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secondary analysisとは 意味・読み方・使い方
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「secondary analysis」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 121件
SECONDARY SURVEILLANCE RADAR RESPONSE SIGNAL ANALYSIS DEVICE AND SECONDARY SURVEILLANCE RADAR RESPONSE SIGNAL ANALYSIS METHOD例文帳に追加
二次監視レーダ応答信号解析装置及び二次監視レーダ応答信号解析方法 - 特許庁
SECONDARY SURVEILLANCE RADAR AND SECONDARY SURVEILLANCE RADAR RESPONSE SIGNAL ANALYSIS METHOD例文帳に追加
二次監視レーダ及び二次監視レーダ応答信号解析方法 - 特許庁
SECONDARY ION MASS ANALYSIS METHOD FOR INSULATING MATERIAL例文帳に追加
絶縁物の二次イオン質量分析方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR MASS SPECTROMETRIC ANALYSIS SECONDARY ION MASS例文帳に追加
二次イオン質量分析方法および装置 - 特許庁
SECONDARY TARGET DEVICE AND FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS DEVICE例文帳に追加
二次ターゲット装置及び蛍光X線分析装置 - 特許庁
QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD IN SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加
二次イオン質量分析法における定量分析方法 - 特許庁
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「secondary analysis」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 121件
SURFACE ANALYSIS METHOD AND SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY例文帳に追加
表面分析方法および二次イオン質量分析法 - 特許庁
To execute a repair analysis of a memory to be tested without a secondary repair analysis by software.例文帳に追加
ソフトウェアによる2次リペア解析なしに、被試験メモリのリペア解析を実行する。 - 特許庁
Further, it is preferable to employ a secondary ion mass analysis or a Rutherford backward scattering analysis as the destruction and analysis.例文帳に追加
また、破壊分析として、二次イオン質量分析又はラザフォード後方散乱分析を用いるのが好ましい。 - 特許庁
A secondary analysis section 13 of the message analysis system 1 obtains a position of secondary analysis object data in a fault message from a switch on the basis of the analysis result of primary analysis object data, applies secondary analysis to fault contents of the switch on the basis of the data and stores the analysis result into an analysis file storage section 12.例文帳に追加
メッセージ解析システム1の二次解析部13は、一次解析対象データの解析結果を基に、交換機からの故障メッセージにおける二次解析対象データの位置を求め、このデータにより交換機の故障内容を二次解析して解析結果を解析ファイル格納部12に格納する。 - 特許庁
Yeah, I have some secondary analysis to do on the kyle butler case.例文帳に追加
第二分析を やらなきゃならない カイル・バトラーの件で - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
SECONDARY ION MASS SPECTROSCOPY AND SEMICONDUCTOR WAFER ANALYSIS METHOD例文帳に追加
二次イオン質量分析法及び半導体ウェハの分析方法 - 特許庁
SAMPLE FOR SECONDARY ION MASS ANALYSIS, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND SECONDARY ION MASS ANALYZING METHOD例文帳に追加
二次イオン質量分析用試料及びその作製方法、並びに二次イオン質量分析方法。 - 特許庁
To improve efficiency in failure analysis of a semiconductor device by a secondary electron image.例文帳に追加
2次電子像による半導体装置の不具合解析の効率化。 - 特許庁
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