「"Testing Method"」に関連した英語例文の一覧と使い方(32ページ目) - Weblio英語例文検索

INDUCTOR RECOGNIZING METHOD, LAYOUT TESTING METHOD, COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM RECORDED WITH LAYOUT TEST PROGRAM, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

インダクタ認識方法、レイアウト検査方法、レイアウト検査プログラムを記録したコンピュータ読取可能な記録媒体および半導体装置の製造方法 - 特許庁

To provide a convenient and nondestructive testing method capable of acquiring an interface data and limit dimension information of a material.例文帳に追加

材料の界面データおよび限界寸法情報をもたらし得る、便利かつ非破壊的な試験技術の必要性が強く感じられている。 - 特許庁

To provide a soil pollutant elution testing method which enables the evaluation of long-term stability over a short period by a simple method.例文帳に追加

簡便な方法で短期間に長期安定性を評価し得る土壌汚染物質溶出試験方法を提供することを一の課題とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of easily driving an internal circuit on the outside of a chip under the state of a package and a testing method.例文帳に追加

パッケージ状態においてチップの外部で容易に内部回路を駆動することができる半導体装置及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for a magnetic head for a magnetic disk drive which can improve the limit performance corresponding to a very- narrow-width head.例文帳に追加

極小トラック幅ヘッド対応の限界性能を向上させることができる磁気ディスクドライブ用磁気ヘッドの試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for a touch panel and a testing method for a touch panel that are capable of decreasing the number of routing wires and enabling testing in a short period of time.例文帳に追加

引回し配線の数を減らし、短時間の検査を可能とするタッチパネルの検査装置およびタッチパネルの検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a reading comprehension testing method and device with which the document reading comprehension of a human being can be measured in a short time and with high accuracy.例文帳に追加

人間の文書読解力を、短時間かつ高精度に測定することを可能とする読解力試験方法及び装置の提供。 - 特許庁

The testing method is constituted for changing the restraint, by making the test body holding means 4 stop in the middle of testing by the test body restraining control means 6.例文帳に追加

試験途中に試験体拘束制御手段６により試験体保持手段４を停止させ、拘束状態を変更する試験方法。 - 特許庁

To sufficiently detect a defect of a magnetic metal body, using a magnetic impedance effect type sensor by a magnetic leakage flux testing method.例文帳に追加

磁性金属体の欠陥を漏洩磁束探傷試験方法により磁気インピーダンス効果型センサを用いて良好に検出できるようにする。 - 特許庁

NUCLEIC ACID IMMOBILIZING SUBSTRATE, METHOD FOR MANUFACTURING SAME, NUCLEIC ACID TESTING DEVICE, METHOD FOR MANUFACTURING SAME AND NUCLEIC ACID TESTING METHOD例文帳に追加

核酸固定用基材、核酸固定用基材の製造方法、核酸検査用デバイス、核酸検査用デバイスの製造方法、並びに核酸検査方法 - 特許庁

To provide a hardness testing machine and a hardness testing method that can perform an automatic test independent from an error of an inclination and a flatness of a sample.例文帳に追加

試料の傾きや平面度の誤差に依存せず、自動試験を行うことのできる硬さ試験機及び硬さ試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a circuit test tool and a circuit testing method capable of stably performing a test using metal pogo pins.例文帳に追加

金属ポゴピンを使用して行う試験を安定した状態で行なうことができる回路試験用治具および回路試験方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER AND SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE SAME AND CHIP SIZE PACKAGE, AND SEMICONDUCTOR WAFER MANUFACTURING METHOD AND SEMICONDUCTOR WAFER TESTING METHOD例文帳に追加

半導体ウェーハとそれを用いた半導体素子及びチップサイズ・パッケージ並びに半導体ウェーハの製造方法、半導体ウェーハの検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR CIRCUIT, SEMICONDUCTOR CIRCUIT CHARACTERISTICS MONITORING METHOD, SEMICONDUCTOR CIRCUIT TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR CIRCUIT TESTING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR CIRCUIT TESTING PROGRAM例文帳に追加

半導体回路、半導体回路特性監視方法、半導体回路試験方法、半導体回路試験装置及び半導体回路試験プログラム - 特許庁

To provide an address line of flash memory for shortening the testing time, a testing method of a testing device, and the testing device.例文帳に追加

