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"Testing Method"を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 2141件
GASKET FOR HARD DISK APPARATUS, AND MANUFACTURING METHOD AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加
ハードディスク装置用ガスケット、その製造方法及びその検査方法 - 特許庁
EXTERNAL TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体集積回路の外付けテスト回路及びそのテスト方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験回路 - 特許庁
INFORMATION PROCESSING UNIT, SOFTWARE TESTING METHOD AND SOFTWARE TESTING PROGRAM例文帳に追加
情報処理装置、ソフトウェア検査方法およびソフトウェア検査プログラム - 特許庁
TEMPERATURE DETECTION CIRCUIT, ITS TESTING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
温度検出回路およびその試験方法、並びに半導体装置 - 特許庁
EVENT TYPE SEMICONDUCTOR TEST DEVICE AND EVENT TYPE SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加
イベント型半導体テスト装置およびイベント型半導体テスト方法 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT, AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加
半導体素子の試験装置および半導体素子の試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の試験方法および半導体装置の試験装置 - 特許庁
NONDESTRUCTIVE TESTING METHOD OF CORROSION DEGREE OF REBAR IN CONCRETE STRUCTURE例文帳に追加
コンクリート構造物内の鉄筋腐食程度の非破壊検査方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, SEMICONDUCTOR DEVICE MODULE AND TESTING METHOD OF THEM例文帳に追加
半導体装置、半導体装置モジュールおよびこれらの試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD, TESTING DEVICE AND TESTING SYSTEM OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体デバイスの検査方法及び検査装置並びに検査システム - 特許庁
COMPOSITE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND ITS CONNECTION TESTING METHOD例文帳に追加
複合半導体集積回路装置、及びその接続試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体装置と半導体装置の製造方法及びテスト方法 - 特許庁
NONVOLATILE MEMORY DEVICE EQUIPPED WITH BUFFER FOR TEST AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加
テスト用バッファを備えた不揮発性メモリ装置及びそのテスト方法 - 特許庁
ELECTROOPTICAL APPARATUS, TESTING METHOD AND DRIVING DEVICE FOR THE SAME AND ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加
電気光学装置、その駆動方法、駆動装置および電子機器 - 特許庁
STEEL PIPE FOR OIL WELL HAVING EXCELLENT COLLAPSE STRENGTH, AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加
コラプス強度に優れた油井用鋼管およびその判断方法 - 特許庁
SCRATCH TESTING METHOD AND DEVICE USING ACCELERATION DETECTION METHOD例文帳に追加
加速度検出方式を使用したスクラッチ試験方法及び該装置 - 特許庁
NON-POLYVINYL CHLORIDE DECORATIVE SHEET GOOD IN LAPPING APTITUDE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
ラッピング適性良好な非塩ビ化粧シート及びその試験方法 - 特許庁
RECORDING AND REPRODUCING HEAD TESTING METHOD, ITS DEVICE AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
記録再生ヘッド検査方法及びその装置並びに記録媒体 - 特許庁
NAND-TYPE FLASH MEMORY AND NAND-TYPE FLASH MEMORY TESTING METHOD例文帳に追加
NAND型フラッシュメモリ、及び、NAND型フラッシュメモリのテスト方法 - 特許庁
RECYCLABLE CIRCULATING MATERIAL CORROSION TESTING METHOD AND ITS TESTING DEVICE例文帳に追加
リサイクル型流通式材料腐食試験方法及びその試験装置 - 特許庁
TESTING METHOD, TEST PROGRAM, PROCESS MONITORING METHOD, AND PROCESS MONITORING PROGRAM例文帳に追加
試験方法、試験プログラム、工程監視方法及び工程監視プログラム - 特許庁
COMMUNICATION SYSTEM, COMMUNICATION DEVICE, AND NORMALITY TESTING METHOD USED FOR THEM例文帳に追加
通信システム、通信装置及びそれらに用いる正常性試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE OF SOLDER PASTE CHARACTERISTIC AND TESTING METHOD OF SOLDER PASTE CHARACTERISTIC例文帳に追加
はんだペースト特性試験装置およびはんだペースト特性試験方法 - 特許庁
PEEL STRENGTH TESTING METHOD AND PEEL STRENGTH TESTING JIG USABLE THEREIN例文帳に追加
剥離強さ試験方法及びこれに使用できる剥離強さ試験治具 - 特許庁
TEST MODULE AND TESTING METHOD FOR MEASURING COLOR AND LIGHT INTENSITY例文帳に追加
