「"Testing Method"」に関連した英語例文の一覧と使い方(25ページ目) - Weblio英語例文検索

SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTING METHOD AND TESTING PROGRAM FOR MEMORY IN THE SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置、半導体装置におけるメモリの試験方法および試験プログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, MANUFACTURING METHOD THEREFOR, PROBE CARD, PROBE DEVICE AND PROBE TESTING METHOD例文帳に追加

半導体装置及びその製造方法、プローブカード、プローブ装置、プローブ試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTING METHOD OF THE SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING SYSTEM例文帳に追加

半導体装置、半導体装置の試験方法、及び半導体装置試験システム - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER TESTING METHOD, PROGRAM, RECORDING MEDIUM, AND SEMICONDUCTOR WAFER TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体ウエハー試験方法、プログラム、記録媒体、及び半導体ウエハー試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置及び半導体集積回路装置の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING METHOD AND TESTING JIG例文帳に追加

半導体装置およびその製造方法と検査方法および検査用治具 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING METHOD, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

半導体試験装置および半導体装置の試験方法ならびに記録媒体 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME AND SCAN TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

スキャンテスト回路およびそれを備えた半導体装置ならびにスキャンテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE TESTING METHOD, TEST CONTROL DEVICE, AND SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置のテスト方法、テスト制御装置および半導体記憶装置 - 特許庁

TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の検査装置及び半導体集積回路の検査方法 - 特許庁

RADIO TERMINAL, RADIO TERMINAL TESTING METHOD, RADIO TERMINAL TESTING SYSTEM, AND PROGRAM THEREOF例文帳に追加

無線端末、無線端末試験方法、無線端末試験システム及びそのプログラム - 特許庁

TESTING METHOD OF SEMI-CONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TESTING DEVICE OF SEMI-CONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, STANDARD CIRCUIT BOARD USED FOR PERFORMING TESTING METHOD OF SEMI-CONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND DC SYSTEM RELAY MEANS USED FOR PERFORMING TESTING METHOD OF SEMI-CONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験方法と、半導体集積回路の試験装置と、半導体集積回路の試験方法の実施に用いる標準回路基板と、半導体集積回路の試験方法の実施に用いるＤＣ系中継手段 - 特許庁

To provide an immunological testing method of a specimen, constituted so as not only to more symplify an testing method, but also to shorten the testing time and capable of performing accurate diagnosis, and to provide a simple testing instrument used therein.例文帳に追加

検査方法をより簡便にし、検査所要時間を短縮すると共に正確な診断がおこなえる方法及びその検査に用いる簡便な器具の提供。 - 特許庁

TESTING METHOD OF BOARD, TESTING DEVICE OF BOARD, AND MANUFACTURING METHOD OF ELECTRO-OPTICAL DEVICE例文帳に追加

基板の検査方法、基板の検査装置および電気光学装置の製造方法 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE TESTING METHOD FOR SEAMED SECTION OF ELECTRO-RESISTANCE-WELDED TUBE AND PROBE-TYPE EDDY-CURRENT FLAW DETECTOR例文帳に追加

電縫鋼管シーム部の非破壊検査方法とプローブ型渦流探傷装置 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TESTING METHOD, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

検査装置及び検査方法、集積回路素子の製造方法、集積回路素子 - 特許庁

TESTING METHOD OF DISPLAY DEVICE, TESTING INSTRUMENT OF DISPLAY DEVICE, DISPLAY DEVICE, AND ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

表示装置の検査方法、表示装置の検査装置、表示装置及び電子機器 - 特許庁

LINE CALL GENERATOR FOR FUNCTION TEST OF RADIO DATA SERVICE DEVICE AND FUNCTION TESTING METHOD例文帳に追加

無線デ—タサ—ビス装置の機能試験用回線呼発生器及び機能試験方法 - 特許庁

TEAR TESTING METHOD AND APPARATUS FOR VULCANIZED RUBBER AND WEAR RESISTANT PERFORMANCE EVALUATION METHOD例文帳に追加

加硫ゴムの引裂き試験方法とその試験装置および耐摩耗性能評価方法 - 特許庁

PROBE CARD, TESTER HAVING PROBE CARD AND A TESTING METHOD USING TESTER例文帳に追加

プローブカード、そのプローブカードを有するテスト装置及び、そのテスト装置を用いたテスト方法 - 特許庁

SHIELD JOINT STRUCTURE AND SPATIAL FORMER, AND TESTING METHOD USING SPATIAL FORMER例文帳に追加

遮蔽継ぎ構造および空間形成体、空間形成体を用いる試験方法 - 特許庁

Also provided are a microbiological testing instrument and a testing method to use the microbiological testing chip 10.例文帳に追加

