「"Testing Method"」に関連した英語例文の一覧と使い方(27ページ目) - Weblio英語例文検索

ACCELERATED DRYING METHOD FOR HYDRAULIC MATERIAL AND LENGTH CHANGE TESTING METHOD FOR HYDRAULIC MATERIAL例文帳に追加

水硬性材料の促進乾燥方法および水硬性材料の長さ変化試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR SAME, AND COMPUTER- READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

試験方法ならびにそのための試験装置およびコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To provide a test board and a testing method which enables high-speed testing, using simple configuration.例文帳に追加

簡単な構成で高速試験を可能にしたテスト基板とテスト方法を提供する。 - 特許庁

CONTROL ROD DRIVING DEVICE, ITS OPERATING METHOD, ITS TESTING METHOD AND TESTING DEVICE, ITS INSPECTING DEVICE, ITS STORING METHOD AND STORING DEVICE, AND TORQUE TRANSMISSION DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

制御棒駆動装置、その運転方法、その試験方法及びその試験装置、その点検装置、その保管方法及びその保管装置並びにトルク伝達装置及びその試験方法 - 特許庁

AIRTIGHTNESS TESTING METHOD FOR ELECTRONIC PART AND SYSTEM THEREFOR, AND ELECTRONIC PART MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電子部品の気密性の検査方法とこれに用いる装置、及び電子部品の製造方法 - 特許庁

SOUND REPRODUCTION CONTROL APPARATUS, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, SOUND REPRODUCTION EVALUATION SYSTEM AND TESTING METHOD OF SOUND REPRODUCTION DEVICE例文帳に追加

音再生制御装置、集積回路装置、音再生評価システム、音再生装置のテスト方法 - 特許庁

To provide a testing method for liquid crystal display element and a testing, device which can easily detect defects.例文帳に追加

欠陥の検出が容易な、液晶表示素子の検査方法、及び検査装置を提供する。 - 特許庁

TESTING PROBER, TESTER, AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスの検査用プローブ装置、半導体デバイスの検査装置および半導体デバイスの検査方法 - 特許庁

TEST BENCH AND TESTING METHOD FOR MEASURING SOUND INSULATION, THAT IS, INSERTION LOSS, IN OBJECT OF TESTING例文帳に追加

試験対象物における遮音すなわち挿入損失を測定するための試験台と方法 - 特許庁

AERODYNAMIC TESTING METHOD OF MOVING OBJECT MODEL, AND MOVING OBJECT MODEL FOR AERODYNAMIC TESTINGS例文帳に追加

移動体模型の空気力学的試験方法、及び空気力学的試験用移動体模型 - 特許庁

IMAGE DISPLAY DEVICE, GAME MACHINE, IMAGE DATA TESTING METHOD, IMAGE DATA TEST PROGRAM AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

画像表示装置、遊技機、画像データ検査方法、画像データ検査プログラム、および記録媒体 - 特許庁

To provide a testing device capable of testing a semiconductor device including a TSV, and a testing method.例文帳に追加

ＴＳＶを備える半導体デバイスを試験可能な試験装置、試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide testing method for accurately testing connection status of cell voltage sensing line.例文帳に追加

電池電圧検出線の接続状態を正確に検査可能な検査方法を提供する。 - 特許庁

BATTERY CHARGE/DISCHARGE TESTING METHOD FOR PORTABLE COMPUTER, PORTABLE COMPUTER, RECORDING MEDIUM AND PROGRAM例文帳に追加

携帯型コンピュータのバッテリ充放電試験方法、携帯型コンピュータ、記録媒体及びプログラム - 特許庁

TEMPLATE TESTING METHOD, TEMPLATE MANUFACTURING METHOD, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT MANUFACTURING METHOD USING THE TEMPLATE AND TESTING SYSTEM FOR THE TEMPLATE例文帳に追加

