「"電子顕微鏡試料"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

透過電子顕微鏡試料位置検出方法及び装置例文帳に追加

SAMPLE POSITION DETECTING METHOD AND DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過電子顕微鏡試料作製方法例文帳に追加

SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子線回折用試料および電子顕微鏡試料の製造方法例文帳に追加

SAMPLE FOR ELECTRON BEAM DIFFRACTION AND METHOD FOR PRODUCING ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE - 特許庁

ゼーベック効果（熱電材料）解析用電子顕微鏡試料ホルダ例文帳に追加

ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE HOLDER FOR SEEBECK EFFECT (THERMOELECTRIC MATERIAL) ANALYSIS - 特許庁

電子顕微鏡試料の超薄切片をグリッド孔に張る器具。例文帳に追加

TOOL FOR COVERING GRID HOLE WITH THIN SLICE OF ELECTRON MICROSCOPE SPECIMEN - 特許庁

電子顕微鏡試料支持用マイクログリッド及びその製造方法例文帳に追加

MICROGRID FOR SUPPORTING ELECTRON MICROSCOPIC SAMPLE AND ITS MANUFACTURE - 特許庁

電子顕微鏡試料の超薄切片をグリッドに載せる用具。例文帳に追加

DEVICE FOR PUTTING ON GRID ULTRA-THINLY SLICED PIECE OF SPECIMEN FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

集束イオンビーム加工方法およびそれを用いた透過型電子顕微鏡試料の作製方法例文帳に追加

FOCUSED ION BEAM PROCESSING METHOD, AND PREPARATION METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE USING IT - 特許庁

透過電子顕微鏡試料作製における電解研磨方法およびこれを利用する装置例文帳に追加

ELECTROLYTIC GRINDING METHOD IN PREPARATION OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND APPARATUS UTILIZING THE SAME - 特許庁

電子顕微鏡の検鏡時に、一次電子線の制御や二次電子の信号に悪影響を与えることなく、試料室内の真空度を従来よりも正確に表示することのできる電子顕微鏡試料室の真空度表示装置を提供する。例文帳に追加

To provide a vacuum display device for an electron microscope sample cell capable of more accurately displaying the degree of vacuum in the sample cell than before without giving poor effect on the control of a primary electron beam or a signal for secondary electrons during examination via an electron microscope. - 特許庁

雰囲気制御が可能な試料チャンバー２、試料チャンバー内に揮発性物質含有試料を導入する試料ホルダー１４、この保持された試料を観察するための走査電子顕微鏡、試料ホルダー１４に保持された試料をサンプリングするマニピュレータ、サンプリングされた試料を試料チャンバー２の外部に取り出すための試料ホルダー１５を具備する。例文帳に追加

The device comprises a sample chamber which enables atmosphere control, a sample holder 14 which introduces a volatile substance containing sample in the sample chamber, a scanning electron microscope for observing this sample held, a manipulator which samples the sample held in the sample holder 14, and a sample holder 15 for taking out the sample sampled to the outside of the sample chamber 2. - 特許庁