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surface x-ray diffractionとは 意味・読み方・使い方
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「surface x-ray diffraction」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 121件
MEASURING METHOD FOR METAL SURFACE OXIDE AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加
金属材表面酸化物の測定方法およびX線回折装置 - 特許庁
When the surface layer is subjected to X-ray diffraction, a diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane is observed.例文帳に追加
表層のX線回折により、(111)結晶面に対応した回折ピークが観察される。 - 特許庁
When the integrated intensity of X-ray diffraction of a (220) plane on the inner surface of the electrode is I(220) and the integrated intensity of X-ray diffraction of a (111) plane is I(111), the electrode satisfies I(220)/I(111)≥0.41.例文帳に追加
この電極の内面における(220)面のX線回折の積分強度をI(220)、(111)面のX線回折の積分強度をI(111)とするとき、この電極は、I(220)/I(111)≧0.41を満たす。 - 特許庁
Furthermore, a ratio of an X-ray diffraction peak on the surface (001) of fluorocarbon with respect to the X-ray diffraction peak of a surface (002) of the non-fluoride carbon component is 30 or larger and 50 or smaller.例文帳に追加
かつ、フッ化炭素の(001)面のX線回折ピークの、未フッ化の炭素成分の(002)面のX線回折ピークに対する比が30以上、50以下である。 - 特許庁
Further, the X-ray diffraction peak ratio between the ζ-phase and δ1 phase, (ζ/δ), is made to <0.2 or the area ratio of the ζ-phase in the surface layer is made to <10%.例文帳に追加
また、ζ相とδ_1相のX線回折ピーク比率(ζ/δ)が0.2未満、あるいは表層のζ相面積率が10%未満である。 - 特許庁
A surface 24A of a test specimen 24 is irradiated with X-ray and a strain of the test specimen 24 is measured from a diffraction angle 2θ of the diffracted X-ray transmitting through the test specimen 24.例文帳に追加
試験片24の表面24AにX線を照射し、試験片24を透過した回折X線の回折角2θから試験片24のひずみを測定する。 - 特許庁
Intensity (I) of a (200) plane obtained by X-ray diffraction of a rolled surface, after it is recrystallized through annealing satisfies I/I0<20, where (I0) is the intensity of the (200) plane obtained by X-ray diffraction of fine powder copper.例文帳に追加
焼鈍を行って再結晶組織にした後の圧延面のX線回折で求めた(200)面の強度(I)が、微粉末銅のX線回折で求めた(200)面の強度(I_0)に対し、 I/I_0<20である。 - 特許庁
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「surface x-ray diffraction」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 121件
To surely obtain an X-ray diffraction profile derived from a thin film formed on the surface of a base material having a periodic structure in which a crystal structure or a molecular structure is oriented in a specific direction, by the X-ray diffraction measurement.例文帳に追加
X線回折測定により、結晶構造または分子構造が特定方向に配向した周期構造を有した基材表面に形成された薄膜由来のX線回折プロファイルを確実に得る。 - 特許庁
The integrated intensity of X-ray diffraction on a rolled surface of the copper alloy satisfy the relations (1): 30≤(I/I_0{220})/(I/I_0{200})≤95 and (2) 0.36≤2×(I/I_0{111})+(I/I_0{311})≤0.48.例文帳に追加
(1)30≦(I/I_0{220})/(I/I_0{200})≦95、(2)0.36≦2×(I/I_0{111})+(I/I_0{311})≦0.48 - 特許庁
In the expression, I{420} represents an X-ray diffraction intensity of a crystal face {420} on the plate surface of the copper alloy plate material, and I_0{420} represents an X-ray diffraction intensity of the crystal face {420} of a standard powder of pure copper.例文帳に追加
I{420}/I_0{420}>1.0 ……(1) ここで、I{420}は当該銅合金板材の板面における{420}結晶面のX線回折強度、I_0{420}は純銅標準粉末の{420}結晶面のX線回折強度である。 - 特許庁
In the expression, β is an angle defined by an incident plane of the incident X-ray and one direction in a surface of the transparent support, and I is diffraction intensity at 2θ=8° in an X-ray diffraction chart measured at the angle β.例文帳に追加
上記式中、βは、入射するX線の入射面と前記透明支持体面内のある1方向とのなす角度であり、Iは、角度βで測定したX線回折チャートにおける2θ=8°での回折強度である。 - 特許庁
Next, by an in-plane method as one type of the X-ray diffraction method, the lattice surface interval of the horizontal surface direction of the thin film is measured, and distortion ε is determined.例文帳に追加
次に、X線回折法の一種であるin-plane法により、薄膜の水平面方向の格子面間隔を測定し、ひずみεを求める。 - 特許庁
Related to the coat 12, A/B is 1 or higher for an X-ray diffraction pattern, where A is a peak intensity on (111) surface while B is a peak intensity on (220) surface.例文帳に追加
皮膜12は,X線回折パターンにおける,(111)面のピーク強度をA,(220)面のピーク強度をBとした場合,A/Bが1以上である。 - 特許庁
Related to silicon carbide, A/B is 1 or higher for an X-ray diffraction pattern, where A is a peak intensity on (111) surface while B is a peak intensity on (220) surface.例文帳に追加
かつ,炭化珪素体は,X線回折パターンにおける,(111)面のピーク強度をA,(220)面のピーク強度をBとした場合,A/Bが1以上である。 - 特許庁
(Step 1) A X-ray diffraction pattern of a titanium surface is measured in an condition that an X-ray incident angle is maintained at a low angle of two degree or less, which is in an initial state before maintaining it in an atmospheric environment.例文帳に追加
(ステップ1)X線入射角度を2度以下の低角度に保った条件で大気環境中保持前である初期状態のチタン表面のX線回折図形の測定を行う。 - 特許庁
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