「"Testing Method"」に関連した英語例文の一覧と使い方(38ページ目) - Weblio英語例文検索

Article 57 (1) A person who carries on the business of product testing at its testing laboratory located in Japan may apply to the competent minister to have the testing laboratory accredited for each division of the testing method as specified in the Ordinance of the competent ministry (hereinafter simply referred to as the "Division of the Testing Method") pursuant to the provisions of the Ordinance of the competent ministry. In this case, the procedures necessary to be taken for the Accreditation shall be specified in the Ordinance of the competent ministry. 例文帳に追加

第五十七条　国内にある試験所において製品試験の事業を行う者は、その試験所について、主務省令で定める試験方法の区分（以下単に「試験方法の区分」という。）ごとに、主務省令で定めるところにより、主務大臣に申請して、登録を受けることができる。この場合において、登録に関して必要な手続は、主務省令で定める。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

This is an adhesive tape for fixing a semiconductor wafer that melts at a testing temperature of 190 °C and test load of 21.18 N in the testing method shown in "the flow testing method of thermoplastics" Japanese Industrial Standards K 7210, wherein MFR by the method is 0.1-3, and a resin layer B and adhesive layer A are laminated that includes a carboxyl group as a polymeric constituent.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｋ ７２１０「熱可塑性プラスチックの流れ試験方法」に示される試験方法における試験温度１９０℃、試験荷重２１．１８Ｎで溶融するとともに前記方法によるＭＦＲが０．１〜３で、かつ重合体の構成成分としてカルボキシル基（−ＣＯＯＨ）を有する構成成分を含む樹脂層Ｂと粘着剤層Ａとが積層されてなることを特徴とする半導体ウエハ固定用粘着テープ。 - 特許庁

To provide a display device, a testing method for the display device and a testing device for the display device, with which a wiring failure on a panel is detected correctly, while suppressing degradation in manufacturing yield.例文帳に追加

パネル上の配線不良を確実に検出でき、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置、表示装置の検査方法、及び、表示装置の検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a tester and a testing method for IC device or solder ball of a wafer in which a pressure required for bringing all solder bumps in an IC array into contact with a test array is reduced significantly.例文帳に追加

ＩＣアレイ内のすべてのはんだバンプを、テスト用のアレイと接触させるのに必要な圧力を大幅に低減させるような、ＩＣデバイス、あるいはウェハ用のはんだボールのテスト方法／装置を提供する。 - 特許庁

To provide a seabed cone penetration testing machine capable of simplifying its configuration and reducing its weight and its testing method for reducing cost and time required by a seabed cone penetration test conducted in a very deep area of the sea.例文帳に追加

大水深域で実施されるコーン貫入試験において、構成の簡素化と軽量化を図ったコーン貫入試験機と、試験の実施にかかる費用と時間とを低減できる試験方法とを提案する。 - 特許庁

The crack development testing method has a crack-forming process for forming the crack 2 in a test piece 1 and a holding process for holding the test piece 1, while applying definite displacement to the test piece 1 in a direction 4 vertical to the extending direction of the crack 2.例文帳に追加

き裂進展試験方法は、試験片１に、き裂２を形成するき裂形成工程と、試験片１に、き裂２が延びる方向に垂直な方向４に一定の変位を加えたまま保持する保持工程と、を有する。 - 特許庁

To provide an accelerated exposure testing method and apparatus capable of making the period of time required for a test shorter than if an accelerated exposure test is conducted by conventional artificial means.例文帳に追加

本発明は、従来の人工的手段による促進暴露試験の場合よりも、試験に要する期間（時間）を短縮できる促進暴露試験方法および促進暴露試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an eddy current testing method and an eddy current testing apparatus, capable of executing accurate eddy current testing, even if the shape of a rolling material has ununiformity caused by rolling or magnetism irregularities caused by processing deformation are generated.例文帳に追加

圧延材に圧延による形状の不均一があったり、加工歪による磁気ムラが発生したりしても精度よく渦流探傷がなし得る渦流探傷方法および渦流探傷装置を提供する。 - 特許庁

In the scratch testing method, an acceleration sensor for preventing sensitivity from degrading is used for detecting variations in a load even when a signal generated in the breakdown of the thin film has a high frequency.例文帳に追加

薄膜が破壊する時に発生する信号が高い周波数を持つ場合にも感度が落ちにくい加速度センサを荷重変動の検出に使用することによって課題を解決して発明を完成するに至った。 - 特許庁

To provide an integrated circuit testing method and an integrated circuit testing circuit allowing easy control and requiring less hardware for isolating a scan block in testing on an integrated circuit in which the scanning block and a non-scanning block are mixed.例文帳に追加