試験時間の短縮化を図ったフラッシュメモリのアドレス線及び試験装置の試験方法及び試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system and semiconductor testing method which is high in productivity per unit occupying area and is superior in effective working ratio.例文帳に追加

単位占有面積当りの生産性が高く、実効稼働率に優れた半導体テストシステムおよび半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor wafer testing method capable of testing whether each optical semiconductor device is normally operated or not, before completion.例文帳に追加

各光半導体装置が完成する前に正常動作するか否かを試験することが可能な、半導体ウェハの試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for accurately grasping the damages generated in a metal material inside a living body and the durability, and to provide its apparatus.例文帳に追加

生体用金属材料が生体内で受ける損傷および耐久性を正確に把握できる試験 方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

RING OSCILLATING CIRCUIT, DELAYED TIME MEASURING CIRCUIT, TEST CIRCUIT, CLOCK SIGNAL GENERATING CIRCUIT, IMAGE SENSOR, PULSE GENERATING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

リング発振回路、遅延時間測定回路、テスト回路、クロック発生回路、イメージセンサ、パルス発生回路、半導体集積回路、及び、そのテスト方法 - 特許庁

To provide a DDR-SDRAM interface circuit in which the loop-back test can be more exactly performed, and its testing method and its testing system.例文帳に追加

ループバック試験をより正確に行うことが可能なＤＤＲ−ＳＤＲＡＭインターフェース回路、その試験方法、その試験システムを提供すること。 - 特許庁

The testing method includes a procedure to move the substrate table in the first direction x, and one to measure the characteristic of the extending pattern in the first direction.例文帳に追加

検出方法は、基板テーブルを第一方向に移動させ、その第一方向ｘに沿って延在パターンの特性を測定することを含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor element testing method enabling easy test with a good reproducibility even if a semiconductor chip has a warp.例文帳に追加

半導体チップが反りを生じていても再現性よく、かつ、簡便にテストを実施することができる半導体素子の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide the semiconductor chip and the testing method of the chip, with which damage to a guard ring and the damaged location can be specified.例文帳に追加

ガードリングが損傷していること、および、その損傷箇所を特定することができる半導体チップおよびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method of an elevator load weighing device capable of easily testing an action of a load weighing switch without a special device.例文帳に追加

特別な装置を必要としなく、また、容易に秤スイッチの動作試験を行うことができるエレベータ秤装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method and a testing fixture capable of surely determining the occurrence status of a whisker even in a comparatively simple structure.例文帳に追加

比較的簡易な構造でありながら、確実にウイスカ発生状況の判定を行える試験方法及び試験用治具を提供すること。 - 特許庁

BITTERNESS, SOURNESS, OR ASTRINGENCY TESTING METHOD AND DETECTING METHOD OF SYNERGISTIC/DEPRESSION EFFECT ON BITTERNESS, SOURNESS, OR ASTRINGENCY例文帳に追加

渋味、苦味または収斂味検査方法および渋味、苦味または収斂味に対する相乗効果または抑制効果を検知する方法 - 特許庁

QUALITY TESTING METHOD, MANUFACTURING METHOD AND MANUFACTURING APPARATUS FOR TESTPIECE USED FOR ANALYZING BIOLOGICAL MATTER, AND METHOD USING ABOVE TESTPIECE FOR ANALYZING BIOLOGICAL MATTER例文帳に追加

生体関連物質解析用試験片の品質検査方法、製造方法および製造装置ならびに該試験片を用いた生体関連物質の解析方法 - 特許庁

To provide a salt damage testing method for an ventilating air filter unit, allowing objective salt damage test at any site in a short time, and to provide its device.例文帳に追加

任意の場所において短時間で客観的な塩害試験を行うことができる換気用エアフィルタユニットの塩害試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide an IC tester and a testing method capable of testing characteristics of thin-type-display drivers when their output changes while reducing the test time.例文帳に追加

試験時間を抑制しつつ、薄型ディスプレイドライバの出力変化時特性の試験が行えるＩＣテスタ及び試験方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a structure and testing method for suppressing peak power consumption at the time of testing an integrated circuit device.例文帳に追加

