prepared specimenとは 意味・読み方・使い方

An image extracting part 353 extracts the standard specimen image from the standard specimen image data memory part 4 on the basis of the respective values of a specimen specifying parameter obtained with respect to a specimen to be prepared and a control parameter.例文帳に追加

画像抽出部３５３は、作成対象の標本について取得した標本特定パラメータおよび制御パラメータの各値をもとに、標準標本画像データ記憶部４から標準標本画像を抽出する。 - 特許庁

To provide a device for providing an optical microscope with both functions of rotating a prepared specimen and moving it horizontally and vertically by giving a rotary function for freely rotating the prepared specimen on the stage to the optical microscope with a clamp in which the prepared specimen is moved only horizontally and vertically on the stage.例文帳に追加

ステージ上でプレパラートを左右上下にしか動かす事が出来ないクレンメルのある光学顕微鏡に、ステージ上でプレパラートを自由に回転させる回転機能を与え、光学顕微鏡にプレパラートの回転機能と左右上下運動機能を併せ持たせる装置を提供する。 - 特許庁

(1) Water absorbing/oil absorbing paper as a test specimen 4 (commercial tempura papers and kitchen papers and the like) is prepared.例文帳に追加

（１）試験体４としての給水・吸油紙（市販のてんぷら敷紙、キッチンペーパー等）を用意する。 - 特許庁

The specimen analyzer 1 includes: a measurement part 2 which sucks a specimen, prepares a measuring sample from the sucked specimen and a reagent, and measures the specimen by detecting a component in the prepared measuring sample; and a display part 302.例文帳に追加

検体分析装置１は、検体を吸引し、吸引した検体と試薬とから測定試料を調製し、調製した測定試料中の成分を検出することにより検体の測定を行う測定部２と、表示部３０２とを備えている。 - 特許庁

DEVICE FOR REPLACING OBJECTIVE LENS IN MICROSCOPE, THE MICROSCOPE, AND DEVICE FOR MICROSCOPIC EXAMINATION OF PREPARED SPECIMEN例文帳に追加

顕微鏡の対物レンズ交換装置および顕微鏡並びにプレパラートを顕微鏡検査するための装置 - 特許庁

A specimen preparing parameter acquiring part 352 obtains the value of a specimen preparing parameter containing a value for specifying dyeing coloring matter for dyeing at least a specimen to be prepared.例文帳に追加

本発明のある実施の形態において、標本作成パラメータ取得部３５２は、少なくとも作成対象の標本を染色する染色色素を特定可能な値を含む標本作成パラメータの値を取得する。 - 特許庁

Since the minute specimen prepared beforehand on a specimen by a focused ion beam device can be sampled quickly and installed on the carrier, an occupation time of an FIB device for processing one specimen is shortened, to thereby heighten specimen preparation efficiency.例文帳に追加

本発明によれば、事前に集束イオンビーム装置で試料上に作製された微小試料を迅速に採取し、キャリアに設置することができるため、１個の試料を加工するためのＦＩＢ装置の占有時間が短縮し、試料作製効率が高まる。 - 特許庁

A sample on a prepared specimen 1 is observed by a microscope 2, and the optical image of the microscope 2 is picked up by a CCD camera 4.例文帳に追加

プレパラート上の標本を顕微鏡で観察し、顕微鏡の光学画像をＣＣＤカメラで撮像する。 - 特許庁