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「"Testing Method"」に関連した英語例文の一覧と使い方(29ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > "Testing Method"に関連した英語例文

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"Testing Method"を含む例文一覧と使い方

該当件数 : 2141



例文

To provide an optical fiber cable testing method, capable of evaluating mechanical test characteristics of every optical fiber conductor.例文帳に追加

光ファイバ心線毎の機械試験特性の評価が可能な光ファイバケーブルの試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing apparatus and a testing method for diagnosing a plurality of input/output pins by one-time diagnosis.例文帳に追加

複数の入出力ピンを一度の診断で診断するための試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a corrosion testing method for evaluating corrosion on the back of the upper deck of a vessel ballast tank.例文帳に追加

船舶のバラストタンクの上甲板裏の腐食を評価する腐食試験方法を提案することを目的とする。 - 特許庁

ATM TESTING DEVICE, ATM TESTING METHOD USED FOR THE SAME AND RECORDING MEDIUM RECORDING CONTROL PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

ATM試験装置及びそれに用いるATM試験方法並びにその制御プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

例文

In this testing method, the surfactant solution A is used as the solution in which the composite test piece 3 is immersed.例文帳に追加

かかる方法によれば、複合試験片3を浸漬させる溶液として、界面活性剤溶液Aを用いる。 - 特許庁


例文

To provide a crack testing method for pneumatic tires capable of suppressing an increase in a testing time by promoting ozone depletion.例文帳に追加

オゾン劣化を促進させて試験時間の増加を抑えうる空気入りタイヤのクラック試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a safety testing method for a hollow fiber membrane module of a hollow fiber membrane filter device.例文帳に追加

中空糸膜ろ過装置の中空糸膜モジュールの安全性試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

AUDIO PLAYBACK DEVICE TEST SYSTEM, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AUDIO PLAYBACK EVALUATION SYSTEM, AND TESTING METHOD FOR AUDIO PLAYBACK DEVICE例文帳に追加

音声再生装置テストシステム、集積回路装置、音声再生評価システム、音声再生装置のテスト方法 - 特許庁

To provide a testing device and a testing method for easily and safely evaluating the load bearing insulation characteristics of a film.例文帳に追加

フィルムの耐荷重絶縁特性を簡易かつ安全に評価し得る試験装置、並びに試験方法を提供する。 - 特許庁

例文

HOSE PRESSURE RESISTANCE TESTING METHOD, HOSE PRESSURE RESISTANCE TESTING APPARATUS, AND HIGH-PRESSURE AUTOMATIC SELECTOR VALVE USED FOR THE SAME例文帳に追加

ホース耐圧試験方法,ホース耐圧試験装置及びホース耐圧試験装置に用いる高圧自動切替え弁 - 特許庁

例文

To provide a semiconductor device, a test substrate, a testing system of the semiconductor device, and to provide a testing method of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置、テスト基板、半導体装置のテストシステム及び半導体装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁

VIDEO HEAD CLOGGING TESTING METHOD FOR VIDEO RECORDING/ REPRODUCING DEVICE AND RECORDING METHOD THEREFOR例文帳に追加

映像記録再生装置におけるビデオヘッドの目詰まり検査方法および映像記録再生装置における記録方法 - 特許庁

To provide a collision testing apparatus capable of easily reproducing a collision, and a collision testing method.例文帳に追加

衝突の再現を容易に行うことができる衝突試験装置及び衝突試験方法を提供する。 - 特許庁

MOTHER PANEL FOR INFORMATION DISPLAY PANEL, ENERGIZATION TESTING METHOD FOR SAME, AND INFORMATION DISPLAY PANEL MANUFACTURED BY USING MOTHER PANEL例文帳に追加

情報表示パネルのマザーパネル、その通電検査方法およびマザーパネルを用いて作製した情報表示パネル - 特許庁

To provide a testing method and a testing apparatus for accurately evaluating damage generated in ironing.例文帳に追加

しごき加工時に発生する損傷を的確に評価することが可能な試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for a semiconductor device capable of measuring noise quantity without directly observing inside noise.例文帳に追加

内部のノイズを直接観察しなくてもノイズ量を測定できる半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a seat tester and a seat testing method for evaluating seat comfort objectively and quantitatively.例文帳に追加

座り心地を客観的かつ定量的に評価可能なシート試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

SVC CONNECTION CONTROL TESTING METHOD, STORAGE MEDIUM STORING SVC CONNECTION CONTROL TESTING PROGRAM AND NODE DEVICE例文帳に追加

