self testing circuitとは 意味・読み方・使い方

METHOD AND CIRCUIT FOR SELF-CALIBRATING AND TESTING QPSK TRANSCEIVER例文帳に追加

ＱＰＳＫトランシーバの自己校正及び試験の方法並びに回路 - 特許庁

To provide a circuit pack self-testing system adapted to testing on an electronic device of a circuit pack.例文帳に追加

回路パックの電子デバイス上で試験を行うように適合された回路パック自己試験システムを提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH CIRCUIT FUNCTION OF SELF-DIAGONOSTIC TEST AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

自己診断テスト回路機能を備えた半導体集積回路および半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit having short test time for self testing of function.例文帳に追加

自己機能テストのテスト時間が短い半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To obtain a function for self-calibrating and testing QPSK transmitter/receiver integrated circuit.例文帳に追加

ＱＰＳＫ送信器／受信器集積回路を自己校正、試験する機能を得る。 - 特許庁

A method and a circuit for self-calibrating and testing QPSK transmitter/receiver integrated circuit are provided.例文帳に追加

ＱＰＳＫ送信器／受信器集積回路を自己校正、試験する方法及び回路が提供される。 - 特許庁

To obtain an integrated circuit device equipped with a built-in self-test circuit suitable for testing a multi-port memory.例文帳に追加

マルチポートメモリをテストするのに好適な組み込み自己テスト回路を備える集積回路装置を実現する。 - 特許庁

To realize a temporally parallel test between a predetermined circuit block having a self-diagnosis circuit and another circuit block in a testing method for an IC having a plurality circuit blocks.例文帳に追加

複数の回路ブロックを有するＩＣのテスト方法において、自己診断回路を有する所定の回路ブロックと、その他の回路ブロックとの時間的な並列テストを実現する。 - 特許庁