「"Testing Method"」に関連した英語例文の一覧と使い方(33ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor-device testing method for executing high-reliability determination of a non-defective product and a defective product of semiconductor devices.例文帳に追加

信頼性の高い半導体デバイスの良品／不良品判定を行うことができる半導体デバイス試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

(3) This scratchability testing method for floor material comprises performing a test by spraying a particulate material on the floor material by use of the testing machine according to claim 3.例文帳に追加

（３）請求項３記載の試験装置を用い、床材上に粒子状物質を散布して試験を行なう床材の傷付き性試験方法。 - 特許庁

To provide a nondestructive testing method for inspecting a piezoelectric ceramic element, capable of surely detect internal flaws, and is incapable of being detected at normal temperatures.例文帳に追加

常温では検出することができない内部欠陥を、非破壊で確実に検出することができる圧電セラミック素子の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an indoor tire durability testing method capable of reproducing and accurately evaluating tire failures on the market, using an indoor tire durability machine.例文帳に追加

室内タイヤ耐久試験機を用いて市場でのタイヤ故障を精度良く再現して評価することを可能にした室内タイヤ耐久試験方法を提供する。 - 特許庁

CONTROL ROD DRIVE, TESTING METHOD AND DEVICE OF CONTROL ROD DRIVE, INSPECTION DEVICE OF CONTROL ROD DRIVE, STORAGE METHOD AND APPARATUS OF CONTROL ROD DRIVE, AND TORQUE TRANSPORT UNIT例文帳に追加

制御棒駆動装置、その試験方法及びその試験装置、その点検装置、その保管方法及びその保管装置、並びにトルク伝達装置 - 特許庁

To provide semiconductor wafer reduced in the manufacturing cost thereof and the testing method of a ferroelectric memory device which is capable of reducing the manufacturing cost of the same.例文帳に追加

製造コストが低減された半導体ウエハ、ならびに製造コストを低減することができる強誘電体メモリ装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a shearing testing method and a shearing testing tool, which finds easily and directly a shearing strength of concrete.例文帳に追加

簡単で、直接的にコンクリートのせん断強度を求めることのできるせん断試験方法及びせん断試験用治具を提供することを解決課題とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, a testing method for the semiconductor device and tester for the semiconductor device, capable of realizing a high speed timing test at a low cost.例文帳に追加

低コストで高速なタイミングテストを実現できる半導体装置、半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

To achieve a testing method and IC tester of a semiconductor integrated circuit capable of detecting a short between pins even when it is not a complete short.例文帳に追加

完全なショートでなくとも、ピン間ショートの検出が行える半導体集積回路の試験方法及びＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a Web load testing method and Web load testing program for imposing a large access load on an arbitrary period in a Web load test.例文帳に追加

ウェブ負荷試験において大きなアクセス負荷を任意の時期に掛けられるようにできるウェブ負荷試験方法及びウェブ負荷試験プログラムを、提供する。 - 特許庁

To provide a communication program testing method and a communication program testing system for performing the communication load test of a program by minimizing the consumption of the resource of a server.例文帳に追加

サーバのリソースの消費を最小限にしてプログラムの通信負荷試験を行う通信プログラム試験方法及び通信プログラム試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide the accurate and efficient adjustment testing method and device of digital communication equipment using a quadrature modulation signal.例文帳に追加

通信機器の調整試験に関し、特に直交変調信号を用いるデジタル通信機器の正確で効率的な調整試験方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATOR, TEST CIRCUIT TESTER, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST CIRCUIT TESTING METHOD, TEST PATTERN GENERATION PROGRAM, TEST CIRCUIT TESTING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

試験パターン生成装置、テスト回路試験装置、試験パターン生成方法、テスト回路試験方法、試験パターン生成プログラム、テスト回路試験プログラム、および記録媒体 - 特許庁

To provide a board conversion cable for a multiple-pin tester and an IC testing method capable of using an IC measuring board and IC testing software in common.例文帳に追加

ＩＣ測定用ボードとＩＣテスト用ソフトの共用化を可能とすることができる多ピンテスター用ボード変換ケーブルおよびＩＣテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for confirming the compatibility of an ink-jet printer without actually replacing an ink-jet head cartridge and executing a printing test.例文帳に追加

実際にインクジェットヘッドカートリッジを交換して印字検査を行うことなく、インクジェットプリンタの互換性を確認することができる検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a circuit opening test system and circuit opening testing method which permit elimination of a waiting time for an opening test even when the opening tests overlap with each other.例文帳に追加

