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mTorrとは 意味・読み方・使い方
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「mTorr」を含む例文一覧
該当件数 : 46件
The container 11 is filled with a thin gas, for instance, argon gas at a pressure of 0.1-1,000 mTorr.例文帳に追加
容器11内に、希薄気体、例えばアルゴンガスを0.1 〜1000 mTorrの圧力で満たす。 - 特許庁
When forming the magnetic- recording layer 4, the gas pressure for membrane formation is preferably adjusted to 10 mTorr or higher but 200 mTorr, or preferably 20 mTorr or higher but 100 mTorr or lower.例文帳に追加
磁気記録層4を成膜する際には、成膜時に使用するガスの圧力を10mTorr以上200mTorr以下、好ましくは20mTorr以上100mTorr以下に調整して行なう。 - 特許庁
The gas pressure in the chamber 31 during sputtering is controlled within the range of 0.02 mTorr to 0.3 mTorr.例文帳に追加
スパッタリング中のチャンバ31内のガス圧は、0.02mTorrから0.3mTorrの範囲内とする。 - 特許庁
For example, the plenum 32 pressure can be less than twice the pressure in the process space 33, or can be less than 50 mTorr, 30 mTorr or even 20 mTorr than the pressure in the process space 33.例文帳に追加
たとえば、プレナム32の圧力は、プロセス空間33の圧力の2倍未満、または、プロセス空間33の圧力よりも50mTorr、30mTorrもしくは20mTorr低い。 - 特許庁
A micro crystalline thin film whose Argon(Ar) gas pressure is 5 mTorr and whose mean particle diameter is about 10 nm is accumulated by 300 nm so that an accumulated semiconductor thin film 33 can be obtained.例文帳に追加
アルゴン(Ar)ガス圧を5 mTorrとし、平均粒径約10 nmの微結晶体薄膜を300 nm堆積し、堆積半導体薄膜33とした。 - 特許庁
A pressure in the chamber 10 is selected within a range of 1 to 100 mTorr to satisfy relation of y≥-1.7x+295 wherein x is the pressure (mTorr) and y is the absolute value of a self-bias voltage (volt) generated in the susceptor 12.例文帳に追加
そして、チャンバ10内の圧力を1mTorr〜100mTorrに選び、圧力(mTorr)をx、サセプタ12に生成される自己バイアス電圧(ボルト)の絶対値をyとすると、y≧−1.7x+295の関係が満たされるようにする。 - 特許庁
The pressure in the chamber 102 is set between 30 mTorr (4.00 Pa) and 150 mTorr (20.0 Pa) by introducing a process gas to the chamber 102 and discharging the exhaust gas from the chamber 102.例文帳に追加
処理室102内の圧力は,処理室102内への処理ガスの導入,および処理室102内のガスの排気により,30mTorr(4.00Pa)〜150mTorr(20.0Pa)に設定する。 - 特許庁
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「mTorr」を含む例文一覧
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A plasma is generated at low gas pressure (10 mTorr or less) by a microwave introducing method which uses one or plural pairs of inside antennas 5 for a bucket type ion source.例文帳に追加
バケット型イオン源に複数の一対又は複数対の内部アンテナ5を用いてマイクロ波を導入する方法によって、低ガス圧(10 mTorr以下)でプラズマを発生さす。 - 特許庁
In order to attain the high quality of the silicon film, either a reaction furnace inner pressure is set to 15 mTorr or less by a low pressure CVD method, or a silane partial pressure is set to 10 mTorr or less.例文帳に追加
これらシリコン膜の高品質化は、減圧CVD法にて反応炉内圧力を15mTorr以下とするか、シラン分圧を10mTorr以下とする事で達成される。 - 特許庁
In the case of forming the p-type noncrystalline semiconductor film 3, there are the conditions of substrate temperature ≤210°C and reaction pressure ≥100 mTorr, more preferably, substrate temperature ≤180°C and reaction pressure ≥200 mTorr.例文帳に追加
p型非晶質半導体膜3を形成する際の条件は、基板温度:210℃以下、反応圧力:100mTorr以上、より好ましくは、基板温度:180℃以下、反応圧力:200mTorr以上とする。 - 特許庁
The absolute value of a self-bias voltage is set to ≤280 V, and y<8x+120 is satisfied, where (x) is pressure (mTorr) and (y) is bias RF power density (watt/cm2) of the susceptor 12.例文帳に追加
そして、自己バイアス電圧の絶対値を280V以下に選び、圧力(mTorr)をx、サセプタ12におけるバイアスRFパワー密度(ワット/cm2)をyとすると、y<8x+120の関係が満たされるようにする。 - 特許庁
The above sputtering is performed under conditions of 0.5-1.1 mTorr sputtering gas pressure, 3-15 W/cm^2 discharge power density, and 100-300°C substrate temperature.例文帳に追加
スパッタリングガス圧:0.5〜1.1mTorr、放電パワー密度:3〜15W/cm^2、基板温度:100〜300℃ - 特許庁
Processing gas consisting of a gaseous mixture of N2, H2 and Ar, whose flow rate ratio (Ar/(N2+H2+Ar)) is 0.7-0.8, is introduced to the inside the processing chamber 102, and a pressure atmosphere inside the processing chamber 102 is set to 5 mTorr-15 mTorr.例文帳に追加
処理室102内に流量比(Ar/(N_2+H_2+Ar))が0.7〜0.8のN_2とH_2とArの混合ガスから成る処理ガスを導入し,処理室102内の圧力雰囲気を5mTorr〜15mTorrに設定する。 - 特許庁
It is suitable to add 0.5%≤H_2O or O_2≤1.5% to partial pressure of raw material, Ar gas to be used for forming a film over the magnetic layer 3 and further to keep the atmosphere pressure at formation of the film to be in the range of 5 mTorr or higher to 30 mTorr or lower.例文帳に追加
磁性層3を成膜する際に用いる原料Arガスの分圧に対して、0.5%以上1.5%以下のH_2OまたはO_2を添加し、更に成膜時雰囲気の圧力を5mTorr以上30mTorr以下とすることが好適である。 - 特許庁
To provide a sputtering device capable of holding discharge at a vacuum degree of ≤1 mTorr and capable of stably forming a thin film under low gas pressure.例文帳に追加
1mTorr以下の真空度で放電を維持でき、低ガス圧下で安定して薄膜を形成できるスパッタリング装置を提供する。 - 特許庁
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