SVCコネクション制御試験方法、SVCコネクション制御試験プログラムを記録した記憶媒体およびノード装置 - 特許庁

To provide an effective and appropriate airtightness testing method for checking and evaluating the airtightness performance of a clean room as a whole.例文帳に追加

クリーンルーム全体の気密性能を確認し評価するための有効適切な気密試験方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN GENERATION TOOL, AND TEST PATTERN DISPLAY TOOL例文帳に追加

半導体テスト方法、半導体テスト装置、テストパターン生成方法、テストパターン生成ツール、及びテストパターン表示ツール - 特許庁

To provide a semiconductor testing method capable of simultaneously performing a function test and a power supply voltage test.例文帳に追加

ファンクションテストと電源電圧試験とを同時に行うことの可能な半導体装置方法を提供する。 - 特許庁

To provide a hardness testing method and a program capable of quantitatively inspecting influence of an installation environment.例文帳に追加

設置環境の影響を定量的に検証することのできる硬さ試験方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

DIFFRACTION GRATING PATCH STRUCTURE, LITHOGRAPHIC APPARATUS, METHOD OF TESTING, METHOD OF MANUFACTURING DEVICE, AND DEVICE MANUFACTURED BY THE METHOD例文帳に追加

回折格子パッチ構造、リソグラフィ装置、試験方法、デバイス製造方法及び該方法によって製造したデバイス - 特許庁

TESTING METHOD FOR SUBSTANCE HAVING LATENT ACTIVITY IN LIPOLYSIS FIELD AND ITS APPLICATION MAINLY TO COSMETIC USAGE例文帳に追加

脂肪分解の分野において潜在的作用のある物質の試験方法及びその主に化粧用途への使用 - 特許庁

GAS IMPERMEABILITY/INSULATION PROPERTY TESTING METHOD OF POROUS GAS DIFFUSION ELECTRODE SEALING PORTION OF FUEL CELL, AND TESTING DEVICE THEREFOR例文帳に追加

燃料電池の多孔質ガス拡散電極シール部のガス不透過性・絶縁性試験方法及び試験装置 - 特許庁

To provide a testing method and device of an solar beam tracking power generating system capable of increasing the testing efficiency.例文帳に追加

試験の効率を高めることのできる集光追尾式発電システムの試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a core crease testing method for casting mold capable of exactly detecting core crease.例文帳に追加

中子の折れを正確に検出することが可能な、鋳造成形品の中子折れ検査方法を提供する。 - 特許庁

To prevent deterioration of measurement accuracy, even when testing an analog-digital converting circuit with a tester for exclusive use for logic, concerning an integrated circuit, a tester for the integrated circuit, a testing method for the integrated circuit, a program of the testing method for the integrated circuit, and a recording medium having recorded the program for the testing method of the integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、集積回路、集積回路の試験装置、集積回路の試験方法、集積回路の試験方法のプログラム及び集積回路の試験方法のプログラムを記録した記録媒体に関し、ロジック専用の試験装置でアナログディジタル変換回路を試験する場合でも、測定精度の劣化を防止することができるようにする。 - 特許庁

To provide an appropriate testing method of determining conducted radio frequency receiver sensitivity with respect to a plurality of channels.例文帳に追加

複数のチャネルに対し、伝導されたラジオ周波数受信器感度を決定する好適なテスト方法を提供する。 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL DISPLAY TESTING CIRCUIT, LIQUID CRYSTAL DISPLAY BUILT IN WITH THE SAME, AND LIQUID CRYSTAL DISPLAY TESTING METHOD例文帳に追加

液晶表示装置試験回路およびこれを組み込んだ液晶表示装置、並びに液晶表示装置の試験方法 - 特許庁

To provide a testing method for a non-volatile memory in which reliability is kept, a cycle time is shortened, and a manufacturing cost is reduced.例文帳に追加

信頼性を維持しつつ、サイクル時間短縮およびコスト削減を図った、不揮発性メモリ検査方法を提供する。 - 特許庁

TESTING SYSTEM, TESTING METHOD, TEST PROGRAM AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM RECORDED WITH TEST PROGRAM例文帳に追加

試験システム及び試験方法及び試験プログラム及び試験プログラムを記録した計算機で読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To provide an appropriate testing method of determining radiated radio frequency receiver sensitivity with respect to a plurality of channels.例文帳に追加

複数のチャネルに対し、放射されたラジオ周波数受信器感度を決定する好適なテスト方法を提供する。 - 特許庁

In the function liquid delivering property testing method, a predetermined time measured by a timer is firstly set at a timer setting step S1.例文帳に追加