集積回路装置のテスト時におけるピークの消費電力を抑制するための構造，テスト方法，設計方法及び設計用データベースを提供する。 - 特許庁

To provide a testing method of rolling-contact fatigue life for investigating the durability under foreign substance mixing lubrication while suppressing variation in test result.例文帳に追加

試験結果のばらつきを抑制しつつ、異物混入潤滑下における耐久性を調査することが可能な転動疲労寿命の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for a facsimile machine that can relive a load on a person measuring, and to provide the facsimile machine and a facsimile testing device.例文帳に追加

測定者の負担を軽減できるファクシミリ装置の試験方法およびファクシミリ装置およびファクシミリ試験装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a testing method of the end part of a plate glass capable of easily testing at low cost the end part of a plate glass housed in a plate glass holder.例文帳に追加

板ガラス保持体に収容された板ガラスの端部を安価且つ容易に検査することができる板ガラスの端部の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method effective for grasping the accurate morbid state of a wound and a method of confirming the curing effect of a wound remedy.例文帳に追加

創傷の正確な病態を把握するために有効な検査方法、および創傷治療剤の治療効果を予測するための確認方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inter-hole permeability testing method and a grout effect determining method capable of efficiently investigating gas permeability of base rock of a wider range.例文帳に追加

より広範囲の岩盤の透気性を効率良く調べることが可能な孔間透気試験方法及びグラウト効果判定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a cavity testing method of concrete construct which can test a cavity for its presence and degree by boring only a single hole into the cavity.例文帳に追加

空洞に対し１カ所への穿孔でその空洞の有無と程度とを検査することの可能なコンクリート構造物の空洞検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a nondestructive testing method capable of properly and quickly deciding whether or not a welding is properly performed to obtain a required weld strength nondestructively.例文帳に追加

適正に溶接が行われて必要溶接強度が出ているかどうかを破壊することなく適正迅速に判定できる非破壊検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit and a circuit testing method, which can perform the test for all clock cycles without omission, without decreasing the operational clock frequency.例文帳に追加

動作クロック周波数を落とさずに全てのクロックサイクルについてのテストを漏らさずに行うことが可能なテスト回路及び回路テスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing method for checking operation and function of a single LSI for proximity IC card before mounting it to a card, in a proximity IC card.例文帳に追加

非接触ＩＣカードにおいて、非接触ＩＣカードＬＳＩをカードに組み込む前に単体で、動作および機能確認を行なう試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide the testing method of the physical layer chip of IEEE1394 Standards, which can conduct a system test, without having to construct an expensive and complicated system.例文帳に追加

高価で複雑なシステムを構築せずにシステムテストを行うことができるＩＥＥＥ１３９４規格の物理層チップのテスト方法等を提供する。 - 特許庁

The fatigue testing method of the solder joint part near to a subject substrate of the solder joint structure having the through-hole type inserting and joint part is provided.例文帳に追加

スルーホールタイプの挿入接合部を有するはんだ接合構造体の実体基板に近いはんだ接合部の疲労試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a vertical loading testing method of the directly under ground confirming availability of the directly under ground of a structure without pulling down a foundation of the existing structure.例文帳に追加

既存構造物の基礎を取り壊すことなく、構造物の直下地盤の利用可能性を確認する直下地盤の鉛直載荷試験方法を提供する。 - 特許庁

The testing method eliminates other factors of loss to isolate the loss due to the ferroelectric material and to demonstrate that this loss is low.例文帳に追加

この試験方法は、損失の他のソースを消去して、強誘電体材料に起因する損失を隔離し、かつこの損失が小さいことを実証する。 - 特許庁

To provide a prober capable of conducting an accurate test without reference to variation in test temperature, and a semiconductor wafer testing method using the same.例文帳に追加

検査温度の変化にかかわらず、正確な検査を行なうことが可能なプローブ装置及びそれを用いた半導体ウェハの検査方法を提供する。 - 特許庁

In this roof tile lifting load testing method, a lifting load is applied to the roof tile 17 in a predetermined form by means of the roof tile lifting load testing device 1.例文帳に追加

瓦の引き上げ荷重試験方法は、前記瓦の引き上げ荷重試験装置１を用いて屋根瓦１７に所定の態様で引き上げ荷重をかける。 - 特許庁