「"Testing Method"」に関連した英語例文の一覧と使い方(19ページ目) - Weblio英語例文検索

SEMICONDUCTOR-DEVICE TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR-DEVICE TESTING METHOD例文帳に追加

半導体デバイス試験装置及び半導体デバイス試験方法 - 特許庁

TEST CORRESPONDING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

テスト対応型半導体集積回路及びそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体装置、および半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

MAGNETIC HEAD SLIDER TESTING APPARATUS AND MAGNETIC HEAD SLIDER TESTING METHOD例文帳に追加

磁気ヘッドスライダ検査装置および磁気ヘッドスライダ検査方法 - 特許庁

SINGLE-PHASE THREE-WIRE TYPE CIRCUIT BREAKER AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

単相三線式回路遮断器およびその試験方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT INCLUDING FeRAM CELL AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

ＦｅＲＡＭセルを含む集積回路およびそのテスト方法 - 特許庁

SPHERICAL IC TESTING METHOD AND SPHERICAL IC TESTING DEVICE例文帳に追加

球状ＩＣ試験方法及び球状ＩＣ試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND CIRCUIT TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置および半導体装置の回路試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置及び半導体デバイスの試験方法 - 特許庁

PERFORMANCE TESTING METHOD FOR HEAD GIMBAL ASSEMBLY WITH MICROACTUATOR例文帳に追加

マイクロアクチュエータを備えたヘッドジンバルアセンブリの性能試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND MAXIMUM DELAY TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路及びその最大遅延試験定方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND A/D CONVERTER TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路およびＡ／Ｄ変換器テスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験システム及び半導体装置の試験方法 - 特許庁

TESTING TOOL FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTING DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加

半導体装置の試験冶具、試験装置、および試験方法 - 特許庁

TESTING SYSTEM, TESTING METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

検査システム，検査方法，及び電子装置の製造方法 - 特許庁

INTERFACE CIRCUIT TESTING DEVICE AND INTERFACE CIRCUIT TESTING METHOD例文帳に追加

インターフェース回路テスト装置およびインターフェース回路テスト方法 - 特許庁

HOSE PRESSURE-PROOFNESS TESTING TOOL AND HOSE PRESSURE-PROOFNESS TESTING METHOD例文帳に追加

ホース用耐圧試験用具、及び、ホース用耐圧試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTING METHOD THEREOF AND SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

半導体装置およびその検査方法および半導体チップ - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置及び半導体装置の試験方法 - 特許庁

CONTACTOR, ITS MANUFACTURING METHOD, AND TESTING METHOD USING CONTACTOR例文帳に追加

コンタクタ、その製造方法及びコンタクタを用いた試験方法 - 特許庁

FIBER MIXING RATIO TESTING METHOD OF ORGANIC FIBER MIXED CONCRETE例文帳に追加

有機繊維混入コンクリートの繊維混入率試験方法 - 特許庁

SOLDER WETTABILITY TESTING DEVICE AND SOLDER WETTABILITY TESTING METHOD例文帳に追加

はんだ濡れ性試験装置及びはんだ濡れ性試験方法 - 特許庁

TESTING APPARATUS FOR ELECTRICAL EQUIPMENT, AND TESTING METHOD OF ELECTRICAL EQUIPMENT例文帳に追加

電気機器用試験装置および電気機器の試験方法 - 特許庁

PEELING RESISTANCE TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR PRESSURE SENSITIVE ADHESIVE TAPE例文帳に追加

