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test algorithmとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 テストアルゴリズム
「test algorithm」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 31件
You design an algorithm, you test it out on a computer.例文帳に追加
アルゴリズムを設計し コンピューターにかけて - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
To provide a function for arbitrarily adding a test execution part without changing a test algorithm.例文帳に追加
テストアルゴリズムの変更無しでテスト実行部を任意に追加する機能を提供する。 - 特許庁
An algorithm identifying part 237 identifies the algorithm of the memory test on the basis of the test result obtained by the FAIL information analysis part 230.例文帳に追加
アルゴリズム特定部237は、FAIL情報解析部230によって取得された試験結果に基づいてメモリ試験のアルゴリズムを特定する。 - 特許庁
ALGORITHM PATTERN GENERATOR FOR MEMORY ELEMENT TEST, AND MEMORY TESTER USING SAME例文帳に追加
メモリ素子テストのためのアルゴリズムパターン生成器及びこれを用いたメモリテスタ - 特許庁
a genetic algorithm for automatic test pattern generation for large synchronous sequential circuits発音を聞く 例文帳に追加
大型同期順序回路向けテストパターン自動生成のための遺伝的アルゴリズム - コンピューター用語辞典
To provide an AD converter, using redundancy algorithm, that has simple constitution and is easy to test.例文帳に追加
簡単な構成で試験が容易な、冗長アルゴリズムを使用したAD変換器の実現。 - 特許庁
A test program generator 103 receiving the transformed test execution part description file 102-2 analyzes the received file, and inserts a test execution part program into a corresponding position of a test program 104 generated from a test condition 100 and a test algorithm 101.例文帳に追加
変換後のテスト実行部記述ファイル102‐2を受信したテストプログラムジェネレータ103は、これを解析し、テスト条件100とテストアルゴリズム101から生成したテストプログラム104の該当箇所にテスト実行部プログラムを挿入する。 - 特許庁
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「test algorithm」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 31件
To provide a semiconductor measuring system in which the algorithm of analyzing defect can be easily changed and test efficiency is high.例文帳に追加
不良解析のアルゴリズムを容易に変更可能で、テスト効率の高い半導体測定システムを提供する。 - 特許庁
A 1chipATPG executing means 110 produces a 1chipATPG test pattern 111 by using the conventional ATPG(automatic test pattern generating method) algorithm based on the new circuit information 102.例文帳に追加
1chipATPG実行手段110は、新回路情報102に基づき、従来のATPGアルゴリズムを用いて1chipATPGテストパタン111を生成する。 - 特許庁
To provide an efficient numerical algorithm for analyzing test sequence redundancy and efficiency in a digital integrated circuit (IC).例文帳に追加
ディジタル集積回路(IC)における試験シーケンス冗長性と効率を分析する効率的な数値アルゴリズムを提供する。 - 特許庁
To test all functions carried by a circuit having various operation algorithm processing functions of digital data such as an image processing circuit.例文帳に追加
画像処理回路のようなデジタルデータの各種演算アルゴリズム処理機能を有する回路を保有する全ての機能を試験する。 - 特許庁
To provide an algorithm pattern generator for a memory element test and enabling to optimize the constitution of a memory tester that includes address scrambling and data scrambling.例文帳に追加
アドレススクランブリング及びデータスクランブリングを含んでメモリテスタの構成を最適化できるメモリ素子テストのためのアルゴリズムパターン生成器を提供する。 - 特許庁
In the method and the device, defect and error in operations of VSLI simulation and a circuit are discriminated by forming the test and by using the test, and the performance is evaluated by using genetic algorithm.例文帳に追加
テストを生成し、該テストを使用して、VLSIシミュレーション及び回路の動作上の欠陥及び誤りを識別し、及び遺伝的アルゴリズムを使用して性能を評価する、方法及び装置。 - 特許庁
Moreover, a test item extracting part 13 receives the analytic result of the program analyzing part 11 and extracts the inspection item of the program A for each symbol of the algorithm chart.例文帳に追加
さらに、テスト項目抽出部13は、プログラム解析部11の解析結果を受け、アルゴリズムチャートのシンボルごとにプログラムAの検査項目を抽出する。 - 特許庁
To provide a built-in self test controller and a programmable method by which the selection and modification of an algorithm applied to a related memory to be tested are attainable.例文帳に追加
ビルト・イン・セルフ・テスト・コントローラと、関連するテストされるメモリに適用されるアルゴリズムの選択及び変更を可能にするプログラマブルな方法を提供する。 - 特許庁
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