「"Testing Method"」に関連した英語例文の一覧と使い方(42ページ目) - Weblio英語例文検索

This accelerated testing method of the stain of the coating film includes a deterioration process composed of an optical deterioration process for optically deteriorating the coating film by irradiation with light containing ultraviolet rays and an acid deterioration process for deteriorating the coating film by an acidic solution and a stain fixing process for fixing an artificial staining substance to the coating film deteriorated by light and an acid.例文帳に追加

紫外線含有光の照射により塗膜を光劣化させる光劣化工程及び酸性液により塗膜を酸劣化させる酸劣化工程よりなる劣化工程と、光劣化及び酸劣化した前記塗膜に人工汚れ物質を固着させる汚れ固着工程とを含む。 - 特許庁

The crack testing method for pneumatic tires includes a traveling step for traveling a pneumatic tire T on a drum in a load bearing state with a predetermined load applied to the pneumatic tire T and jetting ozone towards a maximum projecting position P where an outer surface of a side wall part Ta in the load bearing state, is maximally projected to a tire axial direction outward.例文帳に追加

空気入りタイヤＴに所定の荷重を負荷した荷重負荷状態にて、該空気入りタイヤＴをドラム上で走行させながら、前記荷重負荷状態においてサイドウォール部Ｔａの外表面が最もタイヤ軸方向外側に突出する最大突出位置Ｐに向かってオゾンを噴出させる走行工程を具える。 - 特許庁

Also, by attaching the bar-code labels 3 to materials used in respective works or containers for them, a tool, testing equipment or a device and reading the bar-code labels 3 in working, the manufacturing method for the electric rotary machine coils (including at least either the materials to be used, the manufacturing method, a testing method or work conditions) is recorded and managed.例文帳に追加

また、各作業で用いられる使用材料若しくはその容器，工具、又は試験器具若しくは装置にもバーコードラベル３を付け、作業の際にそれらのバーコードラベル３を読み取り、電気回転機コイルの製作手法（使用材料，製作方法，試験方法又は作業状況の少なくとも何れか含む）を記録管理する。 - 特許庁

A testing method for peracetic acid ESC resistance includes forming the member into a testpiece being narrow at its center, securing the testpiece at one end to the lower part of a container holding the solution of peracetic acid and to a weight at the other, dipping the testpiece in the solution, and measuring breaking time until the testpiece breaks.例文帳に追加

洗浄殺菌機用部材を中央部で幅が狭い被試験片に成形し、被試験片の端を過酢酸溶液の入った容器の下部に固定し、他の端を重りに固定し、被試験片を過酢酸溶液に浸し、被試験片の破断するまでの破断時間を測定する耐過酢酸ＥＳＣ性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide maintainability testing method and device/system implementing the method which can be applied to various porous materials including such filter devices as single layer thin film, double layer thin film, etc., providing non-correlated universal standards for characteristic evaluation of porous material.例文帳に追加

単層薄膜装置及び複層薄膜装置等のフィルター装置を含む多様な多孔性材料に対して適用することができ、多孔性材料の特性の評価に対して非相関的で普遍的な標準を与える保全性試験の方法及びその方法を実施する装置及びシステムを提供する。 - 特許庁

To easily form an alignment mark that can be recognized by an existing wafer prober for a semiconductor device, that has a plurality of semiconductor elements being arranged for sealing and is positioned by image recognition for testing, its trial manufacturing method, and its testing method.例文帳に追加

本発明は、複数の半導体素子が連なった状態で封止され、画像認識により位置決めされて試験に供される半導体装置、半導体装置の試験製造方法及び半導体装置の試験方法に関し、既存のウェーハプローバで認識可能なアライメントマークを容易に形成することを課題とする。 - 特許庁

This semiconductor device and its testing method are equipped with an N-channel type MOSFET 11 and its protection diode 12, and have a switching circuit SW-1 for validating the protection diode 12 by being switched on by fusing of a fuse 2 between the N-channel type MOSFET 11 and the protection diode 12.例文帳に追加