開通試験が重なっても、開通試験の待ち時間を無くすことを可能にする回線開通試験システムおよび回線開通試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an acceleration testing method and an acceleration testing device, by which deterioration caused by a manufacturing step such as A1 wiring corrosion or the like, can be accelerated for testing with reproducibility.例文帳に追加

加速試験方法及び加速試験装置に関し、Ａｌ配線コロージョン等の製造工程に起因する劣化を再現性良く加速試験する。 - 特許庁

To provide a durability testing method for tires comprising a deterioration acceleration process capable of reproducing a secularly deteriorated state of a tire in a short time with high precision.例文帳に追加

タイヤが経時劣化した状態を短時間で精度良く再現させうる劣化促進工程を含むタイヤの耐久試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a load testing method capable of applying a load to a specimen in a target wave form without repeatedly shaking the specimen.例文帳に追加

供試体を繰り返し加振することなく、目標波形で供試体に荷重負荷を加えることができる荷重負荷試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an output circuit and a testing method that can diagnose a drive capability of an output buffer even if a capacitive load is connected to an external terminal.例文帳に追加

容量性負荷が外部端子に接続されている場合でも、出力バッファのドライブ能力の診断が可能な出力回路とテスト方法を提供する。 - 特許庁

The life testing method is applied to the ball bearing having at least an orbital ring which is made of a steel for bearings and whose orbital surface is subjected to a hardening process.例文帳に追加

少なくとも軌道輪が軸受用鋼よりなり、軌道輪の軌道面に硬化処理が施された転がり軸受の寿命試験方法である。 - 特許庁

To provide a testing method for suitably evaluating the strength of cleats by precisely simulating a contact load (W) applied to the cleats of a belt with cleats, and to provide a testing apparatus.例文帳に追加

桟付ベルトの桟に加わる当接荷重（Ｗ）を正確に模擬することによって、桟強度を好適に評価する試験方法及び試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a degradation promotion testing method for efficiently and highly accurately evaluating durability of a side surface section of a tire degrading with time.例文帳に追加

経時的に劣化したタイヤの側面部の耐久性を、効率的に、かつ、高い正確性をもって評価する劣化促進試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a genetic testing method capable of accurately predicting a risk of occurrence of a cancer cell mass or the effect of a therapy in an early stage or after prognosis.例文帳に追加

精度良く、早期に、又は予後における癌細胞集団の存在リスクや、治療効果を予測することが可能な遺伝子検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for easily and surely testing joint strength between two layers of metallic composite material such as a sputter target/ receiving plate assembly.例文帳に追加

スパッタターゲット／受け板組立体のような、金属複合材料の二層間の接合強度を容易且つ確実に試験する方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing method for a driving force transmission system which eliminates the shaft slippage of each clutch plate, thereby enabling the more accurate measurement of rotational unbalance.例文帳に追加

各クラッチプレートの軸ずれを排除して、より正確に回転アンバランスを測定することのできる駆動力伝達装置の試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing method capable of discriminating good elements from defective elements by detecting quickly without fail a defective photo-electric converter.例文帳に追加

光電気変換器の不良品を高速かつ確実に検出して、優良素子と不良素子とを区別することができる試験方法が必要である。 - 特許庁

TEST PIECE FOR EVALUATING INTERFACIAL ADHESIVENESS, MOLDING METHOD THEREOF AND TESTING METHOD FOR EVALUATING INTERFACIAL ADHESIVENESS OF REINFORCING FIBER AND RESIN例文帳に追加

界面接着性評価用試験片、界面接着評価用試験片の成形方法、および強化繊維と樹脂との界面接着性を評価する試験方法 - 特許庁

To provide a testing circuit and a testing method of a semiconductor integrated circuit for suppressing an increase in chip area and easily analyzing fail in a semiconductor memory.例文帳に追加

チップ面積増加を抑制し、且つ半導体記憶装置の不良解析が容易な半導体集積回路の試験回路及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a lift-off testing method of an anchor, capable of re-tensioning various anchors, and improving efficiency and safety of testing work.例文帳に追加

多様なアンカーに対して再緊張が可能であり、かつ試験作業の効率と安全性を向上させたアンカーのリフトオフ試験方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a concrete testing method capable of easily determining the segregation of concrete without the need for time and effort with clear criteria for the determination.例文帳に追加