スキャンブロックと非スキャンブロックが混在する集積回路のテストにおいて、スキャンブロックをアイソレーションするために、制御が容易でかつハードウェア量の少ない集積回路のテスト方法およびテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide an IC tester and an IC testing method which make it possible to perform frequency analysis only by current variation by the use of a test pattern signal more easily, without changing a pattern signal to be inputted.例文帳に追加

入力するパターン信号を変更することなく、より容易に試験パターン信号による電流変動のみの周波数分析を行なうことを可能とするＩＣテスタ、及びＩＣ試験方法を提供する。 - 特許庁

When a slump testing method regulated by JIS(Japanese Industrial Standard) A1173 is applied to the material 25 to be cast in the water, slump can indicate a value of 0.5-2.0 cm.例文帳に追加

然も、この材料は、水中に投入するときの該材料２５に対しＪＩＳ（日本工業規格）Ａ１１７３で規定されているスランプ試験方法を実施した場合のスランプが、０．５ｃｍ以上２．０ｃｍ以下の値を示す。 - 特許庁

To provide a semiconductor device wherein a test voltage of a gate withstand voltage is not restricted by a clamping voltage of a protection element, without having to enlarge chip size to the utmost, and to provide its testing method.例文帳に追加

本発明の課題は、極力、チップサイズを大きくすることなく、ゲート耐圧のテスト電圧が保護素子のクランプ電圧の制約を受けることのない半導体装置およびそのテスト方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a parts testing device and a parts testing method capable of shortening the rising time of a tester by achieving the shortening of the temperature rising or falling time in a test chamber and easy in maintenance.例文帳に追加

試験用チャンバ内における昇温または降温時間の短縮を図り、試験装置の立ち上がり時間を短くすることが可能であり、しかも、メンテナンスが容易な部品試験装置および試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method capable of determining the quality of a semiconductor element, even after a sealing resin or the like is formed on a wafer, with regard to a semiconductor device testing method for determining the quality of the semiconductor device.例文帳に追加

本発明は半導体手装置の不良品判別を行う半導体装置の試験方法に関し、ウエーハ上に封止樹脂等を形成した後であっても半導体素子の良否判定を行うことを課題とする。 - 特許庁

To provide an abrasion testing method and abrasion testing apparatus for accurately evaluating the abrasion characteristic of an actual material by testing the abrasion of a specimen in a state close to an actual abrasion state.例文帳に追加

試験体の摩耗を実際の摩耗状態に近い状態で試験することによって実際の材料の摩耗特性を正確に評価することができる摩耗試験方法及び摩耗試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a tire durability testing method capable of effectively and precisely reproducing and evaluating the internal failure tend to occur in the pneumatic tire mounted on the vehicle running continuously in a comparatively hot area.例文帳に追加

比較的暑い地域で連続走行する車両に装着される空気入りタイヤに発生しがちな内部故障を効率的に精度良く再現評価することが可能なタイヤ耐久試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a portable twisting tester for simply measuring the elastic constant and twisting strength of an existing structure and an elastic constant/twisting strength testing method, using a twist to measure the elastic constant and destruction constant of the existing structure on the spot, in real time.例文帳に追加

本発明は、既存構造物の弾性定数とねじり強度とを簡易に測定する携帯型ねじり試験器およびねじりを利用した弾性定数とねじり強度の試験方法に関する発明である。 - 特許庁

To provide a simple and rapid wipe-off property testing method, capable of evaluating the degree and distribution state of a stain remaining, after the stain has been wiped off by a sample and reduced in error, and a wipe-off property tester therefor.例文帳に追加

試料で汚れを拭き取ったあとに残留する汚れの程度と分布状態が評価可能な、簡便、迅速かつ誤差が小さい拭き取り試験方法とそのための拭き取り性試験装置を提供する。 - 特許庁

The water absorption speed testing method: including putting 0.5 g water absorbing resin into a 100 ml container at 20°C followed by putting 50 g tap water thereinto at one time, and measuring a time (s) until the whole gels by 10 seconds.例文帳に追加

吸水速度試験法：２０℃において、吸水性樹脂０．５ｇを１００ｍｌ容器に入れ、その中に水道水５０ｇを一度に入れ、全体がゲル化するまでの時間（秒）を１０秒単位で測定する。 - 特許庁

In the testing method for the nonvolatile memory device, test data are stored and held in a buffer in the semiconductor memory device when a test is conducted instead of loading the test data from outside each time memory cells are programmed.例文帳に追加

本発明の不揮発性メモリ装置のテスト方法は、テスト時に、メモリセルがプログラムされるとき毎にテストデータを外部からローディングしてくる代わりに、テストデータを半導体メモリ装置の内部のバッファに貯蔵して置く。 - 特許庁

