on-chip testingとは 意味・読み方・使い方

The host computer 16 uses the mapping information to relate testing data of each of chip with the position of the chip on the wafer.例文帳に追加

ホストコンピュータ１６は上記のマッピング情報を用い各チップの試験データとウエハ上の位置を関連付けることにより、上記課題を解決する。 - 特許庁

To provide a system and a method of substrate inspection for testing mounting condition of an IC chip onto a substrate in a short time, based on objective criterion.例文帳に追加

基板へのＩＣチップの実装状態の検査を、客観的基準に基づいて短時間で実施する。 - 特許庁

The testing chip 10 comprises a chip body 12, a conductor 16 provided on the chip body 12, and the three connection electrodes 21, 22 and 23 connected to the conductor.例文帳に追加

試験用チップ１０は、チップ本体１２と、チップ本体１２上に設けられた導電体１６と、導電体に接続された三つの接続電極２１，２２，２３と、を備えている。 - 特許庁

The second substrate 2 has on a second surface 22 a second semiconductor chip 30 and a second test point 25 for testing the second semiconductor chip 30.例文帳に追加

また、第２基板の第２表面２２には、第２半導体チップ３０と、この第２半導体チップ３０をテストするための第２テストポイント２５とが形成されている。 - 特許庁

A test section 26 is provided and has a probe testing device, which tests a chip on a wafer ring.例文帳に追加

試験区２６を有し、試験区２６はプローブ試験装置を有し、プローブ試験装置はウェハーリング上のチップに試験を行なう。 - 特許庁

The arrangement reduces the amount of test-only hardware on a chip and reduces the need to write complex testing software.例文帳に追加

この配置は、チップ上のテスト・オンリーのハードウェアの量を低減し、複雑なテスト用ソフトウェアを書く必要性を低減する。 - 特許庁

The test circuit chip 21 for testing the electric characteristics of at least part of an LSI chip on a wafer to be inspected is mounted to the surface of a card main body 11.例文帳に追加

カード本体１１表面には、検査対象ウエハ上のＬＳＩチップの少なくとも一部の電気的特性をテストするためのテスト回路チップ２１が実装される。 - 特許庁

The first substrate 1 has on a second surface 12 a first semiconductor chip 20 and a first test point 15 for testing the first semiconductor chip 20.例文帳に追加

第１基板１の第２表面１２には、第１半導体チップ２０と、この第１半導体チップ２０をテストするための第１テストポイント１５とが形成されている。 - 特許庁