unit under testとは 意味・読み方・使い方

To provide a power supply current measuring unit arranged on a semiconductor test system and capable of accurately measuring the power supply current of a device under test at a high speed.例文帳に追加

半導体試験システムに備えられ、被試験デバイスの電源電流を高速でかつ正確に測定できる電源電流測定ユニットを提供する。 - 特許庁

A test harness is a collection of software code and test data that runs the program unit under varying conditions, all the while monitoring the unit's behavior and outputs.発音を聞く 例文帳に追加

テストハーネスは、ソフトウェアコードの集まりで、プログラムユニットを動かすデータをさまざまな条件下でテストし、その間にユニットの動作と出力を監視します。 - NetBeans

Operation of the recording head 5 can be guaranteed under the state of unit recording head without requiring print test actually using toner.例文帳に追加

実際にトナーを用いた印字テストを行わなくても、記録ヘッド５単体の状態で動作保証が可能となる。 - 特許庁

The plurality of unit array wiring lines 21 and 22 are each connected to one of a plurality of devices under test 11 and 12.例文帳に追加

複数の単位アレイ配線２１，２２には、それぞれ、複数の被測定素子１１，１２のいずれか一つを接続する。 - 特許庁

The test mode control unit 22 notifies a diagnostic mode control unit 20 of a transmission condition under which ΔE becomes minimum, of a plurality of tested transmission conditions.例文帳に追加

テストモード制御部２２は、試した複数の送信条件の中でΔＥが最少となる送信条件を診断モード制御部２０に通知する。 - 特許庁

An engaging means 28 which keeps the test tape 30 under tension is integrated in the tape cartridge 10 at least on the storage unit 20.例文帳に追加

テスト・テープ３０を引っ張り下に保つ係止手段２８を保管ユニット２０においてテープ・カートリッジ１０に一体化させた。 - 特許庁

To provide a probe card which prevents deformation of its components such as a contact unit, etc., and performs a test under an excellent conducting condition.例文帳に追加

接触子ユニット等の構成部品の変形を防止し、良好な導通状態のもと試験を行い得るようにするプローブカード - 特許庁

This IC test system 10 carries out measurement tools 42A, 42B in a central control unit 20, and outputs measurement result files 44A, 44B being measurement results of devices under test by measurement conditions described in test programs 40A, 40B to a memory unit 22, together with the measurement conditions 48A, 48B.例文帳に追加

ＩＣテストシステム１０は、中央制御部２０にて測定ツール４２Ａ、４２Ｂを実行し、テストプログラム４０Ａ、４０Ｂに記述された測定条件で被検査デバイスを測定した結果である測定結果ファイル４４Ａ、４４Ｂを、測定条件４８Ａ、４８Ｂとともに記憶部２２に出力する。 - 特許庁