光の色及び強度を測定するためのテストモジュール及び試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD AND DEVICE FOR ABSORPTION CHARACTERISTIC OF BODY FLUID ABSORBENT ARTICLE例文帳に追加
体液吸収性物品の吸収特性の試験方法および装置 - 特許庁
FATIGUE TESTING INSTRUMENT AND FATIGUE TESTING METHOD FOR RING FOR ENDLESS METAL BELT例文帳に追加
無端金属ベルト用リングの疲労試験装置および疲労試験方法 - 特許庁
IN-PLANE SHEARING TESTING METHOD FOR RUBBERY ELASTIC LAMINATE AND IN-PLANE SHEARING TEST EQUIPMENT例文帳に追加
ゴム状弾性積層体の面内剪断試験方法及びその装置 - 特許庁
IN-SERVICE TESTING METHOD AND DETERMINATION DEVICE FOR DETERMINING EXISTENCE/ABSENCE OF TEST LIGHT CUTOFF FILTER例文帳に追加
インサービス試験方法および試験光遮断フィルタ有無判定装置 - 特許庁
INFORMATION PROCESSING APPARATUS, ALLOWABLE VOLTAGE TESTING SYSTEM, AND ALLOWABLE VOLTAGE TESTING METHOD例文帳に追加
情報処理装置、許容電圧試験システム、許容電圧試験方法 - 特許庁
INTER-NODE TESTING METHOD FOR COMMUNICATION NETWORK AND NODE DEVICE USED THEREFOR例文帳に追加
通信ネットワークのノード間試験方法及びそれに用いるノード装置 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD AND TESTING METHOD FOR DATA TRANSFER APPARATUS, AND DATA TRANSFER APPARATUS例文帳に追加
データ転送装置の製造方法、試験方法、及びデータ転送装置 - 特許庁
PSEUDO CALL TESTING METHOD AND RECORDING MEDIUM RECORDING PSEUDO CALL TESTING PROGRAM例文帳に追加
疑似呼試験方法および疑似呼試験プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
(iv) Division of the Testing Method for which the test shall be conducted in the testing laboratory accredited 例文帳に追加
四 登録を受けた試験所において行う試験方法の区分 - 日本法令外国語訳データベースシステム
IMMUNOLOGICAL TESTING METHOD OF SPECIMEN, AND TESTING INSTRUMENT USED THEREIN例文帳に追加
検体の免疫学的検査方法及びその方法に用いる検査器具 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR CONNECTING STRUCTURE OF SECONDARY CELL, AND TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加
二次電池用連接構造体の検査装置およびその検査方法 - 特許庁
U LINK FOR COMMUNICATION LINE, MEASURING PLUG, AND COMMUNICATION LINE TESTING METHOD例文帳に追加
通信回線用Uリンク、測定プラグおよび通信回線試験方法 - 特許庁
THERMAL SHOCK TESTING DEVICE, AND TESTING METHOD FOR THERMAL SHOCK TEST例文帳に追加
冷熱衝撃試験装置、並びに、冷熱衝撃試験の試験方法 - 特許庁
RADIOGRAPHIC TESTING APPARATUS, RADIOGRAPHIC TESTING METHOD AND RADIOGRAPHIC TESTING PROGRAM例文帳に追加
放射線検査装置、放射線検査方法および放射線検査プログラム - 特許庁
To provide an oscillator testing method and an oscillator that can test characteristics of a resonator itself of an actual machine.例文帳に追加
実機の共振器自体の特性を試験することができる。 - 特許庁
WORK CONDITION OBSERVING AND TESTING MACHINE, AND WORK CONDITION OBSERVING AND TESTING METHOD例文帳に追加
加工状況観察試験機および加工状況観察試験方法 - 特許庁
TAB TAPE AND ELECTRIC-CHARACTERISTIC MEASURING AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加
TABテープおよびTABテープの電気的特性測定試験方法 - 特許庁
POWER CONVERTER AND TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加
電力変換装置及びこの電力変換装置を用いた試験方法 - 特許庁
To provide an image sensor, and testing system and testing method for the same.例文帳に追加
イメージセンサ及びそのためのテストシステム並びにテスト方法を提供する。 - 特許庁
FLAW DETECTION TESTER, FLAW DETECTION TESTING METHOD AND SHEET MEMBER FOR FLAW DETECTION TEST例文帳に追加
探傷試験装置、探傷試験方法及び探傷試験用シート部材 - 特許庁
CURRENT MEASURING DEVICE, TESTING DEVICE, CURRENT MEASURING METHOD, AND TESTING METHOD例文帳に追加
電流測定装置、試験装置、電流測定方法、および試験方法 - 特許庁
BELT DURABILITY TESTING METHOD AND BELT DURABILITY TESTING APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加
ベルト耐久試験方法及びそれを用いたベルト耐久試験装置 - 特許庁
PULL-OUT RESISTANCE TESTING DEVICE FOR LOCK BOLT AND LOCK-BOLT PULL-OUT RESISTANCE TESTING METHOD例文帳に追加
ロックボルト用引抜抵抗試験装置及びロックボルト引抜抵抗試験方法 - 特許庁
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| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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