本発明の半導体装置およびそのテスト方法は、Ｎチャネル型ＭＯＳＦＥＴ１１とその保護ダイオード１２とを備え、Ｎチャネル型ＭＯＳＦＥＴ１１と保護ダイオード１２との間に、ヒューズ２の溶断によってスイッチをオンさせて保護ダイオード１２を有効にするスイッチ回路ＳＷ−１を有する。 - 特許庁

To obtain a solderability-testing method and device for improving the accuracy and reliability of test data by reducing influence due to the temperature difference between the temperature of a metal test piece and that of solder paste when testing solderability and the difference between a setting temperature and actually measured temperature of the testing device.例文帳に追加

はんだ濡れ性試験時の金属試料片温度とはんだペーストとの温度差及び、試験装置の設定温度と実測温度との差による影響を減少させ、試験データの精度及び信頼性を向上させるはんだ濡れ性試験方法及びはんだ濡れ性試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The testing method for making the determination of good or no-good by means of a current test in static state in a wafer level testing step 5 of the semiconductor integrated circuit is characterized in that the reference current value for judging soundness is determined for each product on the basis of characteristic values of a transistor in a basic characteristics measurement step 2 for determination.例文帳に追加

半導体集積回路のウェハ状態試験工程５での静止状態電流試験によって良否判定を行う検査方法で、その良否判定基準となる基準電流値を基礎特性測定工程２でのトランジスタの特性値を基に製品ごとに決定して判定を行うことを特徴とする。 - 特許庁

This testing method is pref. performed by a flowability testing apparatus having the trough-shaped member 2 equipped with marks at least at two places in the length direction thereof, a support structure 3 for holding the trough-shaped member 2 to an angularly adjustable inclined posture and a sample container 22 housing a predetermind vol. of the liquid material being the sample.例文帳に追加

この試験方法は、長さ方向の少なくとも２箇所に標点を備える樋状体と、これを角度調節可能な傾斜姿勢に維持する支持構造体と、試料である所定容量の液状材料を収容する試料容器とを有する流動性試験装置によって、好適に実施することができる。 - 特許庁

The method for cleaning the aligner which is brought into contact with the reticle comprises the steps of providing a material, having a cleaning layer which has a tensile elastic modulus (in compliance with the testing method of JIS K7127) of 0.98 to 4,900 MPa, and conveying the material in the aligner to be cleaned.例文帳に追加

レチクルまたはレチクル状物のこれらが被洗浄装置と接する部位に、引張弾性率（試験法ＪＩＳ Ｋ７１２７に準ずる）が０．９８〜４９００ＭＰａであるクリーニング層が設けられた材料を設け、被洗浄装置内を搬送することを特徴とするレチクルが接する装置のクリーニング方法である。 - 特許庁

The ion conductive polymer composition whose value of scorching T5 (min) at 130.0°C±0.5°C is 1.5 to 20 in a Mooney scorch test in an unvulcanized rubber physical testing method mentioned in JIS K6300, and also, whose Mooney viscosity ML(1+4) at 100°C is 5 to 95 is extruded from an extrusion machine and continuously vulcanized.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｋ６３００記載の未加硫ゴム物理試験方法中のムーニースコーチ試験において１３０．０℃±０．５℃におけるスコーチＴ５（分）の値が１．５以上２０以下であり、かつ、１００℃におけるムーニー粘度ＭＬ（１＋４）が５以上９５以下であるイオン導電性ポリマー組成物を、押出機から押し出しながら連続加硫する。 - 特許庁

The testing method of the semiconductor integrated circuit device is so constituted that testing items of the semiconductor integrated circuit device (30) can be changed on the basis of testing result in the manufacturing steps of the semiconductor integrated circuit device by testing (20) the manufacturing process of the semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置の試験方法であって、前記半導体集積回路装置の製造工程において検査を行い（２０）、該半導体集積回路装置の製造工程における検査結果に基づいて、該半導体集積回路装置の試験項目を可変にする（３０）ように構成する。 - 特許庁

