「"Testing Method"」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

TESTING DEVICE TESTER AND TESTING METHOD FOR THE TESTING DEVICE例文帳に追加

被試験デバイス試験装置及び被試験デバイス試験方法 - 特許庁

PROBE, PROBE SET, PROBE-IMMOBILIZED CARRIER AND GENETIC TESTING METHOD例文帳に追加

プローブ、プローブセット、プローブ固定担体及び遺伝子検査方法 - 特許庁

To provide a vehicle suspension testing method of module type.例文帳に追加

モジュール方式の車両サスペンション試験法を提供する。 - 特許庁

INSULATION TESTING METHOD AND DEVICE OF OUTER RING FOR ROLLING BEARING例文帳に追加

転がり軸受用外輪の絶縁試験方法及び装置 - 特許庁

TESTING METHOD FOR BASE STATION UNIT IN MOBILE COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加

移動体通信システムにおける基地局装置試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND DEVICE OF SOLAR BEAM TRACKING POWER GENERATING SYSTEM例文帳に追加

集光追尾式発電システムの試験方法及び装置 - 特許庁

MEASURING/TESTING METHOD OF UNIAXIAL COMPRESSION VISCOSITY AND INSTRUMENT THEREFOR例文帳に追加

一軸圧縮粘度の測定試験方法及びその装置 - 特許庁

OUTPUT BUFFER, SYNCHRONOUS MEMORY DEVICE AND ACCESS TIME TESTING METHOD例文帳に追加

出力バッファ、同期型メモリ装置及びアクセスタイムテスト方法 - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING LIQUID CRYSTAL DISPLAY ELEMENT AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

液晶表示素子の検査装置及びその検査方法 - 特許庁

LEAK CURRENT TESTER AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のリーク電流検査装置および検査方法 - 特許庁

THREE-AXIS CELL, THREE-AXIS TESTING DEVICE, AND THREE-AXIS TESTING METHOD例文帳に追加

三軸セル、三軸試験装置および三軸試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD, AND SOCKET AND SEMICONDUCTOR USED THEREFOR例文帳に追加

テスト方法及びそれに用いるソケット及び半導体装置 - 特許庁

TESTING METHOD OF CMOS INTEGRATED CIRCUIT AND ANALYZING METHOD例文帳に追加

ＣＭＯＳ集積回路の試験方法および解析方法 - 特許庁

ELECTRONIC CONTROL DEVICE, SIMULATION DEVICE, TESTING DEVICE, AND TESTING METHOD例文帳に追加

電子制御装置、模擬装置、試験装置および試験方法 - 特許庁

SEALED ARTICLE, ITS LEAKAGE TESTING METHOD, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

密閉品並びにその漏れ検査方法及び製造方法 - 特許庁

REPETITIVE DURABILITY-TESTING METHOD AND APPARATUS OF POWER MODULE例文帳に追加

パワーモジュールの繰返し耐久試験方法および試験装置 - 特許庁

TESTING METHOD FOR CONTROL AMPLIFIER IN VVVF INVERTER AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

ＶＶＶＦインバータの制御アンプ試験方法及びその装置 - 特許庁

LOOP-BACK TESTING APPARATUS, LOOP-BACK TESTING METHOD, AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

ループバック試験装置、ループバック試験方法、およびそのプログラム - 特許庁

PHOTORECEPTOR DETERIORATION ACCELERATION TESTING METHOD AND ACCELERATION TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

感光体劣化加速試験方法及び加速試験装置 - 特許庁

SILICON SUBSTRATE, METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE, DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加

シリコン基板、デバイスの製造方法、デバイスおよびテスト方法 - 特許庁

PERITONEAL FUNCTION TESTING METHOD AND PERITONEAL DIALYSIS PLANNING APPARATUS例文帳に追加

腹膜機能検査方法および腹膜透析プランニング装置 - 特許庁

PROBER AND SEMICONDUCTOR WAFER TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