機能液吐出性試験方法は、まず、タイマ設定工程S1において、タイマが計時する所定時間を設定する。 - 特許庁

To provide a simple testing method for a semiconductor integrated circuit dispensing with a great deal of economic burden.例文帳に追加

多大な経済的負担を要することなく、かつ簡易に行える半導体集積回路のテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sealed article with which leakage test can easily be conducted, its leakage testing method and its manufacturing method.例文帳に追加

漏れ検査を容易に行うことのできる密閉品並びにその漏れ検査方法及び製造方法を提供する。 - 特許庁

To perform a highly accurate nondestructive compressive strength testing method or a stress estimating method using a propagation velocity of vibration.例文帳に追加

振動の伝播速度を利用して高精度かつ簡単な非破壊圧縮強度試験或いは応力推定を行う。 - 特許庁

To provide a control circuit for a contact opening and closing device, and a semiconductor chip testing system and a semiconductor chip testing method using the control circuit.例文帳に追加

接点開閉装置の制御回路及びこれを用いた半導体チップテストシステム並びにテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical information medium testing method capable of detecting a defect in an optical information medium at higher probability.例文帳に追加

光情報媒体の欠陥をより高い確率で検出し得る光情報媒体の検査方法を提供する。 - 特許庁

To determine quality of interchip connection in semiconductor chips in a multi-chip module, by a simple test circuit and a simple testing method.例文帳に追加

マルチチップモジュールにおける半導体チップ間の接続の良否判定を簡易なテスト回路とテスト方法により行う。 - 特許庁

To provide a complementarity testing method improved in the sensitivity of detecting hybridization, and to provide a means for use in the method.例文帳に追加

ハイブリダイゼーションの検出感度を向上させた相補性試験方法及びそれに用いる手段を提供する。 - 特許庁

To provide a test apparatus which performs testing with a read/write head, and also provide a testing method using the test apparatus.例文帳に追加

読取り/書込みヘッドを用いてテストを行うための試験装置及び試験装置でテストする方法を開示する。 - 特許庁

OBJECT TESTING DEVICE, OBJECT TESTING METHOD AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM HAVING OBJECT TESTING PROGRAM RECORDED THEREON例文帳に追加

オブジェクト試験装置及びオブジェクト試験方法及びオブジェクト試験プログラムを記録したコンピュータで読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

LEAKAGE TESTING METHOD AND DEVICE USING SEALED STRUCTURE, AND SEALED STRUCTURE OF LEAKAGE TESTING DEVICE例文帳に追加

密閉構造体を用いた漏洩試験方法および漏洩試験装置ならびに漏洩試験装置用密閉構造体 - 特許庁

AE MEASUREMENT BODY, FUNCTION TESTING METHOD FOR AE MEASUREMENT BODY, AE MEASURING METHOD, AND ACTIVE NATURAL GROUND STABILIZATION EVALUATING METHOD例文帳に追加

AE計測体、AE計測体の機能点検方法、AE計測方法、及び能動的地山安定評価方法 - 特許庁

SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING DEVICE, SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING SYSTEM, SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING METHOD AND SUBSCRIBER CIRCUIT TESTING PROGRAM例文帳に追加

加入者回路試験装置、加入者回路試験システム、加入者回路試験方法および加入者回路試験プログラム - 特許庁

To provide an elution testing method of an oral agent containing (1-hydroyethylidene)bis-phosphonate or its salt as an effective component.例文帳に追加

(1−ヒドロキシエチリデン)ビス−フォスフォネートまたはその塩を有効成分とする経口剤の溶出試験法の提供。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, TESTING METHOD FOR THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND PROBE CARD USED FOR BURN-IN STRESS AND D/S例文帳に追加

半導体集積回路装置、半導体集積回路装置のテスト方法、バーインストレス&D/Sに用いられるプローブカード - 特許庁

PRINTED CIRCUIT BOARD TESTING DEVICE, PRINTED CIRCUIT BOARD TESTING METHOD, PRINTED CIRCUIT BOARD TESTING PROGRAM, AND PRINTED CIRCUIT BOARD MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プリント回路基板試験装置、プリント回路基板試験方法、プリント回路基板試験プログラム、プリント回路基板製造方法 - 特許庁

例文

To provide a semiconductor memory of which the miniaturization can be attained by decreasing the number of pads, and its testing method.例文帳に追加

パッドの少数化により小型化を可能とすることができる半導体装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁




  
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