「"Testing Method"」に関連した英語例文の一覧と使い方(23ページ目) - Weblio英語例文検索

OSCILLOSCOPE TESTING METHOD, OSCILLOSCOPE TEST SYSTEM, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

オシロ装置試験方法、オシロ装置試験システム、プログラム、および記録媒体 - 特許庁

PUMP EFFECTIVE POWER DECIDING METHOD AND PUMP EFFECTIVE POWER TESTING METHOD例文帳に追加

ポンプ実際動力決定方法およびポンプ実際動力試験方法 - 特許庁

IC TESTER, IC TESTING METHOD AND PRODUCTION METHOD OF SEMICONDUCTOR例文帳に追加

ＩＣ試験装置及びＩＣ試験方法、半導体装置の製造方法 - 特許庁

TESTING METHOD, TESTING CIRCUIT AND BATTERY MODULE OF CELL VOLTAGE SENSING LINE例文帳に追加

電池電圧検出線の検査方法、検査回路及び電池モジュール - 特許庁

PRINTING TESTING METHOD OF GRAVURE INK AND PRINTING TESTING MACHINE USED FOR THE SAME例文帳に追加

グラビアインキの印刷試験方法及びそれに用いる印刷試験機 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加

半導体試験回路、半導体記憶装置および半導体試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD USING THE DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置及びその装置を用いた半導体試験方法 - 特許庁

THUNDER IMPULSE VOLTAGE TESTING APPARATUS AND THUNDER IMPULSE VOLTAGE TESTING METHOD例文帳に追加

雷インパルス電圧試験装置および雷インパルス電圧試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST PATTERN GENERATING METHOD, AND CIRCUIT TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路、試験パターン生成方法、及び回路試験方法 - 特許庁

PROCESS TREATING DEVICE FOR WIRE HARNESS, AND CONDUCTION TESTING METHOD OF WIRE HARNESS例文帳に追加

ワイヤーハーネス用工程処理装置及びワイヤーハーネスの導通検査方法 - 特許庁

TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の検査方法および半導体集積回路 - 特許庁

VDSL TESTING SYSTEM, ITS VTU-O/R, VDSL TESTING METHOD例文帳に追加

ＶＤＳＬ試験システム、そのＶＴＵ−Ｏ／Ｒ、ＶＤＳＬ試験方法 - 特許庁

This testing method utilizes an acoustic emission(AE) phenomenon.例文帳に追加

この試験法はアコースティック・エミッション（ＡＥ）現象を利用するものである。 - 特許庁

ONE-CHIP MICROCOMPUTER, AND OVERVOLTAGE IMPRESSION TESTING METHOD FOR ONE-CHIP MICROCOMPUTER例文帳に追加

ワンチップマイクロコンピュータ及びワンチップマイクロコンピュータの過電圧印加試験方法 - 特許庁

AIRTIGHTNESS TESTING METHOD OF HEAT EXCHANGER HAVING OIL COOLER BUILT IN RADIATOR TANK例文帳に追加

ラジエータタンク内にオイルクーラを内蔵した熱交換器の気密試験方法 - 特許庁

IMMUNITY TESTING METHOD, IMMUNITY TESTING DEVICE AND ROTARY MAGNETIC FIELD GENERATING DEVICE例文帳に追加

イミュニティ試験方法、イミュニティ試験装置及び回転磁界発生装置 - 特許庁

ABRASION TESTING METHOD AND ABRASION TESTING APPARATUS FOR CAGE OF ROLLER BEARING例文帳に追加

転がり軸受の保持器摩耗試験方法及びその保持器摩耗試験装置 - 特許庁

PHOTORECEPTOR DEGRADING ACCELERATION TESTING DEVICE AND PHOTORECEPTOR DEGRADING ACCELERATION TESTING METHOD例文帳に追加

感光体劣化加速試験装置及び感光体劣化加速試験方法 - 特許庁

MEDIUM TESTING METHOD, MEDIUM TESTER, MEDIUM TESTING PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

媒体検査方法、媒体検査装置、媒体検査プログラムおよび記憶媒体 - 特許庁

TESTING METHOD FOR REAR-END COLLISION OF RUNNING VEHICLE AND TESTING APPARATUS FOR COLLISION OF VEHICLE例文帳に追加

走行車両の追突試験方法、及び車両衝突試験装置 - 特許庁

ATTACK IMITATION TESTING METHOD, ATTACK IMITATION TESTING DEVICE AND ATTACK IMITATION TESTING PROGRAM例文帳に追加

攻撃模倣テスト方法、攻撃模倣テスト装置及び攻撃模倣テストプログラム - 特許庁

TESTING METHOD FOR GEAR TOOTH BREAK STRENGTH OF GEARWHEEL AND ARRANGEMENT OF TESTING THE GEAR TOOTH BREAK STRENGTH例文帳に追加

歯車の歯折れ強度試験方法及び歯折れ強度試験装置 - 特許庁

MASTER REGISTERING METHOD FOR SEARCHING, AND OBJECT RETRIEVING METHOD AND TESTING METHOD例文帳に追加

サーチ用マスタ登録方法並びに物体の検索方法および検査方法 - 特許庁

CONTINUITY TESTER AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウエハの導通検査装置及びこれに用いられる導通検査方法 - 特許庁