プローブ装置及びそれを用いた半導体ウェハの検査方法 - 特許庁

METHOD OF PREPARING INDENTATION CURVE, AND HARDNESS TESTING METHOD例文帳に追加

押し込み曲線の作成方法および硬さ試験方法 - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

半導体試験装置およびそれを用いた試験方法 - 特許庁

LOAD TESTING SYSTEM OF MOVING IMAGE DISTRIBUTION SERVER AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

動画配信サーバの負荷試験システム及びその試験方法 - 特許庁

NETWORK TESTING DEVICE, NETWORK TESTING METHOD, AND PROGRAM THEREOF例文帳に追加

ネットワーク試験装置、ネットワーク試験方法およびそのプログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体記憶装置および半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

IODINE REMOVING EFFICIENCY TESTING METHOD AND IODINE REMOVING FILTER例文帳に追加

よう素除去効率試験方法及びよう素除去フィルタ - 特許庁

DEVICE FOR PULL-OUT TESTING OF EYELESS NEEDLE AND TESTING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

医療用アイレス針の引抜試験装置及び試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD FOR ELECTRONIC COMPONENT WITH DRIFT OF AVERAGE VALUE TAKEN INTO CONSIRATION例文帳に追加

平均値のドリフトを考慮した電子部品のテスト方法 - 特許庁

COVERED ELECTRIC WIRE ABRASION TESTING METHOD AND ABRASION TESTING DEVICE例文帳に追加

被覆電線の摩耗試験方法および摩耗試験装置 - 特許庁

REMOTE TESTING METHOD AND REMOTE TESTING SYSTEM FOR CONTROLLER例文帳に追加

制御装置の遠隔試験方法及び遠隔試験システム - 特許庁

SAMPLE TESTING SYSTEM, SAMPLE TESTING METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

検体検査システム、検体検査方法およびコンピュータプログラム - 特許庁

DURABILITY TESTING METHOD OF COATING MEMBER AND TEST DEVICE THEREFOR例文帳に追加

コーティング部材の耐久性試験方法および試験装置 - 特許庁

EXPANSIVE PROPERTY EVALUATION TESTING DEVICE AND EXPANSIVE PROPERTY EVALUATION TESTING METHOD例文帳に追加

拡管性評価試験機及び拡管性評価試験方法 - 特許庁

VACUUM CHAMBER TESTING METHOD AND DEVICE FOR PIPELINE PENETRATION WELD ZONE例文帳に追加

配管貫通溶接部真空箱試験方法及び装置 - 特許庁

PROBE, PROBE SET, PROBE-IMMOBILIZED CARRIER, AND GENETIC TESTING METHOD例文帳に追加

プローブ、プローブセット、プローブ固定担体及び遺伝子検査方法 - 特許庁

DEVICE PACKAGE, AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

デバイスパッケージ、ならびにその製造方法および試験方法 - 特許庁

D/A CONVERTER AND D/A CONVERSION LINEARITY TESTING METHOD例文帳に追加

Ｄ／Ａコンバータ及びＤ／Ａ変換直線性テスト方法 - 特許庁

TESTER FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置およびその試験方法 - 特許庁

DEVICE PACKAGE AND ITS MANUFACTURING METHOD AND TESTING METHOD例文帳に追加

デバイスパッケージ、ならびにその製造方法および試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND SPECIFICATION VALUE DETERMINATION METHOD FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加

半導体素子の試験方法及び規格値決定方法 - 特許庁

NANO-WIRE TENSION TEST DEVICE AND TESTING METHOD USING DEVICE例文帳に追加

ナノワイヤ引張試験デバイス及びそれを用いた試験方法 - 特許庁

CALL PROCESSING TESTING METHOD, CALL PROCESSING TESTING DEVICE, AND ITS PROGRAM例文帳に追加

呼処理試験方法、呼処理試験装置及びそのプログラム - 特許庁

HEPATITIS C TESTING METHOD AND HEPATITIS C TESTING DEVICE例文帳に追加

Ｃ型肝炎検査方法およびＣ型肝炎検査装置 - 特許庁