粘着テープの耐剥離性試験方法、および、試験装置 - 特許庁

TESTING METHOD AND PRODUCTION METHOD FOR DRIVING FORCE TRANSMISSION SYSTEM例文帳に追加

駆動力伝達装置の試験方法及び製造方法 - 特許庁

RADIATION DETECTOR AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

放射線検出器および放射線検出器の試験方法 - 特許庁

PROGRAM TO BE TESTED RESOURCES COMPETITION TESTING METHOD AND COMPETITION PROGRAM例文帳に追加

被テストプログラム資源競合テスト方法及び競合プログラム - 特許庁

TESTING METHOD OF ELECTRIC BOARD AND STRUCTURE OF TESTING OBJECT ELECTRIC BOARD例文帳に追加

電気基板の試験方法と被試験電気基板の構造 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT, TESTER FOR THE INTEGRATED CIRCUIT, TESTING METHOD FOR INTEGRATED CIRCUIT, TESTING METHOD PROGRAM FOR THE INTEGRATED CIRCUIT, AND RECORDING MEDIUM WITH RECORDED PROGRAM OF TESTING METHOD FOR THE INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路、集積回路の試験装置、集積回路の試験方法、集積回路の試験方法のプログラム及び集積回路の試験方法のプログラムを記録した記録媒体。 - 特許庁

ULTRASONIC TESTING DEVICE AND ULTRASONIC TESTING METHOD USING SAME例文帳に追加

超音波試験装置及びこれを用いた超音波試験方法 - 特許庁

AIRTIGHTNESS TESTING METHOD OF HIGH PRESSURE TANK, AND DEVICE FOR AIRTIGHTNESS TEST例文帳に追加

高圧タンクの気密試験方法および気密試験用装置 - 特許庁

To provide an ultrasonic fatigue testing apparatus enhanced in precision as compared with a conventional ultrasonic fatigue testing apparatus and a conventional ultrasonic fatigue testing method, and an ultrasonic fatigue testing method.例文帳に追加

超音波疲労試験において、従来の装置、方法にくらべて精度が高い装置および方法を提供する。 - 特許庁

ULTRASONIC TESTING METHOD AND ULTRASONIC TESTING DEVICE USED THEREFOR例文帳に追加

超音波試験方法及びこれに用いる超音波試験装置 - 特許庁

CLIP TESTER, CLIP TESTING METHOD, CLIP TESTING DEVICE, AND CLIP TESTING PROGRAM例文帳に追加

クリップテスタ、クリップ試験方法、クリップ試験装置、クリップ試験プログラム - 特許庁

IMAGE FORMING DEVICE, DENSITOMER DIAGNOSTIC SYSTEM AND DIAGNOSTIC TESTING METHOD例文帳に追加

画像形成装置、濃度計診断システム及び診断試験方法 - 特許庁

SOIL-FILLED COLUMN TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

土壌充填カラム試験装置及びそれを用いた試験方法 - 特許庁

SINGLE CHIP MICROCOMPUTER, TESTING METHOD THEREFOR AND TEST PROGRAM例文帳に追加

シングルチップマイクロコンピュータ並びにその試験方法及び試験プログラム - 特許庁

OPTICAL SIGNAL TRANSMISSION TESTING METHOD AND OPTICAL TRANSMISSION LINE SIMULATOR例文帳に追加

光信号伝送試験方法および光伝送路模擬装置 - 特許庁

BASE STATION APPARATUS, AND BASE STATION TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD例文帳に追加

基地局装置、基地局試験システム及び基地局試験方法 - 特許庁

WATER FLOW TESTING METHOD FOR DRAIN PIPE AND WATER FLOW TEST BODY THEREFOR例文帳に追加

排水管の通水試験方法及びその通水試験体 - 特許庁

PASSAGE TESTING DEVICE OF FLUID, AND PASSAGE TESTING METHOD OF FLUID例文帳に追加

流体の通過試験装置および流体の通過試験方法 - 特許庁

ELECTRICAL TESTING DEVICE AND ELECTRICAL TESTING METHOD FOR ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

電気的試験用装置及び電子装置の電気的試験方法 - 特許庁

LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL, AND MANUFACTURING METHOD AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

液晶表示パネルとその製造方法及びその検査方法 - 特許庁

COLLECTION CAPACITY TESTING MACHINE OF MASK AND TESTING METHOD EMPLOYING IT例文帳に追加

マスク捕集性能試験機およびそれを使用する試験方法 - 特許庁

ROTARY DRUM TYPE CORROSION TESTING DEVICE OF REFRACTORY, AND TESTING METHOD例文帳に追加

耐火物の回転ドラム式侵食試験装置及び試験方法 - 特許庁