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「"Testing Method"」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > "Testing Method"に関連した英語例文

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"Testing Method"を含む例文一覧と使い方

該当件数 : 2141



例文

WEATHERABILITY TESTING DEVICE AND WEATHERABILITY TESTING METHOD例文帳に追加

耐候性試験装置及び耐候性試験方法 - 特許庁

EXTREME-ULTRAVIOLET RAY MICROSCOPE AND TESTING METHOD例文帳に追加

極端紫外線顕微鏡及び検査方法 - 特許庁

ELECTROMAGNETIC WAVE LEAK TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD例文帳に追加

電磁波漏洩試験システム及び試験方法 - 特許庁

PROTOCOL TESTING SYSTEM AND PROTOCOL TESTING METHOD例文帳に追加

プロトコル試験システムおよびプロトコル試験方法 - 特許庁

例文

TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置の検査方法 - 特許庁


例文

VACUUM BLOOD COLLECTING TUBE AND BLOOD TESTING METHOD例文帳に追加

真空採血管および血液検査方法 - 特許庁

NETWORK TESTING SYSTEM AND NETWORK TESTING METHOD例文帳に追加

ネットワーク試験システム及びネットワーク試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加

半導体デバイス試験装置及び試験方法 - 特許庁

CYCLE LIFE TESTING METHOD OF LITHIUM SECONDARY BATTERY例文帳に追加

リチウム二次電池のサイクル寿命検査方法 - 特許庁

例文

TESTING METHOD FOR INSTALLATION OF OVERCURRENT ALARM DEVICE例文帳に追加

過電流警報装置の設置試験方法 - 特許庁

例文

TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND LOADING BOARD例文帳に追加

半導体デバイスの試験方法及びロードボード - 特許庁

TILE STRENGTH TESTER AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

瓦の強度試験機及びその試験方法 - 特許庁

INPUT/OUTPUT PORT PART AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

入出力ポート部およびその試験方法 - 特許庁

DISCHARGING PERFORMANCE EVALUATION TESTING METHOD FOR COAL SLAG例文帳に追加

石炭スラグの排出性評価試験方法 - 特許庁

WATER PENETRATION TESTING MACHINE AND WATER PENETRATION TESTING METHOD例文帳に追加

透水試験装置及び透水試験方法 - 特許庁

ENVIRONMENT TESTING METHOD AND ENVIRONMENT TESTING DEVICE例文帳に追加

環境試験方法及び環境試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TESTING METHOD OF BATTERY PACK例文帳に追加

試験装置および電池パックの試験方法 - 特許庁

INFORMATION PROCESSOR, AND PROGRAM TESTING METHOD例文帳に追加

情報処理装置およびプログラムのテスト方法 - 特許庁

ELECTRONIC WATTHOUR METER AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

電子式電力量計及びその試験方法 - 特許庁

IMAGE PROCESSOR FOR AUTOMATIC EGG TESTING METHOD例文帳に追加

自動検卵方法における画像処理装置 - 特許庁

VEHICLE TESTING DEVICE AND ROLL-OVER TESTING METHOD例文帳に追加

車両試験装置及びロールオーバ試験方法 - 特許庁

TENSION TESTING METHOD AND HOLDING TOOL FOR TENSION TEST例文帳に追加

引張試験方法、及び引張試験用把持具 - 特許庁

COMPACT LOAD TESTER AND TESTING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

小型載荷試験装置及びその試験方法 - 特許庁

PNEUMATIC TIRE TESTING METHOD AND TESTER例文帳に追加

空気入りタイヤの試験方法および試験装置 - 特許庁

POWDER CHARACTERISTIC TESTING MACHINE AND CHARACTERISTIC TESTING METHOD例文帳に追加

粉体特性装置及び特性試験方法 - 特許庁

ERROR TESTING METHOD AND COMMUNICATION DEVICE IN LAN例文帳に追加

LANにおけるエラーテスト方法および通信装置。 - 特許庁

APPARATUS FOR AUTOMATICALLY TESTING SECONDARY CELL AND TESTING METHOD例文帳に追加

二次電池自動試験装置及び試験方法 - 特許庁

TRACE CIRCUIT, MEMORY TESTING METHOD AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

トレース回路、メモリ試験方法及び記録媒体 - 特許庁

LENGTH CHANGE TESTING METHOD AND APPARATUS FOR CONCRETE例文帳に追加

コンクリ—トの長さ変化試験方法および装置 - 特許庁

LEAKAGE TESTING METHOD OF SWITCH, AND ITS DEVICE例文帳に追加

開閉器の漏れ試験方法およびその装置 - 特許庁

PENETRATION TESTING METHOD OF PROTECTIVE CLOTHING MATERIAL AND PENETRATION TESTER例文帳に追加

防護服素材の浸透試験方法と装置 - 特許庁

The present invention provides a tire testing method and testing device.例文帳に追加

タイヤの試験方法及び試験装置である。 - 特許庁

COMMUNICATIONS NETWORK TESTING METHOD AND NETWORK DEVICE例文帳に追加

通信ネットワーク試験方法およびネットワーク装置 - 特許庁

TESTING METHOD AND TEST DEVICE OF LIQUID CRYSTAL PANEL例文帳に追加

液晶パネルの試験方法及び試験装置 - 特許庁

TESTING METHOD FOR NETWORK DEVICE AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

ネットワーク装置の試験方法及び記憶媒体 - 特許庁

ADHESIVE PEELING TEST PIECE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

接着剤剥離試験片とその試験方法 - 特許庁

UNDERWATER TESTING DEVICE AND UNDERWATER TESTING METHOD例文帳に追加

水中検査装置および水中検査方法 - 特許庁

IMPACT RESISTANCE TESTING METHOD FOR TIRE AND ITS DEVICE例文帳に追加

タイヤの耐衝撃試験方法およびその装置 - 特許庁

CHARGE PLATE, CDM SIMULATOR AND TESTING METHOD例文帳に追加

荷電板及びCDMシミュレータと試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TESTING METHOD FOR STORAGE SYSTEM例文帳に追加

ストレージシステムの試験装置及び同試験方法 - 特許庁

TESTING CIRCUIT, TESTING METHOD, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

テスト回路、テスト方法、半導体集積回路 - 特許庁

DUT BOARD, AND TESTING METHOD USING IT例文帳に追加

DUTボード及びそれを用いるテスト方法 - 特許庁

SAFETY TESTING METHOD FOR HOLLOW FIBER MEMBRANE MODULE例文帳に追加

中空糸膜モジュールの安全性試験方法 - 特許庁

NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

不揮発性半導体メモリとその検査方法 - 特許庁

INDOOR TIRE DURABILITY TESTING METHOD AND TESTING MACHINE例文帳に追加

室内タイヤ耐久試験方法及び試験機 - 特許庁

BURN-IN TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のバーンイン試験方法 - 特許庁

FRACTURE TOUGHNESS TESTING METHOD FOR LIGHT-WEIGHT SANDWICH PANEL例文帳に追加

軽量サンドイッチパネルの破壊靱性試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路及びメモリのテスト方法 - 特許庁

CIRCUIT FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

集積回路の試験回路及び試験方法 - 特許庁

例文

ACTIVE MATRIX TEST SUBSTRATE AND TESTING METHOD例文帳に追加

アクティブマトリクス型検査基板および検査方法 - 特許庁




  
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