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surface X-ray scatteringとは 意味・読み方・使い方
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「surface X-ray scattering」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 12件
An X-ray shielding plate 51 is arranged on the back surface of the treatment X-ray image sensor 50 so as to absorb transmitted X-ray and scattered X-ray of the high energy treatment X-ray and reduces scattering of the X-ray.例文帳に追加
また、治療用Ｘ線画像センサ５０の裏面にＸ線遮蔽板５１が設けられ、治療用高エネルギーＸ線の透過Ｘ線と散乱Ｘ線を吸収し、Ｘ線の散乱を低減する。 - 特許庁
The intensity profile of X-ray CTR scattering reacts sensitively with the atom position on the crystal surface.例文帳に追加
Ｘ線ＣＴＲ散乱の強度プロファイルは、結晶表面の原子位置に敏感に反応する。 - 特許庁
X-rays 2a which the expanded to the longitudinal direction of a line focus are taken out by the monochromator 30, the X-ray scattering face of the monochromator 30 is crossed with the X-ray scattering face of the sample 3, and the surface 3a of the sample is irradiated with the X-rays 2a.例文帳に追加
そして、モノクロメータ３０によりラインフォーカスの長手方向に拡大したＸ線２ａを取り出するとともに、モノクロメータ３０のＸ線散乱面と試料３のＸ線散乱面とを交差させてＸ線２ａを試料表面３ａに照射する。 - 特許庁
To accurately detect mirror surface reflected X rays by attenuating a part of the intensity of X rays measured on the surface of a detector in a reflected X-ray small angle scattering device for measuring scattered X rays.例文帳に追加
散乱Ｘ線を測定する反射Ｘ線小角散乱装置において、検出器面上で測定されるＸ線の強度の一部を減衰させることにより、正確に鏡面反射Ｘ線を検出する。 - 特許庁
The back scattering X-rays X(12) pass through a circular slit 33 to be incident on the inner peripheral surface of an X-ray detection apparatus 40.例文帳に追加
そうすると後方散乱Ｘ線Ｘ（１２）が発生し、この後方散乱Ｘ線Ｘ（１２）は、円形スリット３３を通過して、Ｘ線検出装置４０の内周面に入射する。 - 特許庁
In the ventilation trunk 40, the heat is radiated from the radiator 16, and the leakage X-ray is attenuated by repeating absorption or scattering on the inner surface of the ventilation trunk 40.例文帳に追加
通風路４０では、放熱器１６から熱が放出され、漏洩Ｘ線は、通風路４０内面で吸収散乱を繰り返して減衰される。 - 特許庁
In the porous silica thin film, at least one scattering peak is present between a scattering angle (2θ) of 0.05-3° in the X-ray scattering measurement of the porous silica thin film, and the surface density of a silanol group is equal to or less than 2%.例文帳に追加
多孔性シリカ薄膜のＸ線散乱測定で、散乱角度（２θ）が０．０５〜３度の間に少なくとも１本以上の散乱ピークが存在し、かつ、シラノール基の面密度が２％以下であることを特徴とする多孔性シリカ薄膜。 - 特許庁
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「surface X-ray scattering」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 12件
The displacement of a crystal atom is determined by analyzing an intensity profile of X-ray CTR scattering appearing on both sides in the vertical direction on the surface of an X-ray diffraction peak, and the stress generated in the hetero interface between the crystal and the different kind of material is evaluated from the result.例文帳に追加
Ｘ線回折ピークの表面垂直方向両側に出現するＸ線ＣＴＲ散乱の強度プロファイルを解析して結晶原子の変位量を求め、その結果から結晶と異種物質とのヘテロ界面の生じる応力を評価する。 - 特許庁
This porous silica thin film is characterized in that a bridging coefficient is 70% or more, at least one or more scattering peaks exist within a scattering angle (2θ) of 0.5 to 3° in an X-ray scattering measurement, and the surface density of a silanol group is 2% or less.例文帳に追加
多孔性シリカ薄膜の架橋率が７０％以上であり、Ｘ線散乱測定で、散乱角度（２θ）が０．５〜３°の間に少なくとも１本以上の散乱ピークが存在し、かつ、シラノール基の面密度が２％以下であることを特徴とする多孔性シリカ薄膜。 - 特許庁
In the reflected X-ray small angle scattering device for irradiating the sample 5 on a substrate with X rays at a fine angle and measuring X rays scattered from the sample using a two-dimensional detector 6, an attenuation mechanism 7 for attenuating a part of the intensity of X rays measured on the surface of the detector 6.例文帳に追加
基板上の試料５に対してＸ線を微小角度で照射し、前記試料から散乱されるＸ線を２次元型の検出器６を用いて測定する反射Ｘ線小角散乱装置において、前記検出器６面上で測定されるＸ線の強度の一部を減衰させる減衰機構７を設ける。 - 特許庁
To provide a method and apparatus for imaging a two-dimensional electron density distribution and a nucleus scattering length density distribution on a surface, an interface and a specific depth position of a thin film and a multilayered film having nonuniform and different structure for every place in plane, by an X-ray reflectometry and neutron reflectometry.例文帳に追加
Ｘ線反射率法および中性子反射率法において、均一ではない、面内の場所ごとに異なる構造を持つ薄膜・多層膜について、表面や界面、特定深さ位置における２次元の電子密度分布および核散乱長密度分布を画像化する方法及びその装置を提供する。 - 特許庁
According to the present invention, the apparatus provides images of the two-dimensional electron density distribution and the nucleus scattering length density distribution on the surface, the interface and the specific depth position not using a method for making minute beams and performing an XY scan, but using beams having same size as those used in the regular X-ray reflectometry and the neutron reflectometry by algorithm of mathematical image reconstruction.例文帳に追加
本発明では、微小ビームを作製してＸＹスキャンを行う方法によらず、通常のＸ線反射率法および中性子反射率法において用いられるものと同じサイズのビームを用い、数学的な画像再構成のアルゴリズムによって、表面や界面、特定深さ位置における２次元の電子密度分布および核散乱長密度分布の画像が得られる装置を開発した。 - 特許庁
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