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resistivity Si substrateとは 意味・読み方・使い方
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「resistivity Si substrate」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 8件
A Si adhesive substrate is constituted by sticking one surface 20b of an N^--type high resistivity Si substrate 20 having face orientation (111) different from the Si substrate 10 on a surface 10a of an N^+-type low resistivity Si substrate 10 having face orientation (100).例文帳に追加
面方位が(100)のN^+型低比抵抗Si基板10の面10a上に、面方位がSi基板10とは異なる(111)のN^−型高比抵抗Si基板20の一方の面20bを貼り合わせて、Si貼合基板を構成する。 - 特許庁
The single crystal Si substrate with metal plating layers comprising the single crystal Si substrate having 1 to 100 Ωcm volume resistivity and one or more metal plating layers provided on the single crystal Si substrate is provided.例文帳に追加
体積抵抗率が1〜100Ω・cmである単結晶Si基板と、該単結晶Si基板上に設けられた1層以上の金属メッキ層とを含んでなる金属メッキ層付き単結晶Si基板を提供する。 - 特許庁
To form a low-resistance layer in an Si substrate such that resistivity thereof has such a value that operation characteristics of an FET formed utilizing a GaN-based epitaxial growth substrate are not affected.例文帳に追加
Si基板内に形成される低抵抗層の抵抗率が、このGaN系エピタキシャル成長基板を利用して形成されるFETの動作特性に影響を与えることがない程度の大きさに形成されている。 - 特許庁
Secondly, the resistivity of the Si substrate to be used this time is set, and the ratio r is set so that an absolute value of the TCFfr corresponding to the set resistivity and an absolute value of the TCFfa become 20 ppm/°C or less.例文帳に追加
次に、今回使用するSi基板の抵抗率を設定し、該設定した抵抗率に対応するTCFfrの絶対値及びTCFfaの絶対値が20ppm/℃以下となるように比率rを設定する。 - 特許庁
The striped insulating film is thus formed, which allows the low-resistance layer 11 formed in the Si substrate to have resistivity such that the operation characteristics of the FET formed utilizing the GaN-based epitaxial growth substrate are not affected.例文帳に追加
このストライプ状絶縁膜が形成されていることによって、Si基板内に形成される低抵抗層11の抵抗率がこのGaN系エピタキシャル成長基板を利用して形成されるFETの動作特性に影響を与えることがない程度の大きさにすることが可能となるという効果が得られる。 - 特許庁
On an Si single crystal substrate 2 having a thickness of 10-1,000 μm, a resistivity of 1E-2 to 1E5 Ωcm, and a carrier density of 1E11 to 1E18/cm^3, a 3C-SiC single crystal film 3 having a thickness of 0.01-1,000 μm is formed.例文帳に追加
厚さ10〜1000μm、抵抗率1E−2〜1E5Ωcm、キャリア濃度1E11〜1E18/cm^3のSi単結晶基板2上に厚さ0.01〜1000μmの3C−SiC単結晶膜3が形成されている。 - 特許庁
In the ink jet head 10 of such a system as ink is ejected by imparting charges to a thin plate diaphragm 5 formed on a semiconductor substrate 1 of Si, or the like, and an electrode 21 disposed oppositely thereto thereby electrostatically deforming the diaphragm 5, resistivity of the semiconductor substrate is set at 20 Ω.cm or less.例文帳に追加
Si等の半導体基板1上に形成された薄板状の振動板5と、該振動板5に対向配置される電極21とに電荷を与えて振動板5を静電的に変形させ、インクを吐出する方式のインクジェットヘッド10において、半導体基板の抵抗率を20Ω・cm以下とした。 - 特許庁
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「resistivity Si substrate」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 8件
To provide a method of producing a transparent electroconductive film, by which crystallization of an a-Si layer being a ground layer is prevented, and the diffusion of an impurity doped is suppressed, and to provide the transparent electroconductive film exhibiting a low resistivity at a substrate temperature of about 150°C and high transmissivity when its thickness is ≤100 nm.例文帳に追加
下地層としてのa−Si層を結晶化させることなく、かつドーピングした不純物の拡散を生じない透明導電膜の製造方法、および約150℃の基板温度で低抵抗であり、かつ膜厚100nm以下で高透過率を示す透明導電膜を提供する。 - 特許庁
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