The recognition belt is manufactured by using a resin film having JIS A hardness of 60 to 120, 100% attraction stress of 6 to 12 MPa and elongation of 500 to 700% in a testing method of JIS K 7311.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｋ ７３１１の試験方法において、６０〜１２０ＪＩＳ Ａの硬さ、６〜１２ＭＰａの１００％引力応力、および５００〜７００％の伸びを有する樹脂フィルムを用いて、認識ベルトを製造する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of performing a test in a state that a maximum delay occurs in data transfer because a maximum load is applied to a bus, and to provide a maximum delay testing method of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

バスに最大負荷がかかり、データ転送に最大の遅延が生じた状態でのテストを可能にする半導体集積回路及び半導体集積回路の最大遅延試験定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an evaluation testing arrangement and an evaluation testing method of a fouling inhibitor capable of simulating operation conditions of various actual devices and evaluating the fouling inhibitor in a condition extremely closing to the actual devices.例文帳に追加

種々の実装置の運転条件を模擬することができ、実装置に極めて近い条件でファウリング防止剤の評価を行うことができるファウリング防止剤の評価試験装置および評価試験方法を提供する。 - 特許庁

The carrier tape is produced from a sheet of a lactic acid based polymer having a storage elastic modulus E' at 120°C of at least 100 MPa in the testing method on temperature dependence of dynamic viscoelasticity based on JIS K 7198.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｋ７１９８に基づく動的粘弾性の温度依存性に関する試験方法における１２０℃での貯蔵弾性率Ｅ’が、１００ＭＰａ以上である乳酸系重合体からなるシートから製造する。 - 特許庁

To provide a confirmation testing method and a system for easily confirming a throughput on a target board at the time of performing a test by a real machine in the software development of a portable telephone set.例文帳に追加

携帯電話機のソフトウェア開発における実機による試験において、ターゲットボード上で、容易にスループットを確認することができるスループット確認試験方法およびスループット確認試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a scratchability testing machine for floor material easily measuring and evaluating the scratchability of a floor material under a condition similar to the actual using state of the floor material with good reproducibility, and a testing device and testing method using it.例文帳に追加

床材の傷付き性を、床材の実際の使用状況と類似した条件で容易に再現性よく測定・評価できる床材用傷付き性試験機、及びこれを用いた試験装置、試験方法の提供。 - 特許庁

To provide a foam discharge testing device and a foam discharge testing method by which the time and labor for the foamg discharge test of a foam fire extinguishing equipment is eliminated, the cost for an inspection is inexpensive, and the possibility of contaminating environment is small.例文帳に追加

泡消火設備の泡放出試験に手間がかからず、点検に要する経費も低廉で、環境を汚染するおそれの少ない泡放出試験装置および泡放出試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an engine testing device that easily and properly reproduces an engine behavior of an actual vehicle at an abrupt change in engine rotation speed such as at the time of engine start-up or speed change, and to provide an engine testing method.例文帳に追加

エンジン始動時や変速時などのエンジン回転速度の急変時における実車でのエンジン挙動を容易かつ的確に再現することのできるエンジン試験装置及びエンジン試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method and a device by which the contact area of a sample solution and the wall of a biochip is kept small and a reaction rate between a substance to be tested in a sample solution and a specific binding substance in the biochip is enhanced.例文帳に追加

サンプル液とバイオチップの壁面との接触面積を小さく保ち、且つ、サンプル液の被検物質とバイオチップの特異結合物質との反応速度を高める検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a facing connection testing method confirming whether a function to respond to various errors which can only occur rarely in communication between communicating functions implemented in relation to communication protocol of a certain hierarchy.例文帳に追加

或る階層の通信プロトコルに準拠した通信機能同士の通信において稀にしか起きえない各種エラーに対処するための機能が適切に動作するかを確認できる対向接続試験方法を、提供する。 - 特許庁

By the coating film testing method, the defect of the coating film caused by a coating material thereof can be more easily discovered, and the testing can be performed more rapidly than SST (salt water spray testing).例文帳に追加

このような塗膜検査方法によれば、その蛍光を検査することによりその塗料による塗膜の欠陥をより容易に発見することができ、ＳＳＴ検査（塩水噴霧試験）より速く検査することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing method capable of securing reliability to rated voltage of a semiconductor without thermal runaway of the semiconductor in a reliability test where voltage is applied in the reverse direction of semiconductor having pn junction.例文帳に追加

ｐｎ接合を有する半導体の逆方向に電圧を印加する信頼性試験において、該半導体を熱暴走させることなく半導体の定格電圧に対する信頼性を保証できる方法を提供する。 - 特許庁

To solve a problem wherein underground survey is not able to be carried out when an obstacle exists in a just upper side of the area where a survey objective substance exists, in an underground survey method using an alternating current electric testing method.例文帳に追加

交流電気試験方法を用いた地中探査方法において、探査対象物質が存在する領域の直上に障害物が存在している場合に地中探査を行うことができない。 - 特許庁

To provide a testing device, a quality determination reference setting device, a testing method and a test program capable of detecting highly sensitively and reliably abnormality in a static electric power source current value by taking dispersion in a process condition into account.例文帳に追加