To provide a stress-testing method and a stress-testing apparatus for greatly improving the evaluation of a light material such as a compound material by allowing a stress state to be solved in a state of including the lamination structure of a shell-like specimen and end face treatment and obtaining the temperature dependency of the amount of permeation of helium.例文帳に追加

殻状供試体の積層構造や端面処理を含んだ状態で応力状態を解明可能にし、合わせてヘリウム透過量の温度依存性を求めて、複合材料等の軽量材料の評価を格段に向上させることができる応力試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a weathering light testing method for precisely controlling the temperature in a test tank and uniformizing the radiation luminous intensity from a light source over a wide humidity region to enable energy saving operation in a weathering light testing machine for irradiating the sample with predetermined light under a predetermined temperature and humidity condition.例文帳に追加

所定の温度及び湿度のもとで所定の光を試料に照射する耐候光試験機において、試験槽内の温度を精度良く制御すると共に、広範な湿度域において、光源からの放射照度を均一にして、省エネルギーで運転可能な耐候光試験方法及び耐候光試験機を提供する。 - 特許庁

A material testing method or a material test according to the present invention in which a loading rate is given to a test member and the strength test of the material member is performed has a first feature including: previously applying a preload once or more repeatedly and subsequently applying a main load for use in the material characteristic evaluation thereto to acquire a prescribed loading rate.例文帳に追加

本発明は、試験部材に負荷速度を与え前記材料部材の強度試験を行う材料試験方法又は材料試験において、予め一回以上の繰返し予負荷を付与し、その後続けて材料特性評価に用いる主負荷を与え所定の前記負荷速度をえることを第１の特徴とする。 - 特許庁

To provide a water-washable water-based penetrant for a liquid penetrant test not having a flash point, capable of suppressing to the utmost generation of excess cleaning when removing an excess penetrant by water washing, and having a similar flaw detection performance to that of a water-washable oil-based penetrant, and a liquid penetrant testing method using the penetrant.例文帳に追加

引火点を有さず、かつ、水洗による余剰浸透液の除去に当たって、過洗浄の発生が可及的に抑制でき、水洗性油ベース浸透液と同等の探傷性能を具備している浸透探傷試験用水洗性水ベース浸透液及び該浸透液を用いる浸透探傷試験方法を提供する。 - 特許庁

Also, the method for producing activated carbon comprises: a raw coke forming process comprising converting one kind or a mixture of coal-based heavy oil and petroleum oil-based heavy oil, each having a coefficient of thermal expansion of 4.0-7.0, measured by an artificial graphite electrode testing method, into a raw coke; and an activation process for activating the obtained raw coke.例文帳に追加

また、活性炭の製造方法は、人造黒鉛電極試験法によって測定される熱膨張係数が４．０〜７．０の範囲内にある石炭系または石油系重質油のいずれか一方またはそれらの混合物を生コークス化する生コークス化工程と、得られる生コークスを賦活する賦活工程とを有する。 - 特許庁

This testing method of rolling-contact fatigue life comprises a step (S10) of preparing a track member that has a raceway surface and is made of steel, a step (S20) of forming an impression in the raceway surface using an indenter, and a step (S30) of causing peeling on a raceway surface by rolling a rolling body made of ceramics on the raceway surface.例文帳に追加

転動疲労寿命の試験方法は、軌道面を有し、鋼からなる軌道部材を準備するステップ（Ｓ１０）と、圧子を用いて軌道面に圧痕を形成するステップ（Ｓ２０）と、軌道面上を、セラミックスからなる転動体を転走させることにより、軌道面に剥離を生じさせるステップ（Ｓ３０）とを備えている。 - 特許庁

The defect testing method comprises the following steps for preparing a design data set for forming the photomask, searching the sub-ground rule features out of the design data set, removing the sub-ground rule features out of the design data set to form a check data set, and checking the photomask formed according to the design data set by using the check data set.例文帳に追加

