1153万例文収録!

「"Testing Method"」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索


小窓モード

プレミアム

ログイン
設定

設定

Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > "Testing Method"に関連した英語例文

セーフサーチ:オン

不適切な検索結果を除外する

不適切な検索結果を除外しない

セーフサーチについて

"Testing Method"を含む例文一覧と使い方

該当件数 : 2141



例文

SOCKET, INSPECTION EQUIPMENT HAVING SOCKET, AND TESTING METHOD例文帳に追加

ソケット及びこれを有する検査装置及び方法 - 特許庁

CONFIGURATION MANAGEMENT TESTING METHOD AND PROGRAM FOR SERVER SYSTEM例文帳に追加

サーバシステムの構成管理試験方法及びプログラム - 特許庁

OPTICAL LINE TESTING SYSTEM AND OPTICAL LINE TESTING METHOD例文帳に追加

光線路試験システム、及び光線路試験方法 - 特許庁

FILM EVALUATION TESTER AND FILM EVALUATION TESTING METHOD例文帳に追加

皮膜評価試験機及び皮膜評価試験方法 - 特許庁

例文

LOOP TESTING METHOD OF MEDIA CONVERTER, AND TRANSMISSION SYSTEM例文帳に追加

メディアコンバータのループ試験方法、および伝送システム - 特許庁


例文

WEB LOAD TESTING METHOD AND WEB LOAD TESTING PROGRAM例文帳に追加

ウェブ負荷試験方法及びウェブ負荷試験プログラム - 特許庁

ELECTROMAGNETIC RELAY TESTER AND ELECTROMAGNETIC RELAY TESTING METHOD例文帳に追加

電磁リレ—試験装置および電磁リレ—の試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD OF POLYMER ELECTROLYTE TYPE FUEL CELL例文帳に追加

高分子電解質型燃料電池の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体装置および半導体装置のテスト方法 - 特許庁

例文

DEVICE TESTING MECHANISM, HANDLER, AND TESTING METHOD OF DEVICE例文帳に追加

デバイス試験機構、ハンドラおよびデバイスの試験方法 - 特許庁

例文

MULTIPOLAR CONNECTOR CONTINUITY TESTING DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

多極コネクタ用導通検査器および検査方法 - 特許庁

DUPLEX BUS CONFIGURATION SYSTEM AND COMMUNICATION/TESTING METHOD例文帳に追加

二重化バス構成システムおよび通信・試験方法 - 特許庁

PROBE TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR WAFER, AND PROBE CARD例文帳に追加

プローブ試験方法と半導体ウェハ及びプローブカード - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体デバイス及び半導体デバイスの試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置及び半導体装置のテスト方法 - 特許庁

BRAKE TESTING DEVICE FOR ELEVATOR AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

エレベータのブレーキ試験装置及びその試験方法 - 特許庁

TFT ARRAY AND ITS TESTING METHOD, TESTING DEVICE例文帳に追加

TFTアレイおよびその試験方法、試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS AC SPECIFICATION TESTING METHOD例文帳に追加

半導体装置及びそのACスペック検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER TESTING DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体ウエハ試験装置およびその試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加

半導体試験装置および半導体試験方法 - 特許庁

IC-TESTING APPARATUS, CONTROL SOFTWARE, AND TESTING METHOD例文帳に追加

IC試験装置、制御ソフトウェア、及び試験方法 - 特許庁

DATA DAMAGE TESTING METHOD FOR HIERARCHICAL STORAGE SYSTEM例文帳に追加

階層的記憶システム用のデータ破損試験方法 - 特許庁

OPTICAL PATH TESTING DEVICE AND OPTICAL PATH TESTING METHOD例文帳に追加

光線路試験装置及び光線路試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD, DEVICE, AND PROGRAM FOR COMPUTER DEVICE例文帳に追加

コンピュータ装置の試験方法及び装置及びプログラム - 特許庁

ACCELERATED EXPOSURE TESTING METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

