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「"Testing Method"」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > "Testing Method"に関連した英語例文

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"Testing Method"を含む例文一覧と使い方

該当件数 : 2141



例文

TESTING EQUIPMENT, TERMINAL EQUIPMENT, AND TESTING METHOD例文帳に追加

試験装置及び端末装置及び試験方法 - 特許庁

WEATHERING LIGHT TESTING METHOD AND WEATHERING LIGHT TESTING MACHINE例文帳に追加

耐候光試験方法及び耐候光試験機 - 特許庁

SUPPLY ARTICLE TESTING SYSTEM AND SUPPLY ARTICLE TESTING METHOD例文帳に追加

入荷検品システム及び入荷検品方法 - 特許庁

CONNECTOR, AND CONDUCTION TESTING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

コネクタ及びコネクタにおける導通検査方法 - 特許庁

例文

DURABLE TESTING METHOD AND DURABLE TESTING APPARATUS例文帳に追加

耐久試験方法および耐久試験装置 - 特許庁


例文

SIMPLIFIED-TYPE FIELD SHEARING TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

簡易型現場せん断試験方法及び装置 - 特許庁

THERMAL DEGRADATION EVALUATING/TESTING METHOD OF PNEUMATIC TIRE例文帳に追加

空気入りタイヤの熱劣化評価試験方法 - 特許庁

INTERNAL PRESSURE TESTING MACHINE AND INTERNAL PRESSURE TESTING METHOD例文帳に追加

内圧試験装置および内圧試験方法 - 特許庁

ABRASION TESTING METHOD OF PRINTING SURFACE AND GLOSSY PAPER例文帳に追加

印刷面の摩耗試験方法及び光沢紙 - 特許庁

例文

ICEBALL LAUNCHER AND HAILSTORM TESTING METHOD例文帳に追加

氷球発射装置および降雹試験方法 - 特許庁

例文

IMPACT TESTING METHOD AND IMPACT TESTING DEVICE例文帳に追加

衝撃試験方法および衝撃試験装置 - 特許庁

TESTING METHOD AND TESTER FOR SEMICONDUCTOR COMPONENT例文帳に追加

半導体部品の試験方法及び試験装置 - 特許庁

MEMBRANE TANK AND LEAK TESTING METHOD OF MEMBRANE TANK例文帳に追加

メンブレンタンク、及び、メンブレンタンクの漏れ試験方法 - 特許庁

TIRE BALANCE TESTING METHOD AND TIRE BALANCE TESTING MACHINE例文帳に追加

タイヤバランス試験方法及びタイヤバランス試験機 - 特許庁

VESSEL FOR BLOOD TEST AND BLOOD TESTING METHOD例文帳に追加

血液検査用容器及び血液検査方法 - 特許庁

TESTING APPARATUS, TESTING METHOD AND TESTING PROGRAM例文帳に追加

試験装置、試験方法および試験用プログラム - 特許庁

ENCODER TESTING METHOD AND MAGNETIZING DEVICE FOR TEST例文帳に追加

エンコーダの検査方法及び検査用着磁装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD例文帳に追加

半導体装置の試験システム及び試験方法 - 特許庁

COMMUNICATION SYSTEM OF ELEVATOR AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

エレベーターの通信システム及びその試験方法 - 特許庁

TESTING APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR WAFER, AND TESTING METHOD例文帳に追加

半導体ウエハの試験装置及び試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加

半導体テスト装置及び半導体テスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路及びその試験方法 - 特許庁

ANALOG/DIGITAL CONVERSION CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

アナログ/デジタル変換回路およびそのテスト方法 - 特許庁

ELECTROLUMINESCENCE PANEL AND PIXEL CURRENT TESTING METHOD例文帳に追加

エレクトロルミネセンスパネル及び画素電流テスト方法 - 特許庁

PNEUMATIC TIRE-TESTING METHOD AND TESTER例文帳に追加

空気入りタイヤの試験方法および試験装置 - 特許庁

X-RAY MEASUREMENT APPARATUS AND SUBJECT TESTING METHOD例文帳に追加

X線測定装置及び検体検査方法 - 特許庁

CIRCUIT BLOCK TESTING METHOD IN INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路における回路ブロック試験方法 - 特許庁

