「"Testing Method"」に関連した英語例文の一覧と使い方(20ページ目) - Weblio英語例文検索

SUBSTRATE TESTING METHOD AND SUBSTRATE TESTING DEVICE USING SAME METHOD例文帳に追加

基板検査方法およびこの方法を用いた基板検査装置 - 特許庁

TESTING METHOD, TESTING DEVICE AND METHOD FOR PRODUCING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

試験方法、試験装置及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

BATTERY TESTING APPARATUS, BATTERY TESTING METHOD AND BATTERY TEST PROGRAM例文帳に追加

電池試験装置と電池試験方法及び電池試験プログラム - 特許庁

MEASUREMENT APPARATUS, TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD FOR FEMTOCELL BASE STATIONS例文帳に追加

フェムトセル基地局の測定装置、試験システム及び試験方法 - 特許庁

WATERPROOF TESTING DEVICE, WATERPROOF TESTING METHOD, AND WATERPROOF TEST PROGRAM例文帳に追加

防水試験装置、防水試験方法および防水試験プログラム - 特許庁

TESTING METHOD FOR EVALUATING SEGREGATION RESISTANCE OF CONCRETE例文帳に追加

コンクリートの材料分離抵抗性を評価するための試験方法 - 特許庁

DEVICE AND SYSTEM FOR PROCESSING REQUEST, AND ACCESS TESTING METHOD例文帳に追加

要求処理装置、要求処理システムおよびアクセス試験方法 - 特許庁

TESTER AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験方法および記録媒体 - 特許庁

PHOTOMASK FOR TESTING, METHOD OF EVALUATION ON FLARE, AND METHOD OF CORRECTION FOR FLARE例文帳に追加

試験用フォトマスク、フレア評価方法、及びフレア補正方法 - 特許庁

PROGRAM TESTING DEVICE, PROGRAM TESTING METHOD, AND PROGRAM TEST SYSTEM例文帳に追加

プログラム検査装置、プログラム検査方法およびプログラム検査システム - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED DEVICE AND NOISE TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

半導体集積装置およびそれを用いたノイズ試験方法 - 特許庁

MEMORY ERROR CORRECTION AND DETECTION CIRCUIT TEST SYSTEM AND TESTING METHOD例文帳に追加

メモリ誤り訂正・検出回路試験システムおよび試験方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT INCORPORATING TRACK HOLD CIRCUIT AND TESTING METHOD例文帳に追加

トラック・ホールド回路を内蔵した集積回路及び試験方法 - 特許庁

VIBRATION TESTING APPARATUS FOR STRUCTURE AND ITS VIBRATION TESTING METHOD例文帳に追加

構造物の振動試験装置およびその振動試験方法 - 特許庁

AUTOMATIC TESTING DEVICE AND AUTOMATIC TESTING METHOD FOR PORTABLE TERMINAL EQUIPMENT例文帳に追加

携帯端末装置の自動試験装置および自動試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置の試験方法および試験装置 - 特許庁

FUEL CELL SYSTEM AND FLOODING TESTING METHOD IN DIFFUSION LAYER例文帳に追加

燃料電池システム及び拡散層内のフラッディング試験方法 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体集積回路装置の製造方法およびテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, TESTING DEVICE THEREFOR, AND TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置、その試験装置及び試験方法 - 特許庁

HARD MACRO TEST CIRCUIT, TESTING METHOD THEREFOR, AND METHOD OF GENERATING TEST PATTERN例文帳に追加

ハードマクロテスト回路、そのテスト方法およびテストパタン生成方法 - 特許庁

EDDY-CURRENT FLAW DETECTION TESTING METHOD AND EDDY- CURRENT FLAW DETECTION TESTING DEVICE例文帳に追加

渦流探傷試験方法及び渦流探傷試験装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING WHOLE CHANNEL LOOP BACK TESTING METHOD FOR RELAY AND SWITCHING DEVICE例文帳に追加

