ion intensityとは 意味・読み方・使い方

Also, a standard center line 123 corresponding to a standard value of a ratio of the ion to be checked, which represents an intensity ratio of the ion to be checked with respect to an intensity of the ion of predetermined quantity in the target compound, and an upper limit line 124 and a lower limit line 125 representing an allowance range of the intensity of the ion to be checked are displayed being overlapped with the EIC.例文帳に追加

また、目的化合物における定量イオンの強度に対する確認イオンの強度の比を表す確認イオン比の標準値に対応した標準中心線１２３と、確認イオンの強度の許容幅を示す上限線１２４及び下限線１２５とをＥＣＩに重ねて表示する。 - 特許庁

To provide an ion source capable of adjusting average value of a radial-direction distribution of ion-beam intensity while maintaining uniformity of the radial-direction distribution of the ion-beam intensity.例文帳に追加

イオンビーム強度の径方向分布の均一性を維持しながら、イオンビーム強度の径方向分布の平均値を調整可能なイオン源を提供する。 - 特許庁

A first secondary ion intensity of ion having a mass number roughly equal to that of the measuring object element and a second secondary ion intensity of molecular ion which is an isotope of the interfering ion relative to the measuring object element are measured, and thereafter correlation between the second secondary ion intensity and an isotope abundance of the molecular ion is obtained, and then a third secondary ion intensity of the interfering ion is calculated by using the correlation.例文帳に追加

測定対象元素を含む試料を用いて、測定対象元素と略等しい質量数を有するイオンの第１の二次イオン強度と、測定対象元素に対する妨害イオンの同位体となる分子イオンの第２の二次イオン強度とを測定した後、第２の二次イオン強度と分子イオンの同位体存在比との相関関係を求め、その後、該相関関係を用いて、妨害イオンの第３の二次イオン強度を算出する。 - 特許庁

The secondary ion intensity of a main component element is measured on the secondary region (S64).例文帳に追加

次に、第二の領域に対する主成分元素の二次イオン強度を測定する（Ｓ６４）。 - 特許庁

The first method makes impressed electric field intensity in the second ion exchange process lowered with the lapse of time.例文帳に追加

第１の方法は、第２のイオン交換工程における印加電界強度を、時間と共に低下させる。 - 特許庁

To provide a negative electrode material for a lithium ion secondary battery superior in electrode plate intensity.例文帳に追加

極板強度に優れるリチウムイオン二次電池用負極材料を提供することを目的とする。 - 特許庁

The thicker line has the lower transmitting coefficient for ion beam and therefore intensity of ion beam reaching the adjacent semiconductor well is lowered.例文帳に追加

より厚いラインはイオンビームに対し、より低い透過係数をもち、従って隣接した半導体井戸に到達するイオンビームの強度は低下する。 - 特許庁

To provide a technique capable of restraining easily a change of a secondary ion intensity, in a secondary ion mass spectrometric analytical method.例文帳に追加

二次イオン質量分析法において、二次イオン強度の変化を簡便に抑制できる技術を提供する。 - 特許庁