手間をかけずに簡単にコンクリートの材料分離を判定することができ、しかも、その判定基準が明確であるコンクリートの試験方法を提供する。 - 特許庁

AIR FILTER FOR GAS TURBINE, AND WASHING METHOD AND WASHING SYSTEM FOR THE SAME, AND SERVICE LIFE PREDICTION TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

ガスタービン吸気用フィルタ、ガスタービン吸気用フィルタの洗浄方法、ガスタービン吸気用フィルタの洗浄システム、及び、ガスタービン吸気用フィルタの寿命予測試験方法 - 特許庁

To provide a durability testing device and a durability testing method by which durability of a liquid crystal panel can be appropriately evaluated in a short period of time.例文帳に追加

液晶パネルの耐久性を短時間で適正に評価することができる耐久性試験装置および耐久性試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing device and its testing method for a semiconductor element, suppressing progression of breakdown of the semiconductor element by over current.例文帳に追加

本発明は、過電流による半導体素子の破壊の進行を抑えることができる、半導体素子の試験装置及びその試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a tablet disintegration testing apparatus and a disintegration testing method for simply and reproducibly evaluating the disintegration characteristic of a tablet (orally-disintegrating tablet).例文帳に追加

簡便にかつ再現性よく錠剤（口腔内崩壊錠）の崩壊性を評価できる崩壊試験装置及び崩壊試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a slip evaluating/testing apparatus and a slip evaluating/testing method for accurately evaluating a slip phenomenon when a rolling element is a spherical body.例文帳に追加

転動体が球体の場合における滑り現象を正確に評価することができる滑り評価試験装置及び滑り評価試験方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR CRYSTAL DEFECT TESTING METHOD AND EQUIPMENT THEREOF, AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD USING THE SEMICONDUCTOR CRYSTAL DEFECT TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

半導体結晶欠陥検査方法、半導体結晶欠陥検査装置、及びその半導体結晶欠陥検査装置を用いた半導体装置の製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS MOUNTING STRUCTURE, ITS MOUNTING METHOD, ITS TESTING METHOD, ITS QUALITY DISPLAYING METHOD, ITS TRANSPORTING METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置、その実装構造、その実装方法、その試験方法、その品質表示方法、その運搬方法、及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing method for testing a signal which is inputted or outputted in reality without requiring a reference sample.例文帳に追加

リファレンスサンプルを必要とすることなく、実際に入出力する信号の試験を行うことができる半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a performance testing method capable of obtaining testing data with high reproducibility and reliability in a performance testing of a sludge incinerator.例文帳に追加

汚泥焼却炉の性能試験において、再現性及び信頼性の高い試験データを取得することが可能な性能試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a module for testing that does not damage an electrode pad of a semiconductor device and restrains test costs, and to provide a testing method of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の電極パッドへの損傷を与えず、且つ、試験コストを抑える試験用モジュール及び半導体装置の試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing device and a testing method capable of properly evaluating cleanliness of lubrication oil for an internal combustion engine at a piston under a crown in a laboratory.例文帳に追加

実験室で内燃機関用潤滑油のピストンアンダークラウンでの清浄性を適正に評価することができる試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

INTERACTION TESTING DEVICE OF BIO-MOLECULE, INTERACTION TESTING METHOD OF BIO-MOLECULE, MELTING TEMPERATURE MEASURING METHOD OF BIO-MOLECULE, AND ARRAY DETECTION METHOD OF NUCLEIC ACID例文帳に追加

生体分子の相互作用試験装置、生体分子の相互作用試験方法、生体分子の融解温度測定方法、核酸の配列検知方法 - 特許庁

To provide an electrode pattern testing method that can test an electrode pattern of a PDP(plasma display panel) and other FPDs(flat panel display) having the same structure with high accuracy.例文帳に追加

ＰＤＰやその他同様の構造を持つＦＰＤの電極のパターン検査を精度良く行うことができる電極パターン検査方法を提供する。 - 特許庁

CORROSION TESTING METHOD FOR ANTICORROSIVE STEEL FOR CARGO HOLDS OF COAL CARRYING SHIPS AND COMBINED COAL/ORE CARRYING SHIPS, AND METHOD OF PREDICTING SERVICE LIVES OF SHIPS BY USING THE SAME例文帳に追加

石炭船および石炭・鉱石兼用船ホールド用耐食鋼の腐食試験方法及びそれを用いた船舶の使用寿命を予測する方法 - 特許庁