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「"Testing Method"」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > "Testing Method"に関連した英語例文

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"Testing Method"を含む例文一覧と使い方

該当件数 : 2142



例文

HIGH-PRESSURE GAS FATIGUE TESTING METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

高圧気体疲労試験方法及び装置 - 特許庁

BASE STATION APPARATUS AND BASE STATION TESTING METHOD例文帳に追加

基地局装置及び基地局試験方法 - 特許庁

FERROELECTRIC MEMORY DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加

強誘電体メモリ装置及び試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE, TESTING METHOD AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

試験装置、試験方法および記録媒体 - 特許庁

例文

CMOS-LSI TESTING METHOD AND DEVICE FOR IT例文帳に追加

CMOS−LSI試験方法及び装置 - 特許庁


例文

EXPLOSIBILITY TESTING METHOD FOR CONCRETE OF HIGH STRENGTH例文帳に追加

高強度コンクリートの爆裂性試験方法 - 特許庁

STRESS-TESTING METHOD AND APPARATUS OF SHELL STRUCTURE例文帳に追加

殻構造の応力試験方法及び装置 - 特許庁

ULTRASONIC DIAGNOSTIC EQUIPMENT AND ELEMENT TESTING METHOD例文帳に追加

超音波診断装置及び素子試験方法 - 特許庁

MATERIAL TESTING METHOD AND MATERIAL TESTING DEVICE例文帳に追加

材料試験方法及び材料試験装置 - 特許庁

例文

TIRE CURBSTONE RUN-OVER TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

タイヤ縁石乗り越し試験方法及び装置 - 特許庁

例文

DRAIN PIPE LEAKAGE TESTING METHOD AND JIG例文帳に追加

排水管の漏洩試験方法及び治具 - 特許庁

LINE TESTING DEVICE AND LINE TESTING METHOD例文帳に追加

回線試験装置および回線試験方法 - 特許庁

IMAGE INPUTTING DEVICE AND FAILURE TESTING METHOD例文帳に追加

画像入力装置及び欠陥検査方法 - 特許庁

DNA TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

DNA検査方法及びDNA検査装置 - 特許庁

TESTING METHOD OF AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR CIRCUIT例文帳に追加

半導体回路のテスト方法および装置 - 特許庁

TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

電子部品の試験方法および試験装置 - 特許庁

FLAT-BELT TYPE TIRE TESTING MACHINE AND TESTING METHOD例文帳に追加

フラットベルト式タイヤ試験機及び試験方法 - 特許庁

JUNCTION PART TESTING METHOD IN WATER SEALING SHEET例文帳に追加

遮水シートにおける接合部試験方法 - 特許庁

MAIN SIGNAL LOAD TESTING DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加

主信号負荷試験装置及び試験方法 - 特許庁

LEAK TESTING DEVICE AND LEAK TESTING METHOD例文帳に追加

漏洩試験装置、および漏洩試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体装置および半導体試験方法 - 特許庁

NON-CONTACT CONTINUITY TESTING METHOD DEVICE例文帳に追加

非接触導通検査方法及びその装置 - 特許庁

TEST SYSTEM, TESTER AND TESTING METHOD例文帳に追加

試験システムおよび試験器および試験方法 - 特許庁

SLIDING TESTING APPARATUS AND SLIDING TESTING METHOD例文帳に追加

摺動試験装置および摺動試験方法 - 特許庁

SIMULATION TESTING METHOD AND APPARATUS OF TRAIN TRAVEL例文帳に追加

列車走行の模擬試験方法及び装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体検査方法および半導体装置 - 特許庁

He LEAK TESTING METHOD OF VACUUM HEAT INSULATING PIPING例文帳に追加

真空断熱配管のHeリーク試験法 - 特許庁

ELECTROLYTE LEAKAGE TESTING DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加

電解液漏れ検査装置および検査方法 - 特許庁

COATING FILM TESTING METHOD AND COATING FILM TESTING APPARATUS例文帳に追加

塗膜検査方法及び塗膜検査装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置およびその検査方法 - 特許庁

SOCKET TESTING METHOD AND SOCKET TESTING TOOL例文帳に追加

ソケットの検査方法及びソケットの検査ツール - 特許庁

SPECIMEN TESTING METHOD AND DYNAMO CONTROLLER例文帳に追加

供試体試験方法およびダイナモ制御装置 - 特許庁

CORROSION TESTING DEVICE AND CORROSION TESTING METHOD例文帳に追加

腐食試験装置および腐食試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND TESTING CIRCUIT FOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路のテスト方法およびテスト回路 - 特許庁

BREAKING STRENGTH TESTING METHOD FOR GAS HYDRATE PELLET例文帳に追加

ガスハイドレートペレットの破壊強度の試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD OF MAGNETIC HEAD, AND MAGNETIC HEAD TESTER例文帳に追加

磁気ヘッドの検査方法および磁気ヘッドテスタ - 特許庁

UNINTERRUPTIBLE POWER SUPPLY AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

無停電電源装置及びその試験方法 - 特許庁

WATER DETECTING SHEET AND HEAT-SEALED FACE TESTING METHOD例文帳に追加

水検知シートと熱融着面検査方法 - 特許庁

TESTING METHOD OF OSCILLATOR AND TESTING DEVICE FOR OSCILLATOR例文帳に追加

発振器試験方法・発振器試験装置 - 特許庁

RADIO BASE STATION TESTING METHOD AND TESTER例文帳に追加

無線基地局試験方法及び試験装置 - 特許庁

UNINTERRUPTIBLE POWER SUPPLY AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

無停電電源装置およびその試験方法 - 特許庁

CRITICALITY ALARMING DEVICE AND TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

臨界警報装置およびその試験方法 - 特許庁

YARN ABRASION TESTING METHOD AND MACHINE例文帳に追加

糸の磨耗試験方法及び糸磨耗試験機 - 特許庁

BEARING TESTING DEVICE AND BEARING TESTING METHOD例文帳に追加

軸受試験装置および軸受試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD FOR ELEVATOR EMERGENCY CALL DEVICE例文帳に追加

エレベーター用非常通話装置の試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD FOR CHLORIDE ION DIFFUSION OF CONCRETE例文帳に追加

コンクリートの塩化物イオン拡散試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置及びその試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置およびその試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND TEST BOARD FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加

半導体素子のテスト方法及びテスト基板 - 特許庁

例文

CAN LID TESTING METHOD AND CAN LID TESTING DEVICE例文帳に追加

缶蓋検査方法及び缶蓋検査装置 - 特許庁




  
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