「"Testing Method"」に関連した英語例文の一覧と使い方(21ページ目) - Weblio英語例文検索

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS USING PROBE INFORMATION AND TESTING METHOD例文帳に追加

プローブ情報を用いた半導体検査装置及び検査方法 - 特許庁

MODULE TESTING DEVICE, MODULE TESTING METHOD, AND MODULE TESTING PROGRAM例文帳に追加

モジュール試験装置、モジュール試験方法およびモジュール試験プログラム - 特許庁

BUFFER EFFECT TESTING METHOD FOR FIBER PRODUCT WITH RESPECT TO PH IRRITATION例文帳に追加

ｐＨ刺激に対する繊維製品の緩衝効果試験方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT, TESTING METHOD FOR THE SAME AND INTEGRATED-CIRCUIT COMPONENT例文帳に追加

集積回路、集積回路の試験方法、集積回路部品 - 特許庁

TESTING METHOD AND TESTING CIRCUIT FOR MEASURING OUTPUT DELAY TIME例文帳に追加

出力遅延時間測定用テスト方法およびそのテスト回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS MANUFACTURING METHOD, AND TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路および製造方法並びにテスト方法 - 特許庁

DISPLAY DEVICE DRIVING, DISPLAY AND DRIVER CIRCUIT TESTING METHOD例文帳に追加

ディスプレイ装置駆動デバイス、ディスプレイ装置及びドライバ回路テスト方法 - 特許庁

X-RAY SECTION TESTING METHOD AND APPARATUS THEREOF例文帳に追加

Ｘ線断層面検査方法、及びＸ線断層面検査装置 - 特許庁

CHARACTERISTIC TESTING MACHINE OF POWDER, CHARACTERISTIC TESTING METHOD OF POWDER AND EVALUATION METHOD OF POWDER例文帳に追加

粉体特性の試験装置、試験方法及び評価方法 - 特許庁

PRINTED WIRING BOARD TESTING JIG SUBSTRATE AND PRINTED WIRING BOARD TESTING METHOD例文帳に追加

プリント基板検査用治具基板およびプリント基板検査方法 - 特許庁

TESTING METHOD FOR METAL BONDING MATERIAL AND TESTING EQUIPMENT THEREOF例文帳に追加

金属接合材料の材料試験方法およびその試験装置 - 特許庁

SHOCK TESTING APPARATUS AND SHOCK TESTING METHOD OF SURFACE TREATMENT MATERIAL例文帳に追加

表面処理材の衝撃試験装置および衝撃試験方法 - 特許庁

ELECTROOPTICAL APPARATUS, TESTING METHOD AND DRIVING DEVICE FOR SAME AND ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

電気光学装置、その検査方法、駆動装置および電子機器 - 特許庁

BALANCE TESTING MACHINE, BALANCE TESTING METHOD, AND BALANCE ADJUSTING METHOD例文帳に追加

バランス試験機及びバランス試験方法並びにバランス調整方法 - 特許庁

UNINTERRUPTIBLE POWER SUPPLY EQUIPMENT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

無停電電源設備および前記無停電電源設備の試験方法 - 特許庁

WITHSTAND VOLTAGE TESTING METHOD AND DIAGNOSING METHOD FOR RUBBER AND PLASTIC INSULATION CABLE例文帳に追加

ゴム・プラスチック絶縁ケーブルの耐圧試験方法および診断方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の製造方法および半導体装置の試験方法 - 特許庁

PAPER IMPACT COMPRESSION TESTING DEVICE AND TESTING METHOD USING DEVICE例文帳に追加

用紙衝撃圧縮試験装置及び該装置を用いた試験方法 - 特許庁

TERMINAL EMULATION PROGRAM, RECORDING MEDIUM, LOAD TESTING METHOD, LOAD TESTING DEVICE例文帳に追加

端末エミュレーションプログラム、記録媒体、負荷試験方法、負荷試験装置 - 特許庁

RADIO BASE STATION DEVICE, CONNECTION TESTING METHOD, AND RADIO BASE STATION SYSTEM例文帳に追加

無線基地局装置、及び、接続試験方法、無線基地局システム - 特許庁

NONDESTRUCTIVE TESTING METHOD FOR UNDERWATER CONCRETE STRUCTURE USING REBOUND HAMMER例文帳に追加

リバウンドハンマーを用いた水中コンクリート構造物非破壊試験方法 - 特許庁

MEMORY DEVICE AND TESTING METHOD FOR TESTING RANKING OF TELEVISION PROGRAM例文帳に追加

テレビ番組の格付けを試験するメモリー装置並びに試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND TESTING APPARATUS OF BONDING TERMINAL MEMBER例文帳に追加

