residual rayとは 意味・読み方・使い方

To provide a cathode-ray tube display device wherein a residual spot on a cathode-ray tube after power-off can be quickly resolved.例文帳に追加

電源をオフした後の陰極線管のスポット残りを速やかに解消することができる陰極線管表示装置を提供することである。 - 特許庁

An X-ray permeable filter adequate to absorb the residual energy is arranged between an anode 80 and an X-ray permeable window.例文帳に追加

さらに、残余エネルギを吸収するのに適したＸ線透過性のフィルタ（１０６）が、陽極（８０）とＸ線透過窓（１０２）の間に配置される。 - 特許庁

An X-ray residual stress measuring method, which comprises a means for depositing a metal film of a known X-ray diffraction angle over a surface of a measured object, and a means for measuring a residual stress by irradiating the measured object surface with X rays, executes the X-ray residual stress measurement as holding the metal film deposit over the measured object surface.例文帳に追加

測定対象物の表面にＸ線回折角度が既知の金属の膜を付着させる手段と、測定対象物表面にＸ線を照射して残留応力を測定する手段とからなるＸ線残留応力測定方法において、測定対象物表面に金属膜を付着させた状態でＸ線により残留応力測定することを特徴とするＸ線残留応力測定方法。 - 特許庁

To provide an energy dispersive fluorescent X-ray analyzer capable of confirming a residual amount of liquid nitrogen, and managing easily the liquid nitrogen.例文帳に追加

液体窒素の残量が確認でき、液体窒素の管理が容易なエネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置を提供する。 - 特許庁

Furthermore, structural change in the polymer alloy when irradiated by γ-ray is suppressed by lowering the residual water content in the hollow fiber below a definite value.例文帳に追加

更に、中空糸の残存水分率を一定値以下にすることで、γ線照射した際のポリマーアロイの構造変化を抑制したものである。 - 特許庁

The fused jointing portion 6 is subjected to an annealing treatment by another infrared ray lamp 22 so that residual strain and stress are removed.例文帳に追加

融着後の接合部分６は、別の赤外線ランプ２２によって焼きなまし処理が行われて、残留歪みや応力が除去される。 - 特許庁

To provide a residual stress measuring device and a method by X-ray causing little measuring errors even if the grain size of a measured material is unknown.例文帳に追加

被測定材料の粒度が既知でなくても、測定誤差の少ないＸ線残留応力測定装置およびその測定方法を提供する。 - 特許庁

To obtain an X-ray stress measuring apparatus having a simple mechanism capable of rapidly calculating the residual stress of a sample by on e measurement.例文帳に追加

簡単な機構を有し、かつ、１回の測定で迅速に試料の残留応力を求めることを可能にするＸ線応力測定装置を提供する。 - 特許庁