self test failureとは 意味・読み方・使い方

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS SELF-TEST FAILURE DETECTION METHOD例文帳に追加

半導体装置及びその自己試験故障検出方法 - 特許庁

AUTOMATIC FAILURE TESTING OF LOGICAL BLOCK USING INTERNAL AT-SPEED LOGIC BUILT IN SELF TEST例文帳に追加

内部アットスピード論理ＢＩＳＴを用いた論理ブロックの自動故障試験 - 特許庁

A failure state database memory for memorizing data associating a self-diagnosis result of the test object with the order of test items is added.例文帳に追加

被試験体の自己診断結果と試験項目の順序を対応付けたデータを記憶する故障状況データベース記憶器を付加する。 - 特許庁

To easily diagnose a failure of a semiconductor integrated circuit with a built-in self-test circuit for a memory.例文帳に追加

メモリの自己テスト回路が組み込まれた半導体集積回路の故障診断を容易に実行できるようにする。 - 特許庁

Hereby, rearrangement of the test items can be executed according to the self-diagnosis result, and a test can be executed from the test item having high possibility of detection of a failure spot, to thereby shorten the failure detection time.例文帳に追加

これにより、自己診断結果に応じて試験項目の並び替えを行うことができ、故障箇所を検出する可能性の高い試験項目から試験を実行できるため、故障検出時間を短縮できる。 - 特許庁

To provide a program of improving a failure detection rate without increasing the number of diagnostic test patterns in a semiconductor integrated circuit having a test mechanism by an incorporated self-test method.例文帳に追加

組込み自己試験法によるテスト機構を備えた半導体集積回路において、診断テストパターン数を増加させずに故障検出率を向上させることができるプログラムを提供する。 - 特許庁

To execute a self diagnosis test for detecting a failure of a head or circuit which depends on the frequency of writing/reading signals to/from a user area.例文帳に追加

ユーザ領域の書き込み／読み出し周波数に依存するヘッドや回路の不具合を検出する自己診断テストを行うことを課題とする。 - 特許庁