接合端子部材の試験方法及び接合端子部材の試験装置 - 特許庁

SOLID-STATE IMAGING DEVICE, AND ITS TESTING METHOD AND ADJUSTING METHOD例文帳に追加

固体撮像装置およびその検査方法ならびに調整方法 - 特許庁

BASE STATION SIMULATOR AND TRANSMISSION POWER CONTROL PERFORMANCE TESTING METHOD例文帳に追加

基地局シミュレータ装置及び送信電力制御性能試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD OF TRANSMITTING-RECEIVING CIRCUIT AND TRANSMITTING-RECEIVING CIRCUIT WITH TESTING CIRCUIT例文帳に追加

送受信回路のテスト方法及びテスト回路付き送受信回路 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF MAGNETIC HEAD FOR TESTING, AND TESTING METHOD USING SAME例文帳に追加

試験用磁気ヘッドの製造方法及びそれを用いた試験方法 - 特許庁

PRINTED WIRING BOARD AND RELIABILITY TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

プリント配線基板及びプリント配線基板の信頼性試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THEREFOR, AND TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

半導体装置およびその製造方法およびその試験方法 - 特許庁

TESTING FIXTURE SUBSTRATE, TEST DEVICE, AND TESTING METHOD OF SENSOR例文帳に追加

センサの試験用治具基板及び試験装置並びに試験方法 - 特許庁

CALL CENTER SYSTEM, COMMUNICATION TERMINAL, COMMUNICATION TESTING METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

コールセンタシステム、通信端末、通信試験方法、およびコンピュータプログラム - 特許庁

TESTING SYSTEM FOR BRANCH LIGHT RAY LINE AND TESTING METHOD FOR BRUNCH LIGHT RAY LINE例文帳に追加

分岐光線路試験システムおよび分岐光線路試験方法 - 特許庁

CORROSION RESISTANCE TESTING METHOD AND EQUIPMENT FOR METALLIC MATERIAL例文帳に追加

金属材料の耐食性試験方法及び耐食性試験装置 - 特許庁

TESTING BOX FOR BLOWERS, AND TESTING METHOD OF BLOWER USING IT例文帳に追加

送風機用試験箱及びそれを用いた送風機の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS TESTING METHOD, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体装置およびその試験方法、および半導体集積回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路および半導体集積回路の検査方法 - 特許庁

ALKALI/SILICA REACTIVITY TESTING METHOD OF AGGREGATE AND QUALITY CONTROL METHOD例文帳に追加

骨材のアルカリシリカ反応性試験方法及び品質管理方法 - 特許庁

TEG PATTERN, TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR ELEMENT USING THE PATTERN例文帳に追加

テグパターン及びそのパターンを利用した半導体素子の検査方法 - 特許庁

PROGRAM TESTING DEVICE, PROGRAM TESTING METHOD AND PROGRAM TESTING PROGRAM例文帳に追加

プログラム試験装置、プログラム試験方法およびプログラム試験用プログラム - 特許庁

NETWORK TESTING METHOD AND SYSTEM AND ITS PROGRAM AND RECORD MEDIUM例文帳に追加

ネットワーク試験方法およびシステム、ならびにそのプログラムと記録媒体 - 特許庁

TIRE ROLLING RESISTANCE TESTING MACHINE AND TIRE ROLLING RESISTANCE TESTING METHOD例文帳に追加

タイヤ転がり抵抗試験機及びタイヤ転がり抵抗試験方法 - 特許庁

FLUIDITY TESTING METHOD FOR FRESH CONCRETE AND TESTING DEVICE USED THEREFOR例文帳に追加

フレッシュコンクリートの流動性試験方法とそれに用いる試験装置 - 特許庁

DISK DEFECT TESTING METHOD, DISK STORAGE DEVICE, AND READ CHANNEL CIRCUIT例文帳に追加

ディスクの欠陥検査方法、ディスク記憶装置及びリードチャネル回路 - 特許庁

TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, AND SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置の試験方法及びその半導体記憶装置 - 特許庁

DNA AFFINITY TESTING METHOD USING DNA CONJUGATE SUBSTANCE例文帳に追加

ＤＮＡコンジュゲート物質を用いたＤＮＡ親和性の検査方法 - 特許庁