加
第2強磁性層23と非磁性層との間の界面のラフネスの振幅の値はh2である。 - 特許庁
To provide the manufacturing method of the semiconductor device having a silicon nitride oxide film whose interface roughness is small and interface level density is low.例文帳に追加
界面ラフネスが小さく、界面準位密度が低いシリコン窒化酸化膜を有する半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
An anchor effect takes place if the surface roughness is made larger and adhesiveness on an interface is enhanced.例文帳に追加
表面粗度を大きくすることによりアンカー効果が生じて、界面での接着力が向上する。 - 特許庁
To form an oxynitride film which can be controlled satisfactorily in film thickness, nitrogen content, interface roughness, and nitrogen position.例文帳に追加
膜厚の制御、窒素量の制御、界面ラフネス、窒素位置の制御に優れる酸窒化膜を形成する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device having good silicide/silicon interface in which a crystal defect or roughness of the interface is improved and having stable characteristics, and to provide a method of manufacturing the same.例文帳に追加
結晶欠陥や界面の荒れが改善された良好なシリサイド/シリコン界面を有し、安定した特性を有する半導体装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁
The tunnel barrier layer 15 has thickness from 0.1 nm or more to 0.6 nm or less, and has interface roughness of less than 0.5 nm.例文帳に追加
そして、トンネルバリア層15は、厚さが0.1nm以上0.6nm以下であり、且つ、界面ラフネスが0.5nm未満である。 - 特許庁
To realize a method of forming a titanium polycide gate which has satisfactory interface roughness between a polysilicon film and a titanium silicide film.例文帳に追加
ポリシリコン膜とチタンシリサイド膜の間の良好な界面粗さを持つチタンポリサイドゲートの形成方法を提供する。 - 特許庁
The amplitude of roughness of the interface between the barrier and the second ferromagnetic layer is h3 which is smaller than h1 and h2.例文帳に追加
バリア層と第2強磁性層との間の界面のラフネスの振幅がh1およびh2より小さいh3である。 - 特許庁
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