systems measuring deviceとは 意味・読み方・使い方

To provide a three-dimensional measuring device capable of improving measurement precision without using any telecentric optical systems.例文帳に追加

テレセントリック光学系を用いることなく、計測精度の向上を図ることのできる三次元計測装置を提供する。 - 特許庁

The position measuring device has a processor 17 computing each measuring timing of a plurality of the observation optical systems 12 and 14, and a control unit 16 independently controlling each of a plurality of the observation optical systems 12 and 14 according to each measuring timing.例文帳に追加

位置計測装置は、複数の観察光学系１２、１４の各々の計測タイミングを算出する演算処理部１７と、前記各々の計測タイミングに従って複数の観察光学系１２、１４の各々を独立して制御する制御部１６と、を備える。 - 特許庁

To provide a power measuring device capable of setting a direct current offset compensation operation individually for plural input systems.例文帳に追加

複数の入力系統について、個別に直流オフセット補償動作が設定できる電力測定装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a measuring device capable of performing common and easy operations of various interface systems.例文帳に追加

本発明の目的は、種々のインターフェースシステムに対して共通で簡単な操作を行うことのできる測定装置を提供することにある。 - 特許庁

To attain a method for evaluating dimension error of a manufacturing step by driving an MEMS (micro electro mechanical systems) device and measuring an error of resonance frequency.例文帳に追加

ＭＥＭＳデバイスを駆動させ、共振周波数の誤差を測定し、製造工程の寸法誤差を評価する方法を実現する。 - 特許庁

To provide a voltage measurement device capable of simply measuring voltages of two systems in a single-phase three-wire system, and to provide a power monitoring system using this voltage measurement device.例文帳に追加

単相三線式の２系統の電圧を簡単に測定することのできる電圧測定装置と、この電圧測定装置を使用した電力監視システムを提供する。 - 特許庁

To provide a direct insertion type optical measuring device capable of readily removing attached dust, without affecting measuring systems, particularly, with respect to optical systems, and of stably maintaining the removal function of adhered dust over a long term, even under high-temperature and high dust conditions.例文帳に追加

高温・高ダスト条件下においても、測定系特に光学系に対する影響を与えずに付着ダストの除去が容易にでき、かつ長期間安定的にダストの除去機能を維持することができる直挿式光学測定装置を提供すること。 - 特許庁

(1) After a processing region on a processing device is identified and coordinate systems of the measured data and the processing device are calibrated, using a noncontact shape-measuring means or a noncontact displacement-measuring means, the processing data are generated and the processing is implemented.例文帳に追加

（１）非接触の形状計測手段又は、非接触の変位計測手段を用いて，加工装置上での加工領域を特定し，計測データと加工装置の座標系を校正した後，加工データを作成し加工を実施する。 - 特許庁