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"Testing Method"を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 2141件
SOCKET, INSPECTION EQUIPMENT HAVING SOCKET, AND TESTING METHOD例文帳に追加
ソケット及びこれを有する検査装置及び方法 - 特許庁
CONFIGURATION MANAGEMENT TESTING METHOD AND PROGRAM FOR SERVER SYSTEM例文帳に追加
サーバシステムの構成管理試験方法及びプログラム - 特許庁
FILM EVALUATION TESTER AND FILM EVALUATION TESTING METHOD例文帳に追加
皮膜評価試験機及び皮膜評価試験方法 - 特許庁
LOOP TESTING METHOD OF MEDIA CONVERTER, AND TRANSMISSION SYSTEM例文帳に追加
メディアコンバータのループ試験方法、および伝送システム - 特許庁
ELECTROMAGNETIC RELAY TESTER AND ELECTROMAGNETIC RELAY TESTING METHOD例文帳に追加
電磁リレ—試験装置および電磁リレ—の試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加
半導体装置および半導体装置のテスト方法 - 特許庁
MULTIPOLAR CONNECTOR CONTINUITY TESTING DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
多極コネクタ用導通検査器および検査方法 - 特許庁
DUPLEX BUS CONFIGURATION SYSTEM AND COMMUNICATION/TESTING METHOD例文帳に追加
二重化バス構成システムおよび通信・試験方法 - 特許庁
PROBE TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR WAFER, AND PROBE CARD例文帳に追加
プローブ試験方法と半導体ウェハ及びプローブカード - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体デバイス及び半導体デバイスの試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置及び半導体装置のテスト方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS AC SPECIFICATION TESTING METHOD例文帳に追加
半導体装置及びそのACスペック検査方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR WAFER TESTING DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体ウエハ試験装置およびその試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加
半導体試験装置および半導体試験方法 - 特許庁
DATA DAMAGE TESTING METHOD FOR HIERARCHICAL STORAGE SYSTEM例文帳に追加
階層的記憶システム用のデータ破損試験方法 - 特許庁
OPTICAL PATH TESTING DEVICE AND OPTICAL PATH TESTING METHOD例文帳に追加
光線路試験装置及び光線路試験方法 - 特許庁
ACCELERATED EXPOSURE TESTING METHOD AND APPARATUS例文帳に追加
促進暴露試験方法および促進暴露試験装置 - 特許庁
SMALL-SIZED MATERIAL TESTING APPARATUS AND MATERIAL TESTING METHOD例文帳に追加
小型材料試験装置および材料試験方法 - 特許庁
CRACK DEVELOPMENT TESTING METHOD AND CRACK DEVELOPMENT TESTING MACHINE例文帳に追加
き裂進展試験方法およびき裂進展試験装置 - 特許庁
DISK STORAGE DEVICE, HEAD AMPLIFIER AND HEAD TESTING METHOD例文帳に追加
ディスク記憶装置、ヘッドアンプ装置及びヘッドテスト方法 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC PART SUBSTRATE AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加
電子部品基板の試験装置および試験方法 - 特許庁
ACTIVE MATRIX DISPLAY AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
アクティブマトリクス型の表示装置およびその検査方法 - 特許庁
ADJUSTMENT TESTING METHOD FOR DIGITAL COMMUNICATION EQUIPMENT AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加
デジタル通信機器の調整試験方法及び装置 - 特許庁
PENETRATION OR CONSISTENCY TESTER AND TESTING METHOD例文帳に追加
針入度またはちょう度試験器および試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE AND TESTING METHOD FOR ELASTIC CONTACT TERMINAL例文帳に追加
弾性接触端子の試験装置及び試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY ELEMENT, AND TESTING DEVICE例文帳に追加
液晶表示素子の検査方法、及び検査装置 - 特許庁
HORIZONTAL PENETRATION TESTING DEVICE AND PENETRATION TESTING METHOD例文帳に追加
横方向貫入試験器及び貫入試験方法 - 特許庁
LIFE TESTING METHOD AND DEVICE FOR INDUSTRIAL ROBOT例文帳に追加
産業用ロボットの寿命測定方法および装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTER AND TESTING METHOD USING IT例文帳に追加
半導体試験装置及びそれを用いた試験方法 - 特許庁
ELECTRONIC COMPONENT TESTING METHOD AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING APPARATUS例文帳に追加
電子部品試験方法及び電子部品試験装置 - 特許庁
LEAKAGE TESTING METHOD FOR DRAIN PIPE AND TEST JIG例文帳に追加
排水管の漏洩試験方法及び試験用治具 - 特許庁
APPARATUS FOR AUTOMATICALLY CREATING CONTROL PROGRAM AND TESTING METHOD PLAN例文帳に追加
制御プログラム及び試験方案自動作成装置 - 特許庁
OUTPUT CIRCUIT AND DRIVE CAPABILITY TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加
出力回路及びそのドライブ能力テスト方法。 - 特許庁
CHROMIUM PLATED PRODUCT, AND PRODUCTION METHOD AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加
クロムめっき製品および製造方法、検査方法 - 特許庁
INFORMATION PROCESSING DEVICE, NETWORK TESTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
情報処理装置、ネットワーク試験方法、及びプログラム - 特許庁
MEDIA CONVERTER, LOOP TESTING METHOD, AND LOOP TEST PROGRAM例文帳に追加
メディアコンバータ、ループ試験方法及びループ試験プログラム - 特許庁
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