中継器用全チャネルループバック試験方法及び切替装置 - 特許庁

PRESSURE RESISTANCE TESTING METHOD OF PRESSURE CONTAINER AND PRESSURE RESISTANCE TESTING MACHINE例文帳に追加

圧力容器の耐圧試験方法及び耐圧試験装置 - 特許庁

TEST SUPPORT DEVICE, AND TESTING METHOD OF LOW PRESSURE AIR CIRCUIT BREAKER例文帳に追加

試験支援器具および低圧気中遮断器の試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND IMPLEMENT FOR SALIVA BUFFER PERFORMANCE例文帳に追加

唾液緩衝能検査方法及び唾液緩衝能検査用具 - 特許庁

SURFACE CONDITION TESTING METHOD AND SURFACE CONDITION TESTING DEVICE例文帳に追加

表面状態の検査方法および表面状態検査装置 - 特許庁

PHYSICAL LAYER CHIP FOR IEEE1394 STANDARDS, AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

ＩＥＥＥ１３９４規格の物理層チップ及びそのテスト方法 - 特許庁

CLEANING METHOD FOR PROBE PIN, AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

プローブピンのクリーニング方法及び半導体チップの試験方法 - 特許庁

HARDNESS AND SOFTNESS TESTING METHOD, TESTING APPARATUS AND, MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

硬軟試験方法、硬軟試験装置、及び硬軟測定装置 - 特許庁

CAPTURING CARRIER, CAPTURING UNIT, CAPTURING APPARATUS AND CAPTURING-TESTING METHOD例文帳に追加

捕集担体、捕集ユニット、捕集装置及び捕集・検査方法 - 特許庁

TESTING METHOD FOR A/D CONVERTING CIRCUIT AND A/D CONVERTING CIRCUIT例文帳に追加

Ａ／Ｄ変換回路の試験方法、及びＡ／Ｄ変換回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER, PROBE APPARATUS, WAFER TESTING APPARATUS, AND WAFER TESTING METHOD例文帳に追加

半導体ウエハ，プローブ装置，ウエハテスト装置およびウエハテスト方法 - 特許庁

CELL HOLDING METHOD, CELL TESTING METHOD AND CELL TREATING DEVICE例文帳に追加

細胞保持方法、細胞試験方法及び細胞処理装置 - 特許庁

PROTOCOL TESTING DEVICE, PROTOCOL TESTING METHOD, AND PROTOCOL TESTING PROGRAM例文帳に追加

プロトコル試験装置、プロトコル試験方法およびプロトコル試験プログラム - 特許庁

EVALUATION TESTING ARRANGEMENT AND EVALUATION TESTING METHOD OF FOULING INHIBITOR例文帳に追加

ファウリング防止剤の評価試験装置および評価試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置の試験方法及び半導体記憶装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY, ITS TESTING DEVICE, AND TESTING METHOD例文帳に追加

半導体記憶装置並びにその試験装置および試験方法 - 特許庁

PLANAR SEMICONDUCTOR CHIP, TESTING METHOD THEREFOR AND SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

プレーナ型半導体チップとそのテスト方法並びに半導体ウエハ - 特許庁

RAM TEST CIRCUIT, INFORMATION PROCESSING APPARATUS, AND RAM TESTING METHOD例文帳に追加

ＲＡＭテスト回路、情報処理装置、及びＲＡＭテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER AND TESTING METHOD OF FERROELECTRIC MEMORY DEVICE例文帳に追加

半導体ウエハ、および強誘電体メモリ装置の試験方法 - 特許庁

PLL SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING METHOD AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

ＰＬＬ半導体装置並びにその試験の方法及び装置 - 特許庁

ANALYSIS DEVICE, SENSOR TESTING DEVICE, TESTING METHOD AND TESTING PROGRAM例文帳に追加

分析装置、センサの検査装置、検査方法、及び検査プログラム - 特許庁

INHALATION TOXICITY TESTER AND INHALATION TOXICITY TESTING METHOD例文帳に追加

吸入毒性試験装置、並びに、吸入毒性試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体装置とそのテスト方法および半導体集積回路 - 特許庁

TESTING METHOD OF PHOTOCATALYST FUNCTION, AND APPLIANCE USED FOR TESTING例文帳に追加

光触媒機能の試験方法および該試験に用いる器具 - 特許庁