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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > "EMISSION SPECTROSCOPIC ANALYSIS"に関連した英語例文

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"EMISSION SPECTROSCOPIC ANALYSIS"を含む例文一覧と使い方

該当件数 : 9



例文

LASER EMISSION SPECTROSCOPIC ANALYSIS METHOD例文帳に追加

レーザ発光分光分析法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR LASER MULTISTAGE EXCITED EMISSION SPECTROSCOPIC ANALYSIS例文帳に追加

レーザ多段励起発光分光分析方法及びその装置 - 特許庁

GLOW DISCHARGE EMISSION SPECTROSCOPIC ANALYSIS DEVICE AND ANALYSIS METHOD例文帳に追加

グロー放電発光分光分析装置および分析方法 - 特許庁

GLOW DISCHARGE EMISSION SPECTROSCOPIC ANALYSIS DEVICE, AND ANALYSIS METHOD USING THE SAME例文帳に追加

グロー放電発光分光分析装置およびそれを用いる分析方法 - 特許庁

例文

QUANTITATIVE ANALYSIS OF ALUMINUM IN STEEL BY INDUCTIVELY COUPLED PLASMA EMISSION SPECTROSCOPIC ANALYSIS METHOD例文帳に追加

誘導結合プラズマ発光分光分析法による鋼中のアルミニウムの定量分析方法 - 特許庁


例文

To provide a glow discharge emission spectroscopic analysis device having inexpensive and simple constitution, which facilitates analyzing a sample that is not analyzed by a conventional glow discharge emission spectroscopic analysis device.例文帳に追加

安価で簡単な構成で従来のグロー放電発光分光分析装置では分析できなかった試料を容易に分析することができるグロー放電発光分光分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a glow discharge emission spectroscopic analysis device and an analysis method which can easily and accurately analyze the inner surface of a cylindrical sample.例文帳に追加

円筒形試料の内面の分析を簡単かつ正確に行えるグロー放電発光分光分析装置および分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for emission spectroscopic analysis capable of enhancing analyzing accuracy, while enabling analysis of an element which has an emission line in the low-wavelength region.例文帳に追加

低波長域に発光線を有する元素の分析を可能としつつ、分析精度の高精度化が可能な発光分光分析装置及び発光分光分析方法を提供する。 - 特許庁

例文

In this laminate including at least a pair of mutually contacting layers, a detection peak of 0.01 to 0.7 μm in terms of a full width at a half maximum, with regard to a depth in which an interface region of the mutually contacting layers is recognized when an element quantitative analysis in the depth direction by a glow discharge emission spectroscopic analysis process is performed.例文帳に追加

少なくとも1対の相接する層を有する積層体であって、グロー放電発光分光分析法による深さ方向の元素定量分析において、前記相接する層の界面領域が存在する深さに、半値全幅0.01〜0.7μmの検出ピークが認められる積層体。 - 特許庁

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