プロセス条件のばらつきを考慮した、静的電源電流値の異常を高い感度・及び信頼性で検出可能な試験装置、良否判定基準設定装置、試験方法及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁

In the accelerated weathering resistant testing method for a coating film using a remote plasma apparatus, the inside of the apparatus is set to a reduced pressure state, and e.g. oxygen gas is introduced to the inside of the apparatus.例文帳に追加

リモートプラズマ装置を用いることを特徴とする塗膜の促進耐候性試験方法であって、上記リモートプラズマ装置内を減圧状態にすることができるとともに、例えば、酸素ガスを装置内に導入することができる。 - 特許庁

To provide a testing method for the installation of an overcurrent alarm device, which enables simple testing without need for any electrical equipment specially prepared only for checking operation or any burdensome work, such as looking for an outlet.例文帳に追加

動作確認の試験のためだけにわざわざ電気機器を用意したり、コンセントを探す等の煩雑な作業を必要とすることがなく、簡単に試験をすることができる過電流警報装置の設置試験方法を提供する。 - 特許庁

In a Web load testing method, a load simulator 22a interrupts access to a Web server device 10 by a virtual Web client 201 until all the response messages of a sequence set as synchronous points is acquired by all virtual Web clients 201, 202 and 203.例文帳に追加

負荷シミュレータ２２ａは、同期ポイントとして設定された順番のレスポンスメッセージを全ての仮想ウェブクライアント２０１，２０２，２０３，…が取得するまで、仮想ウェブクライアント２０１によるウェブサーバ装置１０へのアクセスを、中断させる。 - 特許庁

To provide a molding for medical use having well-balanced stiffness, impact resistance and transparency, and satisfying the quality of dialysis fluid supply sections and dialysis fluid circuits, and the testing method 1(2) specified in the Production Acceptance Criteria for Dialysis-type Artificial Kidney Apparatuses.例文帳に追加

剛性と耐衝撃性、透明性のバランスに優れ、かつ透析型人工腎臓装置承認基準のうち、透析液供給部及び透析液回路の品質及び試験法１（２）を満足する医療用成形品を提供する。 - 特許庁

To provide a report server device, report system, and report equipment testing method capable of discriminating automatically whether or not a test report signal is right even while the report system is being operated without providing the report equipment with a special constitution.例文帳に追加

本発明は、特別の構成を通報機器に備える必要もなく、通報システムの運用中でも試験通報信号の是非を自動的に区別し得る通報サーバ装置、通報システム及び通報機器試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an evaluation device for an electroplating liquid capable of evaluating the throwing power properties that is one of the characteristics of an electroplating liquid, using a wide range of current density being the feature of a Hull cell testing method, and to provide an evaluation method of the electroplating liquid.例文帳に追加

電気めっき液の特性の一つであるつきまわり性を、ハルセル試験法の特徴である広範囲な電流密度で、評価することが出来る電気めっき液の評価装置及びその評価方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a unit module testing method, with which a setting error at the time of preparing test data to be used for a unit module test can be decreased and the visibility of the result of the unit module test can be improved.例文帳に追加

単体モジュール試験に使用する試験データの作成時における設定ミスを減少させることができ、かつ、単体モジュール試験の結果の視認性を向上させることができる単体モジュール試験方法を提供すること。 - 特許庁

This post-operative prognosis testing method for the patients with lung cancer, which includes measuring of the amount of manifestation endogenous secretory RAGE (Endogenous Secretory Receptor for Advanced Glycation End products: esRAGE), a test kit used for the above method, a prognosis testing reagent for the patients with lung cancer comprising anti-esRAGE antibody, etc.例文帳に追加

内在性分泌型RAGE（Endogenous Secretory Receptor for Advanced Glycation End products :esRAGE）の発現量を測定することを含む、肺癌患者の術後予後検査方法、それに使用する検査キット、抗esRAGE抗体から成る肺癌患者の予後検査用試薬等を提供する。 - 特許庁

To provide an interface board testing device and an interface board testing method which can test an interface board in a short period of time, and obtain an appropriate test result independently of analog characteristics of a member stored in a slot.例文帳に追加

短時間でインタフェースボードを試験することができ、かつ、スロットに格納される部材のアナログ特性に依存せず、適切な試験結果を得ることができるインタフェースボード試験装置及びインタフェースボード試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an accelerated drying method for a hydraulic material for dramatically shortening a test period having required a half year to one year in a conventional test method and to provide a length change testing method for a hydraulic material.例文帳に追加

従来の試験方法で必要であった半年から１年の試験期間を飛躍的に短縮できる水硬性材料の促進乾燥方法および水硬性材料の長さ変化試験方法を提供することにある。 - 特許庁