本発明の方法は、フォトマスク作製用のデザインデータセットを作製し、デザインデータセット中のサブ・グラウンドルールフィーチャを検索し、デザインデータセットからサブ・グラウンドルールフィーチャを除去して検査データセットを作成し、デザインデータセットに従って作製されたフォトマスクを検査データセットを使用して検査するステップを有する。 - 特許庁

CATHODE PANEL UNIT FOR COLD-CATHODE FIELD ELECTRON EMITTING DISPLAY DEVICE, CATHODE PANEL THEREFOR AND ITS MANUFACTURE, COLD-CATHODE FIELD ELECTRON EMITTING DISPLAY DEVICE, TEST DEVICE, AND TESTING METHOD OF ITS UNIT USING TEST DEVICE THEREOF例文帳に追加

冷陰極電界電子放出表示装置用カソード・パネル・ユニット、冷陰極電界電子放出表示装置用カソード・パネル及びその製造方法、冷陰極電界電子放出表示装置、試験装置、並びに、かかる試験装置を用いた冷陰極電界電子放出表示装置用カソード・パネル・ユニットの試験方法 - 特許庁

In this alkali/silica reactivity testing method of the aggregate, the reflected light of the light thrown on a sample is detected and the reduction amount of alkali and/or the amount of dissolved silica is estimated from the detection value to judge the alkali/silica reactivity of the aggregate.例文帳に追加

骨材のアルカリシリカ反応性を判定するための試験方法であって、試料に照射された光の反射光を検出し、その検出値からアルカリ減少量または／及び溶解シリカ量を推定し、骨材のアルカリシリカ反応性を判定することを特徴とする骨材のアルカリシリカ反応性試験方法。 - 特許庁

To provide a data communication device, a central management device, a testing method, a remote management system, and a computer program, in which the central management device can recognize whether the communication from the data communication device is performed normally, without dispatching a service engineer to the site where the data communication device is installed.例文帳に追加

本発明は、データ通信装置、中央管理装置、テスト方法、遠隔管理システム及びコンピュータプログラムに関し、中央管理装置が、データ通信装置からの通信が正常に行われるか否かをそのデータ通信装置が設置されている現場へサービスマンを派遣せずに確認できるようにすることを目的とする。 - 特許庁

The base material of this chip type electronic component storage mount is multi-layer paper structured, and pulp after the defibrination of the base material has a fiber length distribution factor 1.20-3.20 or less obtained by a pulp fiber length testing method using optical automated metrology specified by Japan Technical Association of the Pulp and Paper Industry No.52.例文帳に追加

チップ型電子部品収納台紙用紙基材が、多紙層構造を有し、この基材の離解後のパルプが、ＪＡＰＡＮ ＴＡＰＰＩ Ｎｏ．５２で規定されている光学的自動計測法でのパルプ繊維長試験方法により求められる繊維長分布係数が、１．２０〜３．２０以下である。 - 特許庁

To provide a testing method of the characteristic of a vibrator capable of effectively detecting a crack and a chipping which are caused in a vibrator chip and cause adverse effect on the vibration characteristic without the need for using an optical inspection apparatus and an image processing apparatus needing troublesome adjustment and high cost in the case of testing the vibration characteristic of the vibrator chip.例文帳に追加

振動子片の振動特性を試験するに際し、調整が面倒でかつコストがかかる光学的検査装置ならびに画像処理装置を用いることなく、振動特性に影響を与えうる振動子片の割れ，欠けを効果的に検出することができる振動子試験法を提供する。 - 特許庁

The test transistors A, B that have at least two kinds or more of insulating films 13, 15 and different configurations are manufactured, and the electrostatic capacity film can be guaranteed with the easy measurement using a testing method for determining whether insulating films 13, 15 have been formed normally from the difference of the sub-threshold characteristics of two kinds of test transistors.例文帳に追加

少なくとも２種類以上の絶縁膜１３，１５の構成が異なるテスト用トランジスタＡ，Ｂを製造し、２種類のテスト用トランジスタのサブスレッショルド特性の差から、絶縁膜１３，１５が正常に形成されたか否かを判定するというテスト方法を用いて、簡単な測定で静電容量膜の保証が行える。 - 特許庁