促進暴露試験方法および促進暴露試験装置 - 特許庁

SMALL-SIZED MATERIAL TESTING APPARATUS AND MATERIAL TESTING METHOD例文帳に追加

小型材料試験装置および材料試験方法 - 特許庁

CRACK DEVELOPMENT TESTING METHOD AND CRACK DEVELOPMENT TESTING MACHINE例文帳に追加

き裂進展試験方法およびき裂進展試験装置 - 特許庁

DISK STORAGE DEVICE, HEAD AMPLIFIER AND HEAD TESTING METHOD例文帳に追加

ディスク記憶装置、ヘッドアンプ装置及びヘッドテスト方法 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC PART SUBSTRATE AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

電子部品基板の試験装置および試験方法 - 特許庁

ACTIVE MATRIX DISPLAY AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

アクティブマトリクス型の表示装置およびその検査方法 - 特許庁

ADJUSTMENT TESTING METHOD FOR DIGITAL COMMUNICATION EQUIPMENT AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

デジタル通信機器の調整試験方法及び装置 - 特許庁

PENETRATION OR CONSISTENCY TESTER AND TESTING METHOD例文帳に追加

針入度またはちょう度試験器および試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TESTING METHOD FOR ELASTIC CONTACT TERMINAL例文帳に追加

弾性接触端子の試験装置及び試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY ELEMENT, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

液晶表示素子の検査方法、及び検査装置 - 特許庁

HORIZONTAL PENETRATION TESTING DEVICE AND PENETRATION TESTING METHOD例文帳に追加

横方向貫入試験器及び貫入試験方法 - 特許庁

LIFE TESTING METHOD AND DEVICE FOR INDUSTRIAL ROBOT例文帳に追加

産業用ロボットの寿命測定方法および装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTER AND TESTING METHOD USING IT例文帳に追加

半導体試験装置及びそれを用いた試験方法 - 特許庁

ENDOTOXIN TESTING METHOD, AND TREATING METHOD OF CULTURE例文帳に追加

エンドトキシン試験方法及び培養物の処理方法 - 特許庁

CIRCUIT PATTERN TESTER AND CIRCUIT PATTERN TESTING METHOD例文帳に追加

回路パターン検査装置及び回路パターン検査方法 - 特許庁

ELECTRONIC COMPONENT TESTING METHOD AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING APPARATUS例文帳に追加

電子部品試験方法及び電子部品試験装置 - 特許庁

TESTING METHOD AND APPARATUS OF FUNCTION IN FINE STRUCTURE ELEMENT例文帳に追加

微細構造素子の機能の試験方法及び装置 - 特許庁

PLASMA PROCESSOR, AND FLOW DIVIDING RATIO TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

プラズマ処理装置及びその分流比検定方法 - 特許庁

LEAKAGE TESTING METHOD FOR DRAIN PIPE AND TEST JIG例文帳に追加

排水管の漏洩試験方法及び試験用治具 - 特許庁

APPARATUS FOR AUTOMATICALLY CREATING CONTROL PROGRAM AND TESTING METHOD PLAN例文帳に追加

制御プログラム及び試験方案自動作成装置 - 特許庁

AUTOMATIC LOAD TESTING DEVICE AND AUTOMATIC LOAD TESTING METHOD例文帳に追加

自動負荷試験装置および自動負荷試験方法 - 特許庁

OUTPUT CIRCUIT AND DRIVE CAPABILITY TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

出力回路及びそのドライブ能力テスト方法。 - 特許庁

CHROMIUM PLATED PRODUCT, AND PRODUCTION METHOD AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

クロムめっき製品および製造方法、検査方法 - 特許庁

MCM, MCM-MANUFACTURING METHOD AND MCM-TESTING METHOD例文帳に追加

MCMおよびMCMの製造方法とテスト方法 - 特許庁

INFORMATION PROCESSING DEVICE, NETWORK TESTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

情報処理装置、ネットワーク試験方法、及びプログラム - 特許庁

例文

MEDIA CONVERTER, LOOP TESTING METHOD, AND LOOP TEST PROGRAM例文帳に追加

メディアコンバータ、ループ試験方法及びループ試験プログラム - 特許庁




  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2026 GRAS Group, Inc.RSS