また、該微生物検査チップ１０を使用する微生物検査装置と、検査方法。 - 特許庁

DIRECT TENSILE TESTING METHOD FOR CONTROLLING SECONDARY BENDING AND JIG FOR DIRECT TENSILE TEST例文帳に追加

２次曲げを制御する直接引張試験法および直接引張試験用治具 - 特許庁

TESTING METHOD, TESTING CIRCUIT, ELECTROOPTIC DEVICE-USE SUBSTRATE, AND ELECTROOPTIC DEVICE例文帳に追加

検査方法、検査回路及び電気光学装置用基板、並びに電気光学装置 - 特許庁

ROLLING/SLIDING FATIGUE LIFE TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR STEEL MATERIALS例文帳に追加

鋼製材料の転がりすべり疲労寿命試験方法およびその試験装置 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT FOR PERFORMING BURN-IN TEST OF AC STRESS AND TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

交流ストレスのバーンインテスト可能な集積回路及びこれを用いたテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING SELF-TEST FUNCTION AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

自己テスト機能を備える半導体装置および当該半導体装置のテスト方法 - 特許庁

TESTING TERMINAL OF CHIP TYPE ELECTRONIC PART AND TESTING METHOD AND TESTING DEVICE USING IT例文帳に追加

チップ型電子部品の検査端子とそれを用いた検査方法および検査装置 - 特許庁

ACCELERATION TESTING METHOD OF ELASTIC PAVING MATERIAL AND ACCELERATION TESTING MACHINE THEREFOR例文帳に追加

弾性舗装材の促進試験方法およびそれに用いられる促進試験装置 - 特許庁

MOVING IMAGE DISTRIBUTION SERVER TESTER ACCESS GENERATOR AND MOVING IMAGE DISTRIBUTION SERVER TESTING METHOD例文帳に追加

動画配信サーバ試験用アクセス発生装置及び動画配信サーバ試験方法 - 特許庁

DISPLAY DEVICE, LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL ASSEMBLY, AND TESTING METHOD FOR DISPLAY DEVICE例文帳に追加

表示装置及び液晶表示板組立体、並びに表示装置の検査方法 - 特許庁

SHOCK WAVE GENERATING DEVICE, SURFACE TREATMENT METHOD, NONDESTRUCTIVE TESTING METHOD, AND TREATMENT METHOD例文帳に追加

衝撃波発生装置、表面処理方法、非破壊検査方法および治療方法 - 特許庁

OPERATION TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC APPARATUS, OPERATION TESTING METHOD AND METHOD OF MANUFACTURING ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

電子装置の動作試験装置、動作試験方法、及び電子装置の製造方法 - 特許庁

INTERFACE CIRCUIT, AND TESTING METHOD AND DEBUGGING METHOD USING THE SAME FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

インターフェース回路及びそれを用いた半導体装置のテスト方法とデバッグ方法 - 特許庁

TAPE FOR AMMONIA LEAKAGE TEST USING THIN THICKNESS STACKING TAPE, AND LEAKAGE TESTING METHOD例文帳に追加

薄厚積重テープを用いたアンモニア漏れ試験用テープ及び漏れ試験方法 - 特許庁

TESTING WAVEFORM SUPPLY METHOD, SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, DRIVER, AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUST例文帳に追加

試験波形供給方法、半導体試験方法、ドライバ、及び半導体試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置及び半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, ITS TESTING METHOD, DATABASE FOR ITS DESIGN, AND ITS DESIGNING METHOD例文帳に追加

集積回路装置，そのテスト方法，その設計用データベース及びその設計方法 - 特許庁

COMMUNICATION APPARATUS, COMMUNICATION APPARATUS TESTING SYSTEM, SIGNAL PROCESSOR, TESTING METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

通信装置、通信装置試験システム、信号処理装置、試験方法、コンピュータプログラム - 特許庁

CMIP PROTOCOL TEST AUTOMATING DEVICE AND CMIP PROTOCOL TESTING METHOD例文帳に追加

ＣＭＩＰプロトコル試験自動化装置及びそれに用いるＣＭＩＰプロトコル試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE OF FILM LOAD BEARING INSULATION AND TESTING METHOD OF FILM LOAD BEARING INSULATION例文帳に追加

フィルムの耐荷重絶縁性試験装置及びフィルムの耐荷重絶縁性試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD OF FCS INSPECTION PROCESSING IN FLAG SYNCHRONIZING TRANSMISSION SYSTEM AND ITS SYSTEM例文帳に追加

フラグ同期伝送方式におけるＦＣＳ検査処理の試験方法及びそのシステム - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置、半導体装置の製造方法、および半導体装置のテスト方法 - 特許庁

P2P SYSTEM STABILIZATION TESTING METHOD USING PEER CONTROL TOOL AND PEER CONTROL TOOL例文帳に追加

ピア制御ツールを用いたＰ２Ｐシステム安定化試験方法およびピア制御ツール - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置、半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験装置 - 特許庁