In the burn-in testing method carrying out the test by operating the semiconductor device in a predetermined temperature atmosphere, while supplying power to the semiconductor device, an operation command signal commanding operation of the semiconductor device is repeatedly supplied, and varying of a power source current corresponding to the operation command signal is counted.例文帳に追加

半導体デバイスを所定の温度雰囲気中で動作させて試験を行うバーンイン試験方法において、半導体デバイスに電源を供給しながら、半導体デバイスの動作を指令する動作指令信号を繰り返し供給し、動作指令信号に対応する電源電流の増減をカウントする。 - 特許庁

To provide a method capable of providing a fiber product satisfying a standard of bacteriostatic performance specified by Japan Textile Evaluation Technology Council also in a test method by bacterial transferring method of quantitative test for JIS L 1902 (2002) [antibacterial testing method of fiber products and antibacterial effect] and to provide the above fiber product.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｌ １９０２（２００２）「繊維製品の抗菌性試験方法・抗菌効果」の定量試験の菌転写法による試験方法においても、社団法人繊維技術評価協議会が規定する抗菌性能の基準を満たす繊維製品を提供することのできる方法及びそのような繊維製品を提供する。 - 特許庁

To obtain a composite semiconductor integrated circuit device and its connection testing method which does not need any additional circuits inside LSIs, is consequentially capable of using existing LSI chips, suppresses increase in the number of external terminals (number of device pins) to a minimum, and dramatically improves a test function.例文帳に追加

ＬＳＩ内部に何ら付加的回路を必要とせず、したがって、既存のＬＳＩチップを用いることが可能であるとともに、外部端子数（デバイスピン数）の増加も最小限に抑えて、テスト機能を飛躍的に向上させた複合半導体集積回路装置、並びに、その接続試験方法を提供する。 - 特許庁

In the testing method, the abrasion gage is mounted on test fixtures, a tape is positioned to adjust an overlapping angle in the end of the abrasion surface, desired tape tension, a speed, and operation time are selected, and the tape is run preferably in a single direction in effective contact with the abrasion surface for the desired operation time.例文帳に追加

テスト方法は、テスト治具に磨耗ゲージを装着し、テープを位置決めして磨耗表面の端部におけるオーバラップ角を調節し、所望のテープ張力、速度、及び動作時間を選定し、テープを所望の動作時間の間、磨耗表面と実効的に接触したまま、望ましくは単一方向に走らせる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit in which generation of leakage current is prevented while making available a pad of an IO block selected from at least two selection IO blocks, and to provide a testing method of the semiconductor integrated circuit, and semiconductor integrated circuit package in which the semiconductor integrated circuit is mounted.例文帳に追加

少なくとも２つの選択ＩＯブロックから選択したＩＯブロックのパッドの利用を可能にしながらリーク電流の発生が防止された半導体集積回路、その半導体集積回路の試験方法、およびその半導体集積回路が搭載された半導体集積回路パッケージを提供する。 - 特許庁

To securely carry out screening for a defective pixel by effectively avoiding deterioration in reliability even when a transistor with low breakdown voltage is used by applying a flat display device and a testing method for the flat display device to, for example, a liquid crystal display device having a driving circuit formed on an insulating substrate in one body.例文帳に追加

本発明は、フラットディスプレイ装置及びフラットディスプレイ装置の試験方法に関し、例えば絶縁基板上に駆動回路を一体に形成した液晶表示装置に適用して、耐圧の低いトランジスタを用いる場合であっても、信頼性の劣化を有効に回避して確実に欠陥画素に係るスクリーニングを実行することができるようにする。 - 特許庁

The polyelectrolyte fuel cell testing method comprises a step of supplying fuel gas and oxidant gas to the fuel cell and running it at a current density lower than that during a rated operation, and a step of detecting the amount of decomposition products of a polyelectrolyte membrane in an emitted off-gas while the cell is driven at low current densities.例文帳に追加