検査方法、テンプレート製造方法、半導体集積回路製造方法および検査システム - 特許庁

NORMALITY TESTING METHOD OF NEW TIME SIGNAL GUIDE DEVICE AND NORMALITY TESTING DEVICE USED THEREFOR例文帳に追加

新時報案内装置の正常性試験方法およびそれに用いる正常性試験装置 - 特許庁

To provide an acceleration sensor testing system and a testing method capable of shortening test time.例文帳に追加

試験時間を短縮することができる加速度センサの試験装置および試験方法を実現する。 - 特許庁

TESTING DEVICE, TESTING METHOD, PRODUCTION METHOD FOR ELECTRONIC DEVICE, TEST SIMULATOR, AND TEST SIMULATION METHOD例文帳に追加

試験装置、試験方法、電子デバイスの生産方法、試験シミュレータ、及び試験シミュレーション方法 - 特許庁

To enhance a yield in a product test, in a semiconductor device and a testing method therefor.例文帳に追加

半導体装置およびそのテスト方法における製品テストでの歩留まりを向上させる。 - 特許庁

To provide an effective testing method and device to check tunneling magnetoresistive effect elements.例文帳に追加

トンネル磁気抵抗効果素子の良否を判別する効果的な試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁

The testing method includes an electric power unit 20, a load device 30, and a controller for testing 50.例文帳に追加

この試験システムは、電源装置２０と、負荷装置３０と、試験用コントローラ５０とを備える。 - 特許庁

The steel material where high temperature strength is defined by the high temperature tensile testing method of the bar steel material is provided.例文帳に追加

前記の棒鋼材の高温引張試験方法で高温強度を規定される鋼材。 - 特許庁

To provide a testing method capable of reducing the time required until the rupture of a separator.例文帳に追加

セパレータの破裂までに要する時間を短縮する事が可能な試験方法を提供する。 - 特許庁

TESTING METHOD FOR OFFSET HEAD-ON COLLISION OF TESTING VEHICLE, AND SKATER USED FOR THE METHOD例文帳に追加

テスト車両のオフセット正面衝突試験方法、及びこの方法の実施に用いるスケータ - 特許庁

COVER SHEET FOR MICROORGANISM TESTING, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND KIT FOR MICROORGANISM TESTING例文帳に追加

微生物検査用カバーシート、微生物検査用カバーシートの製造方法、及び微生物検査用キット - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING APPARATUS, TESTING BOARD, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路試験装置及び試験用ボード並びに半導体集積回路試験方法 - 特許庁

MEMORY DEVICE HAVING OUTPUT CIRCUIT SELECTIVELY ENABLED FOR TEST MODE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

テストモードのために選択的にイネーブルされる出力回路を有するメモリ装置及びそのテスト方法 - 特許庁

INTERPHONE TALKING TESTING DEVICE OF ELEVATOR AND TALKING TESTING METHOD USING INTERPHONE TALKING TESTING DEVICE例文帳に追加

エレベータのインターホン通話試験装置およびそのインターホン通話試験装置を用いた通話試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT PACKAGE例文帳に追加

半導体集積回路、半導体集積回路の試験方法、および半導体集積回路パッケージ - 特許庁

This testing method of a clock synchronization type semiconductor integrated circuit goes through the following steps.例文帳に追加

本発明は、クロック同期式の半導体集積回路のテスト方法であって、以下のステップを経る。 - 特許庁

TESTING SUPPORT DEVICE, FALSE ACTIVE CALL DEVICE, TESTING SUPPORT DEVICE CONTROL PROGRAM, AND TRANSMISSION PROCESSING APPARATUS TESTING METHOD例文帳に追加

試験支援装置、疑似呼装置、試験支援装置制御プログラム、及び、通信処理装置試験方法 - 特許庁

COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM, LOGIC MODULE, AND SEMICONDUCTOR AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

