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test and faultとは 意味・読み方・使い方
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「test and fault」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 135件
DELAY FAULT TEST QUALITY CALCULATING DEVICE AND METHOD, AND DELAY FAULT TEST PATTERN GENERATING DEVICE例文帳に追加
遅延故障テスト品質算出装置、遅延故障テスト品質算出方法、及び遅延故障テストパターン発生装置 - 特許庁
OPTICAL MEDIA CONVERTER DEVICE AND FAULT ISOLATION TEST METHOD例文帳に追加
光メディアコンバータ装置および障害切り分け試験方法。 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR FAULT TEST AND RECORDING MEDIUM WHERE FAULT TESTING METHOD IS RECORDED例文帳に追加
障害試験装置及び障害試験方法及び障害試験方法を記録した記録媒体 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND DELAY FAULT TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加
半導体集積回路装置及びその遅延故障テスト方法 - 特許庁
SELF-DIAGNOSTIC LOGICAL CIRCUIT AND DYNAMIC FAULT TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加
自己診断型論理回路及びその動的故障テスト方法 - 特許庁
MEDIA CONVERTER HAVING TEST MANGER, AND FAULT DETECTION SYSTEM AND METHOD例文帳に追加
テストマネージャ付きメディアコンバータ、障害検出システムおよび障害検出方法 - 特許庁
TEST METHOD FOR DETECTING LOCALITY FAULT ON SEMICONDUCTOR WAFER AND TEST SYSTEM USING THE SAME例文帳に追加
半導体ウエハ上の局所性不良を検出するテスト方法及びこれを用いるテストシステム - 特許庁
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「test and fault」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 135件
SOFTWARE FAULT MANAGEMENT DEVICE, TEST MANAGEMENT DEVICE AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加
ソフトウェアの障害管理装置、テスト管理装置、ならびにそれらのプログラム - 特許庁
To generate a fault list of a delay fault, a wire breaking fault, and a path delay fault which can be detected by a transient source current testing method with high observableness and a test pattern series.例文帳に追加
可観測性の高い過渡電源電流試験法により、検出可能な遅延故障、断線故障、パス遅延故障と又テストパターン系列との故障リストを生成する。 - 特許庁
MEDIA CONVERTER WITH TEST MANAGER, FAULT DETECTION METHOD, AND SYSTEM USING THE CONVERTER AND METHOD例文帳に追加
テストマネージャ付きメディアコンバータ、障害検出方法、およびそれを用いたシステム - 特許庁
The test control section A12 particularizes the suspicious fault location on the basis of a test result report frame from the test control section B22 and a test result of its own apparatus and informs a maintenance personnel about the result of particularization.例文帳に追加
試験制御部A12は試験制御部B22からの試験結果報告フレームと自装置の試験結果とを基に被疑箇所を特定し、保守者に通知する。 - 特許庁
To provide an information terminal test apparatus and an information terminal test system whereby a fault status of an information terminal can be obtained before a person is dispatched to a fault site.例文帳に追加
故障現場へ行く前に情報端末の故障状態を把握できる、情報端末試験装置及び情報端末試験システムを提供する。 - 特許庁
To relieve not only initial fault caused in a test but one part of accidental fault and abrasion fault caused in a user.例文帳に追加
検査において発生する初期故障だけでなく、ユーザにおいて発生する偶発故障や磨耗故障の一部を救済することを目的とする。 - 特許庁
To execute a self-test even during an operation and to improve a fault detection rate.例文帳に追加
運用中にもセルフテストを実行でき、故障検出率を向上できること。 - 特許庁
To provide a delay fault test quality calculation method for high-accuracy calculation test quality to delay fault, caused by physical defects and defectiveness that are to be the objects.例文帳に追加
対象とする物理欠陥・不良に起因する遅延故障に対するテスト品質を高精度に算出する遅延故障テスト品質算出方法を提供すること。 - 特許庁
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