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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > JST科学技術用語日英対訳辞書 > small angle X‐ray scatteringの意味・解説 

small angle X‐ray scatteringの英語

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「small angle X‐ray scattering」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 32



例文

REFLECTED X-RAY SMALL ANGLE SCATTERING DEVICE例文帳に追加

反射X線小角散乱装置 - 特許庁

X-RAY REFLECTANCE MEASUREMENT INCLUDING SMALL ANGLE SCATTERING MEASUREMENT例文帳に追加

小角散乱測定を含むX線反射率測定 - 特許庁

To provide a small angle/wide angle X-ray measuring device capable of measuring simultaneously small angle X-ray scattering and wide angle X-ray scattering, and improving measurement accuracy of the wide angle X-ray scattering.例文帳に追加

小角X線散乱と広角X線散乱とを同時に測定できると共に、広角X線散乱の測定精度を向上できる小角広角X線測定装置を提供する。 - 特許庁

MEASUREMENT RESULT DISPLAY METHOD FOR SUPER-SMALL-ANGLE X-RAY SCATTERING MEASUREMENT, AND ANALYZING METHOD OF ORIENTATION BASED ON ULTRA-SMALL-ANGLE X-RAY SCATTERING MEASUREMENT例文帳に追加

超小角X線散乱測定の測定結果表示方法、及び超小角X線散乱測定に基づく配向度の解析方法 - 特許庁

X-RAY OPTICAL DEVICE FOR SMALL ANGLE SCATTERING MEASUREMENT AND MULTILAYER FILM MIRROR例文帳に追加

小角散乱測定用のX線光学装置と多層膜ミラー - 特許庁

(2) The half-width angle of equatorial direction in small angle X-ray scattering measurement is2.5°.例文帳に追加

(2)小角X線散乱測定における赤道方向の半価幅のなす角が2.5度以下。 - 特許庁

例文

EVALUATION METHOD FOR RATE OF CHANGE OF STRESS IN ORIENTED FILM BY USING SMALL-ANGLE X-RAY SCATTERING METHOD例文帳に追加

小角X線散乱法を用いる延伸フィルムの応力変化率評価方法 - 特許庁

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Weblio英和対訳辞書での「small angle X‐ray scattering」の英訳

Small-angle X-ray scattering

Weblio英和対訳辞書はプログラムで機械的に意味や英語表現を生成しているため、不適切な項目が含まれていることもあります。ご了承くださいませ。

ウィキペディア英語版での「small angle X‐ray scattering」の英訳

Small-angle X-ray scattering

出典:『Wikipedia』 (2011/06/24 10:18 UTC 版)

英語による解説
ウィキペディア英語版からの引用

「small angle X‐ray scattering」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 32



例文

To provide a method of measuring small angle X-ray scattering for a thin film sample which can be performed by a small angle X-ray scattering device while the sample is fixed.例文帳に追加

試料を固定しながら、小角X線散乱装置により実現可能な、薄膜状の試料に対する小角X線散乱の測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an analyzing method of the orientation based on ultra-small-angle X-ray scattering measurements capable of easily and accurately evaluating the crystallinity of the orientation sample, by using an X-ray small-angle measuring device of a laboratory level.例文帳に追加

実験室レベルのX線小角測定装置を用いて配向性試料の結晶性を簡単且つ正確に評価できる超小角X線散乱測定に基づく配向度の解析方法を提供する。 - 特許庁

The silica is characterized in that the profile obtained by the Guinier plot for small angle X-ray scattering spectra (X-ray scattering intensity-q^2 value) shows no inflection point in the region of ≤6×10^-3(Å^-2) of the q^2 value.例文帳に追加

小角X線散乱スペクトルのギニエプロット(X線散乱強度−q^2値)で得られるプロフィールにおいて、q^2値が6×10^−3(Å^−2)以下の領域には変曲点が存在しないことを特徴とする。 - 特許庁

The silica is characterized in that the profile obtained by the Guinier plot for small angle X-ray scattering spectra (X-ray scattering intensity -q^2 value) shows no inflection point in the region of ≤6×10^-3 (Å^-2) of the q^2 value.例文帳に追加

小角X線散乱スペクトルのギニエプロット(X線散乱強度−q^2値)で得られるプロフィールにおいて、q^2値が6×10^-3(Å^-2)以下の領域には変曲点が存在しないことを特徴とする。 - 特許庁

(1) The angle of half- width of maximum peak strength in azimuth scan is60° in small-angle X-ray scattering measurement.例文帳に追加

(1)小角X線散乱測定における方位角スキャンの最大ピーク強度の半価幅のなす角が60度以上。 - 特許庁

To provide an apparatus capable of easily performing measurement of small angle scattering, X-ray diffraction, or reflectance by use of one apparatus.例文帳に追加

一台の装置で、小角散乱、X線回折、反射率測定等を容易に行える装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a system for measurement for a sample combined with an X-ray reflectance and small angle scattering.例文帳に追加

X線反射率と小角X線散乱とを組み合わせた測定を試料に行う方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

例文

To provide method and system for generating X-ray beam which reduces beam divergence of X-rays used for small angle X-ray scattering application.例文帳に追加

本発明は、小角X線散乱用途に使用するX線ビームのビーム発散を減少させるX線ビームを生成する方法及び装置を提供する。 - 特許庁

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