燃料電池に燃料ガスと酸化剤ガスを供給し、定格運転時よりも低い電流密度で運転するステップと、低い電流密度で運転する際に、排出されるオフガスに含まれる高分子電解質膜の分解生成物の量を検出するステップとを備えた、高分子電解質型燃料電池の試験方法を用いる。 - 特許庁

The scan testing method for scan-testing a semiconductor integrated circuit having a plurality of blocks to perform functional operations comprises a step of exclusively isolating each of the plurality of blocks to be tested from other blocks during the scan test, and a step of feeding a scan clock with deviated phase for each block to be tested.例文帳に追加

機能動作を行なう複数のブロックを有する半導体集積回路をスキャンテストする方法であって、スキャンテスト時に複数のテスト対象ブロックが各々排他的に他のブロックとアイソレーションするステップと、上記テスト対象ブロック毎に位相をずらしたスキャンクロックを供給するステップとを有することを特徴とするスキャンテスト方法を提示する。 - 特許庁

The lifetime acceleration testing method of the polymer electrolyte fuel cell includes a power generation test as well as an open-circuit potential retention test for accelerating degradation of an electrolyte film, a high-voltage retention test for accelerating oxidation corrosion of constituent materials of an electrode, and a potential scanning test for accelerating alleviation of a catalytic activity surface area.例文帳に追加

本発明の固体高分子型燃料電池の寿命加速試験方法は、電解質膜の劣化を加速するための発電試験と開回路電位保持試験、電極の構成材料の酸化腐食を加速するための高電圧保持試験、及び触媒活性表面積の減少を加速するための電位走査試験を含む。 - 特許庁

Besides, this testing method performs steps of: mounting, on the shaft, a base material to which deposition substances are applied, immersing a film coated base material in a solution housed inside a container, utilizing the drive system for rotating the shaft and the film coated base material at a given rotating speed, and determining an amount of the deposition substances removed from the base material.例文帳に追加

この試験方法はさらに、堆積物質が塗布されている基材をシャフトに載置するステップと、その塗膜基材を容器に収容された溶液内に沈浸するステップと、シャフトと塗膜基材とを所定回転速度で回転させるために駆動システムを利用するステップと、基材から除去された堆積物量を決定するステップとを含んでいる。 - 特許庁

To provide a TEG pattern, and a testing method of a semiconductor element using the pattern capable of confirming a leakage current level generated by erroneously aligned landing to an active region of M1C through silicon substrate data in a viewpoint of an active extension design rule to the M1C in a manufacturing method of a semiconductor device of 90 nm class or below.例文帳に追加

９０ｎｍ級以下の半導体素子の製造において、Ｍ１Ｃのアクティブ領域に対するミスアラインされたランディングによって発生する漏洩電流水準をＭ１Ｃに対するアクティブエクステンションデザインルールの観点でシリコン基板データを通じて確認可能にすることができるテグパターン及びそのパターンを利用した半導体素子検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing circuit and a testing method which have function capable of conducting a contact test or the like of terminals of a semiconductor device mounted on a board at a low cost, and capable of starting with a simple starting sequence without needing exclusive terminals, and preventing an easy start-up in the state of usual application in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

ボード等に実装された半導体装置の端子のコンタクト試験等を安価に行う機能を備えた試験回路およびその試験方法、および半導体集積回路に関し、専用の端子を必要とせずに簡単な起動シーケンスで起動し、かつ、通常の使用状態では容易に起動しないようにすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a highly reliable testing method of cans and a device realizing it by analyzing echo vibration having a vibration waveform which becomes gradually complicated because of the increase in noise constituents along with the lapse of time in hammering test of a two-piece can, providing a precise frequency spectrum, and accurately grasping the frequency which matches a can internal pressure.例文帳に追加

本発明の課題は、時間と共にノイズ成分が多くなり複雑な振動波形となっている２ピース缶の打検における反響振動を解析して、精度のよい周波数スペクトルを得て缶内圧力に対応する周波数を正確に把握し、信頼性が高い缶の検査法並びにそれを実現する検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a new airtightness testing method, capable of inspecting fine leaks and gross leaks of an electronic component sealed airtightly in a shorter time than hitherto, showing a high leak detection capability, coping with miniaturization of the electronic component, and surely detecting the leak, without omission over a wide range, and an in-line airtightness test device for realizing the method.例文帳に追加