コンピュータ読み取り可能な記憶媒体、論理モジュール、ならびに半導体装置およびそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR EQUIPMENT, DEVICE FORMATION SUBSTRATE, WIRING CONNECTION TESTING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置、デバイス形成基板、配線接続試験方法、および半導体装置の製造方法 - 特許庁

ONU LOOP-BACK TESTING METHOD IN EPON SYSTEM, AND ONU WITH LOOP-BACK TESTING FUNCTION例文帳に追加

ＥＰＯＮシステムにおけるＯＮＵループバック試験方法、およびループバック試験機能を有するＯＮＵ - 特許庁

WATER-FILLING TESTING METHOD OF LNG TANK, ITS SYSTEM, LNG TANK AND ITS CONSTRUCTION METHOD例文帳に追加

ＬＮＧタンクの水張り試験方法およびそのシステム、並びにＬＮＧタンクおよびその建造方法 - 特許庁

DEVICE FOR DETECTING PHYSICAL QUANTITY BY UTILIZING DISTANCE CHANGE BETWEEN ELECTRODES AND ITS OPERATION TESTING METHOD例文帳に追加

電極間距離の変化を利用して物理量を検出する装置およびその動作試験方法 - 特許庁

TIMING ADJUSTMENT CIRCUIT, AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT USING THE SAME例文帳に追加

タイミング調整回路及びこのタイミング調整回路を用いた半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

NOVEL GENE, AND OSTEOPOROSIS TESTING METHOD BASED ON SINGLE NUCLEOTIDE POLYMORPHISM ON FONG GENE LOCUS例文帳に追加

新規遺伝子およびＦＯＮＧ遺伝子座の一塩基多型に基づく骨粗鬆症の検査方法 - 特許庁

PROBE CARD AND ITS MANUFACTURING METHOD, PROBE APPARATUS, PROBE TESTING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブカード及びその製造方法、プローブ装置、プローブ試験方法、半導体装置の製造方法 - 特許庁

The method is the tire crack testing method for performing the crack test for a pneumatic tire 2 by using a drum tester.例文帳に追加

ドラム試験機を用いて空気入りタイヤ２のクラック試験を行うタイヤクラック試験方法である。 - 特許庁

To provide test equipment and a testing method for a signal processor for shortening of the amount of testing time.例文帳に追加

テスト時間を短縮するための信号処理装置のテスト装置及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR FAULT TEST AND RECORDING MEDIUM WHERE FAULT TESTING METHOD IS RECORDED例文帳に追加

障害試験装置及び障害試験方法及び障害試験方法を記録した記録媒体 - 特許庁

To provide a testing method for a semiconductor device, in which the setup time and the loading time can be measured irrespective of a skew accuracy among the pins of an LSI tester, and to provide a loading board suitable for the testing method.例文帳に追加

ＬＳＩテスタのピン間スキュー精度によらずセットアップ時間、ホールド時間の測定を可能とした半導体デバイスの試験方法及びこの試験方法に好適なロードボードを提供する。 - 特許庁

CONTROL SEQUENCE GENERATING METHOD IN VoIP SERVICE, TESTING METHOD USING THE SAME, TESTING AND CAPTURING DEVICE USED FOR TESTING METHOD AND COMPUTER PROGRAM FOR IMPLEMENTING TESTING AND CAPTURING DEVICE例文帳に追加

ＶｏＩＰサービスにおける制御シーケンス生成方法、該方法を用いる試験方法、該試験方法に用いる試験装置及びキャプチャ装置、及び該試験装置及びキャプチャ装置を実現するためのコンピュータプログラム - 特許庁

To provide a testing method using an orthogonal table and can reduce interactions, and to provide a test program, and a process monitoring method and a process monitoring program applying the testing method.例文帳に追加

直交表を使用する試験方法であって、交互作用を低減できる試験方法及び試験プログラム、並びに、この試験方法を応用した工程監視方法及び工程監視プログラムを提供する。 - 特許庁