TESTING DEVICE, QUALITY DETERMINATION REFERENCE SETTING DEVICE, TESTING METHOD, AND TEST PROGRAM例文帳に追加

試験装置、良否判定基準設定装置、試験方法及び試験プログラム - 特許庁

ENDURANCE TESTING MACHINE FOR SEAT-USE SKIN AND ENDURANCE TESTING METHOD USING SAME例文帳に追加

シート用表皮の耐久試験装置とそれを用いた耐久試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD FOR FACSIMILE MACHINE, THE FACSIMILE MACHINE AND FACSIMILE TESTING DEVICE例文帳に追加

ファクシミリ装置の試験方法およびファクシミリ装置およびファクシミリ試験装置 - 特許庁

TESTING METHOD AND DEVICE FOR STRUCTURE FOR PASSING SUPERSONIC WORKING FLUID例文帳に追加

超音速作動流体が通過する構造体の試験方法および装置 - 特許庁

TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR ROTARY SHAFT AXIAL LOAD MEASURING DEVICE例文帳に追加

回転軸用アキシアル荷重測定装置の検定方法及び検定装置 - 特許庁

OPTICAL TRANSMISSION APPARATUS AND ITS CONTINUITY TESTING METHOD, AND OPTICAL TRANSMISSION SYSTEM例文帳に追加

光伝送装置およびその導通試験方法並びに光伝送システム - 特許庁

TESTING METHOD FOR CHECKING FUNCTION FOR PROGRAMMABLE CONTROLLER AND PLANT MONITOR AND CONTROL DEVICE例文帳に追加

プログラマブルコントローラの機能確認試験方法およびプラント監視制御装置 - 特許庁

SUITABILITY TESTING APPARATUS AND SUITABILITY TESTING METHOD OF TIRE SLIP PREVENTING MEMBER例文帳に追加

タイヤ滑り止め部材の適合性試験装置および適合性試験方法 - 特許庁

FALSE ACUPUNCTURE, FALSE MAGNETIC PLASTER AND DOUBLE BLIND TESTING METHOD USING THEM例文帳に追加

偽鍼、偽磁気絆創膏、及び、これらを用いた二重盲検試験方法 - 特許庁

POWER LINE ARTIFICIAL GROUND FAULT TESTING SYSTEM AND POWER LINE ARTIFICIAL GROUND FAULT TESTING METHOD例文帳に追加

配電線人工地絡試験装置および配電線人工地絡試験方法 - 特許庁

PULSE CHARACTERISTIC DETECTION CIRCUIT BASED ON THRESHOLD, AND ITS MEASUREMENT/EVALUATION TESTING METHOD例文帳に追加

閾値に基づくパルス特性検出回路及びその測定評価試験方法 - 特許庁

SUBSTRATE INSPECTION DEVICE, SUBSTRATE TESTING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

基板検査装置、基板検査方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置の試験方法及び半導体記憶装置の試験装置 - 特許庁

CONNECTION TESTING METHOD IN REPLACING RAILWAY ELECTRONIC INTERLOCKING DEVICE, AND LIGHT SWITCH例文帳に追加

鉄道用電子連動装置取替時の接続試験方法および光スイッチ - 特許庁

To provide a scan testing method of a semiconductor integrated circuit of advanced integration, and the semi-conductor integrated circuit to be tested by the scan testing method.例文帳に追加

集積化の進んだ半導体集積回路に対するスキャンテスト方法、及び該スキャンテスト方法によりテストされる半導体集積回路を求める。 - 特許庁

TEST OBJECT FOR TESTING ADHESIVENESS AND ADHESIVENESS TESTING METHOD USING IT例文帳に追加

接着性試験用試験体およびそれを用いた接着性試験方法 - 特許庁

RELAY NODE DEVICE, TELEPHONE SYSTEM AND CONNECTIVITY TESTING METHOD USED THEREFOR例文帳に追加

中継ノード装置、電話システム及びそれらに用いる接続性試験方法 - 特許庁

SCRATCHABILITY TESTING MACHINE FOR FLOOR MATERIAL, AND TESTING DEVICE AND TESTING METHOD USING IT例文帳に追加

床材用傷付き性試験機、及びこれを用いた試験装置、試験方法 - 特許庁

BUSINESS PROCESS TEST DESIGN SUPPORT DEVICE, BUSINESS PROCESS TESTING METHOD AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

ビジネスプロセステスト設計支援装置、ビジネスプロセス試験方法、及びコンピュータプログラム - 特許庁

DYNAMIC HORIZONTAL LOAD TESTING METHOD AND DYNAMIC HORIZONTAL LOAD TESTING DEVICE FOR PILE例文帳に追加

杭の動的水平載荷試験方法及び動的水平載荷試験装置 - 特許庁

TEST LIQUID COATING APPARATUS FOR TESTING TRACKING RESISTANCE AND TRACKING RESISTANCE TESTING METHOD例文帳に追加

耐トラッキング性試験用試験液塗布装置及び耐トラッキング性試験方法 - 特許庁