気密封止された電子部品のファインリーク及びグロスリークを従来よりも短時間で検査し、電子部品の小型化に対応して高いリーク検出能力を発揮し、広い範囲に亘って確実にかつ漏れなくリークを検出し得る新規な気密試験方法、及びそれを実現するインライン化された気密試験装置を提供する。 - 特許庁

Regarding concrete suffering from a freezing and fusing action, a tensile strength testing method of the concrete surface section according to the patent 2121279 is performed, the state when the tensile strength of any depth decreases by 50%±5% comparing that before the freezing and fusing action is determined as a degradation state of the concrete, and the degradation depth due to frost damage is determined.例文帳に追加

凍結融解作用を受けるコンクリートにおいて、特許２１２１２７９によるコンクリート表層部の引張強度試験方法を実施し、その任意深さの引張強度が凍結融解作用を受ける前と比べて５０％±５％低下した時点をコンクリートの劣化状態と判定し、凍害劣化深さを求めようとするものである。 - 特許庁

This semiconductor device and the testing method therefor has a rank data 11 for indicating a test result of a ranking test executed based on a plurality of reference values in a wafer condition, a fuse part 15 storing the rank data 11, and a control circuit 16 for reading out the rank data 11 from the fuse part 15, for use in a product test carried out after packaged.例文帳に追加

本発明の半導体装置およびそのテスト方法は、ウェハ状態において複数の基準値に基づいて行われるランク分けテストのテスト結果を示すランクデータ１１と、ランクデータ１１が格納されたヒューズ部１５と、パッケージング後に行われる製品テストで利用するために、ランクデータ１１をヒューズ部１５から読み出す制御回路１６を有する。 - 特許庁

To provide a method for determining brittle crack propagation inhibiting performance of high-strength steel plates which greatly improves miniature testing method and its evaluation method, and simply/easily estimates arrest performance of any high-strength steel plate with thickness of 50 mm or more without conducting any large test such as ESSO test or double tensile test to inspect performance of high-strength steel plates.例文帳に追加

高強度厚鋼板の脆性き裂伝播停止性能の判定において、小型試験法およびその評価方法を大幅に改善し、ＥＳＳＯ試験や二重引張試験の大型試験を行うことなく、板厚５０ｍｍ以上の高強度厚鋼板のアレスト性能を簡便な手法で推定して、高強度厚鋼板の性能を検査する。 - 特許庁

This testing method for nuclear reactor containment vessel comprises a field pressure test c and leakage test d for a reactor containment vessel 1 containing a nuclear reactor pressure vessel and a reactor body foundation base 2 for supporting the nuclear reactor pressure vessel and having a diaphragm floor 7 for partitioning a dry well 4 and a suppression chamber 5, and a leakage ratio test g for the diaphragm floor.例文帳に追加

本発明は原子炉圧力容器及びこの原子炉圧力容器を支持する原子炉本体基礎台２を格納し、かつドライウェル４及びサプレッションチェンバ５を区画するダイヤフラムフロア７を有する原子炉格納容器１の現地耐圧試験ｃ，漏洩試験ｄ及び前記ダイヤフラムフロア漏洩率を試験ｇする原子炉格納容器の試験工法である。 - 特許庁

To provide a static electricity applying device which can stably apply output current waveform due to air discharge by small labor, and to provide a static electricity countermeasure component evaluating characteristics thereby, a method of testing the static electricity countermeasure component, and the static electricity countermeasure component evaluating characteristics by the testing method.例文帳に追加

少ない手間で気中放電による出力電流波形を安定して印加することができる静電気印加装置およびこれにより特性が評価された静電気対策部品ならびに静電気対策部品の試験方法およびその試験方法により特性が評価された静電気対策部品を提供することを目的としている。 - 特許庁