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self-testsとは 意味・読み方・使い方
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「self-tests」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 11件
All of tests may be combined with self test (POST) when turning on the power supply.例文帳に追加
すべての試験を電源投入時自己診断（ＰＯＳＴ）に組み合わせてもよい。 - 特許庁
Since 2010, Google has conducted many tests on its self-driving cars with visually challenged persons behind the wheel.発音を聞く 例文帳に追加
グーグルは2010年以来，目の不自由な人が運転席に座った形で自動走行車の試験を数多く行ってきた。 - 浜島書店 Catch a Wave
To provide a microcomputer capable of carrying out various self-tests including a function of a security circuit without providing a pad for testing on a chip.例文帳に追加
チップ上に試験用のパッドを設けずに、セキュリティ回路の機能を含む各種の自己試験ができるマイクロコンピュータを提供する。 - 特許庁
To provide a method and apparatus for performing temperature increasing tests of a self-cooling type gas-insulated transformer which does not use a carrier base.例文帳に追加
架台を使用しない自冷式ガス絶縁変圧器の温度上昇試験を行う方法および装置を提供する。 - 特許庁
To reduce the execution time for a self-diagnosi tests in IC test and at the same time, reduce the execution time for the entire IC test.例文帳に追加
ＩＣ試験における自己診断試験に係る実行時間を短縮するとともに、ＩＣ試験全体に係る実行時間を短縮することである。 - 特許庁
The diagnostic system reads device specific information from a device connected to the IEEE 1394 network and/or instructs the device to perform device self tests and reads the result of the self tests from the device.例文帳に追加
ＩＥＥＥ１３９４インタフェースの低レベル通信プロトコルを用いて、ＩＥＥＥ１３９４ネットワークに接続された機器から機器固有の情報を読み出し、及び／又は機器に対して自己試験を実行するように命令し、自己試験の結果を機器から読み出す。 - 特許庁
The circuit is provided with a plurality of memories 10a to 10n which can store data, a built-in self-test circuit 20 performing tests of a plurality of memories, and an analyzing circuit 30 analyzing a test result of the built-in self-test circuit.例文帳に追加
データを記憶可能な複数のメモリ１０ａ〜１０ｎと、複数のメモリのテストを行う組込自己テスト回路２０と、組込自己テスト回路のテスト結果を解析する解析回路３０と、を備えている。 - 特許庁
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「self-tests」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 11件
To provide a built-in self-test(BIST) system that tests normality of data transmission at a payload level in a satellite communication system and of a communication satellite in the system.例文帳に追加
衛星通信システムおよびシステム内の通信衛星のペイロード・レベルにおいて、データ伝送の正常性を検査する内部自己検査（ＢＩＳＴ）システムを提供する。 - 特許庁
A semiconductor integrated circuit is provided with a memory section (5) which has a plurality of memory banks (BNK0 to BNK3) and is accessed by specifying an X address and an Y address and a self-test section (3) which tests the memory section by responding to an instruction made by a command.例文帳に追加
半導体集積回路は、複数のメモリバンク（ＢＮＫ０〜ＢＮＫ３）を有し、バンクアドレス、Ｘアドレス及びＹアドレスを指定してアクセスされるメモリ部（５）と、コマンドによる指示に応答して前記メモリ部をテストするセルフテスト部（３）を有する。 - 特許庁
A self-organizing thin film 2 having high hygrophobic properties is formed on a penetrator surface for an ultra-fine hardness tester comprising materials with a sample surface 1, or diamond, or diamond structure as a keynote, and surface energy on the sample surface or penetrator surface is reduced, thus performing ultra-fine hardness tests.例文帳に追加
試料表面１、又はダイヤモンド若しくはダイヤモンド構造を基調とした材料から成る超微小硬さ試験機用の圧子表面に、疎水性の高い自己組織化薄膜２を形成し、試料表面若しく圧子表面の表面エネルギを低下させて超微小硬さ試験を行う。 - 特許庁
To provide an ultrasonic diagnostic apparatus for detecting a failure or abnormality of hardware in a period shorter than a diagnostic cycle by the ultrasonic diagnostic apparatus itself detecting a state that self-diagnosis is executable to execute tests successively even in an activation state of the apparatus.例文帳に追加
装置を起動している状態でも、超音波診断装置自体が自己診断を実行可能な状態を検知しテストを逐次実行することで、診断周期よりも短い期間で、ハードウェアの故障や異常を検出する超音波診断装置を提供する。 - 特許庁
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