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wafer backsideとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 ウエハ裏面
「wafer backside」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 272件
WAFER BACKSIDE INSPECTION DEVICE例文帳に追加
ウエーハ裏面検査装置 - 特許庁
WAFER CARRIER AND WAFER-BACKSIDE INSPECTION METHOD USING THIS例文帳に追加
ウエハキャリアおよび、これを用いたウエハ裏面検査方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR WAFER BACKSIDE INSPECTION例文帳に追加
ウェーハ裏面検査装置及び検査方法 - 特許庁
To convey a wafer without coming into contact with the backside of the wafer after the backside is ground.例文帳に追加
裏面研削後のウェーハの裏面に接触することなしにウェーハを搬送する。 - 特許庁
INSPECTION METHOD FOR SILICON WAFER BACKSIDE PROJECTION AND PRODUCTION PROCESS OF SILICON WAFER例文帳に追加
シリコンウェーハ裏面の突起検査方法およびシリコンウェーハの製造方法 - 特許庁
PROCESS FOR WAFER BACKSIDE POLYMER REMOVAL, AND WAFER FRONT SIDE SCAVENGER PLASMA例文帳に追加
ウェハ背面重合体除去方法及びウェハ正面側捕捉プラズマ - 特許庁
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「wafer backside」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 272件
SEMICONDUCTOR WAFER SUCTION HOLDER AND SEMICONDUCTOR WAFER BACKSIDE GRINDER例文帳に追加
半導体ウェーハ吸着保持具及び半導体ウェーハ裏面研削装置 - 特許庁
PROCESS FOR WAFER BACKSIDE POLYMER REMOVAL WITH WAFER FRONT SIDE GAS PURGE例文帳に追加
ウェハ正面側ガスパージを用いたウェハ背面重合体除去方法 - 特許庁
It is also possible to ground the backside of the wafer, subsequently.例文帳に追加
その後、ウェーハの裏面を研削することも可能である。 - 特許庁
To effectively clean the whole backside of a wafer before exposure.例文帳に追加
露光前のウェハの裏面全面を効率よく洗浄する。 - 特許庁
BACKSIDE GAS DELIVERY SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR WAFER PROCESSING SYSTEM例文帳に追加
半導体ウェハ処理システムのための裏面ガス送出装置 - 特許庁
An apparatus includes: a backside wafer housing section 6 capable of housing a backside wafer 5 separating from a wafer 3 for products, in which a mirror plane polishing of a backside is carried out and a mirror plane degree of a front surface is polished to be higher than that of the backside; and a conveyance mechanism 2 which conveys the housed backside wafer 5 onto a stage 1.例文帳に追加
裏面を鏡面研磨するとともに表面を裏面より高い鏡面度に研磨した裏面ウェハ5を製品用ウェハ3とは別個に格納できる裏面ウェハ格納部6と、格納した裏面ウェハ5をステージ1上に搬送する搬送機構2とを備える。 - 特許庁
To provide a wafer processing method capable of flatly grinding the backside of a wafer with bumps.例文帳に追加
バンプ付ウェハの裏面を平坦に研削することができるウェハ処理方法を提供する。 - 特許庁
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ウエハ裏面
JST科学技術用語日英対訳辞書
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