RUBBER ROLL TESTING DEVICE, AND RUBBER ROLL TESTING METHOD例文帳に追加

ゴムロール試験装置およびゴムロール試験方法 - 特許庁

INTERNAL PRESSURE TESTING DEVICE AND INTERNAL PRESSURE TESTING METHOD例文帳に追加

内圧試験装置および内圧試験方法 - 特許庁

FRACTURE MECHANICS TESTING METHOD AND TEST OBJECT THEREFOR例文帳に追加

破壊力学的試験方法及びその試験体 - 特許庁

TESTING EQUIPMENT AND TESTING METHOD FOR SIGNAL PROCESSOR例文帳に追加

信号処理装置のテスト装置及びテスト方法 - 特許庁

QUALITY CONTROLLING AND TESTING METHOD OF CEMENT IMPROVED GROUND例文帳に追加

セメント改良地盤の品質管理試験方法 - 特許庁

LIGHT-RESISTANCE TESTING EQUIPMENT AND LIGHT-RESISTANCE TESTING METHOD例文帳に追加

耐光性試験装置及び耐光性試験方法 - 特許庁

HEAT COLLECTING PERFORMANCE TESTING METHOD FOR SOLAR ENERGY COLLECTOR例文帳に追加

太陽集熱器の集熱性能試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE, MOBILE TERMINAL DEVICE, AND TESTING METHOD例文帳に追加

試験装置、移動端末装置及び試験方法 - 特許庁

BACTERIOLOGICAL TESTING APPARATUS AND BACTERIOLOGICAL TESTING METHOD例文帳に追加

微生物検査装置および微生物検査方法 - 特許庁

FLOOR MAGNIFICATION TESTING METHOD FOR BUILDING STRUCTURAL ELEMENT例文帳に追加

建築物構造要素の床倍率試験方法 - 特許庁

TEMPERATURE TESTING DEVICE, TEMPERATURE TESTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

温度試験装置、温度試験方法及びプログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR CHIP AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体チップおよび半導体チップのテスト方法 - 特許庁

TRANSMISSION APPARATUS, PATH TESTING METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

伝送装置、パス試験方法およびコンピュータプログラム - 特許庁

MAGNETIC DISK DEVICE TESTING METHOD AND TESTING DEVICE例文帳に追加

磁気ディスク装置の試験方法および試験装置 - 特許庁

TEST-USE PROGRAM, TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD例文帳に追加

検査用プログラム、検査システム並びに検査方法 - 特許庁

IMPULSE TESTER AND TESTING METHOD FOR STATIONARY INDUCTION APPARATUS例文帳に追加

静止誘導器のインパルス試験装置及び方法 - 特許庁

TESTING CIRCUIT AND TESTING METHOD FOR VOLTAGE STEP-UP CIRCUIT例文帳に追加

昇圧回路の試験回路及び試験方法 - 特許庁

To provide an interposer testing structure and an interposer testing method.例文帳に追加

インターポーザ試験構造と方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体装置及び半導体装置のテスト方法 - 特許庁

VIBRATION TESTING METHOD USING SELF-ADVANCING VIBRATION GENERATOR例文帳に追加

自走式起振機を用いた振動試験方法 - 特許庁

REMOTE TEST EQUIPMENT FOR PLANT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

プラント遠隔試験装置およびその試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD OF CONTACTING NOISE PERFORMANCE OF PAVING BODY例文帳に追加

舗装体の接触騒音性能の試験方法 - 特許庁

例文

VEIN TESTING DEVICE AND VEIN TESTING METHOD例文帳に追加

静脈検査装置および静脈検査方法 - 特許庁




  
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