「"Testing Method"」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索

GAS LEAKAGE ALARM TESTING METHOD AND GAS LEAKAGE ALARM例文帳に追加

ガス漏れ警報器の試験方法、及びガス漏れ警報器 - 特許庁

TAG TESTING DEVICE, TAG TESTING METHOD, AND TAG TESTING PROGRAM例文帳に追加

タグ試験装置、タグ試験方法およびタグ試験プログラム - 特許庁

COMPLEMENTARITY TESTING METHOD AND GOLD PARTICLE FOR USE IN THE METHOD例文帳に追加

相補性試験方法及びそれに用いる金粒子 - 特許庁

COMPRESSION TESTING METHOD, COMPRESSION TESTING MACHINE, AND PROGRAM例文帳に追加

圧縮試験方法及び圧縮試験機、並びにプログラム - 特許庁

TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置の試験装置及び試験方法 - 特許庁

NONDESTRUCTIVE TESTING METHOD AND DEVICE OF SHOT PEENING TREATED SURFACE例文帳に追加

ショットピーニング処理面の非破壊検査方法及び装置 - 特許庁

CONTROL APPARATUS, ITS TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD例文帳に追加

制御装置並びにその試験装置及び試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験方法及びその装置 - 特許庁

CODEC SOFTWARE TESTING DEVICE AND CODEC SOFTWARE TESTING METHOD例文帳に追加

コーデックソフトウェア試験装置及びコーデックソフトウェア試験方法 - 特許庁

TESTING CIRCUIT AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験回路及び試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置及び試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路とそのテスト方法および装置 - 特許庁

CONCRETE SHEARING TESTING METHOD AND SHEARING TESTING TOOL例文帳に追加

コンクリートのせん断試験方法及びせん断試験用治具 - 特許庁

EVALUATION METHOD AND TESTING METHOD FOR ION MIGRATION OF CONNECTOR例文帳に追加

コネクタのイオンマイグレーション評価方法及び試験方法 - 特許庁

SOFTWARE INSTALLING AND/OR TESTING METHOD FOR COMPUTER SYSTEM例文帳に追加

コンピュータシステムのソフトウェアインストールおよび、または試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体デバイス試験方法・半導体デバイス試験装置 - 特許庁

THERMOSTATIC TYPE WEATHERABILITY TESTING METHOD AND WEATHERABILITY TESTING MACHINE例文帳に追加

恒温形耐候光試験方法および耐候光試験機 - 特許庁

NODE LOGIC FIXING CIRCUIT AND IDDQ TESTING METHOD例文帳に追加

ノード論理固定回路およびＩＤＤＱ試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法及びテスト回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND ITS PHASE TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路装置及びその位相テスト方法 - 特許庁

TESTING METHOD FOR MERCAPTAN SULFUR CONTENT OF PETROLEUM SERIES FUEL OIL例文帳に追加

石油系燃料油のメルカプタン硫黄分試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND IC TESTER OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験方法及びＩＣテスタ - 特許庁

SLURRY EXECUTION METHOD, SLURRY TESTING METHOD AND SLURRY TESTER例文帳に追加

スラリー施工方法、スラリー試験方法及びスラリー試験器 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR D/A CONVERTER AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

Ｄ／Ａコンバータの試験装置およびその試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験方法及びプログラム - 特許庁

DESIGNING AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の設計方法及びテスト方法 - 特許庁

TAPE FOR SIMPLE AMMONIA LEAK TEST AND LEAK TESTING METHOD例文帳に追加

簡易アンモニア漏れ試験用テープ及び漏れ試験方法 - 特許庁

TESTING SYSTEM OF PRESSURE RISE SUPPLY DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加

昇圧供給装置の試験システム及び試験方法 - 特許庁

TESTING CIRCUIT OF ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

Ａ／Ｄ変換器の試験回路及びその試験方法 - 特許庁

SCANNED MEMORY TESTING METHOD OF MULTI-PORT MEMORY ARRAY (MEMORY ARRAY, MEMORY ARRAY TESTING METHOD, AND MULTI-PORT FLOATING POINT REGISTER)例文帳に追加

マルチポート・メモリ・アレイの走査メモリ・テスト方法（メモリ・アレイ、メモリ・アレイのテスト法、及びマルチポート浮動小数点レジスタ） - 特許庁

DISCHARGE CHARACTERISTIC TESTING APPARATUS AND DISCHARGE CHARACTERISTIC TESTING METHOD例文帳に追加

放電特性テスト装置および放電特性テスト方法 - 特許庁

SNIFFER PROBE AND GAS LEAK TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

スニッファープローブ及びそれを用いたガス漏れ試験方法 - 特許庁

ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY DEVICE AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

有機電界発光表示装置及びその検査方法 - 特許庁

CONCRETE TESTER AND CONCRETE TESTING METHOD USING IT例文帳に追加

コンクリート試験装置およびそれを用いたコンクリート試験方法 - 特許庁

SALT DAMAGE TESTING METHOD FOR VENTILATING AIR FILTER UNIT AND ITS DEVICE例文帳に追加

換気用エアフィルタユニットの塩害試験方法および装置 - 特許庁

TENSILE TESTING DEVICE AND TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

引張試験装置、該引張試験装置を用いた試験方法 - 特許庁

EDDY CURRENT-UTILIZING FLAW DETECTION TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

渦電流探傷試験装置およびその試験方法 - 特許庁

LIFETIME ACCELERATION TESTING METHOD OF POLYMER ELECTROLYTE FUEL CELL例文帳に追加

固体高分子型燃料電池の寿命加速試験方法 - 特許庁

A DEVICE FOR ROTATIONAL ANALYSIS, MEASUREMENT METHOD, AND TESTING METHOD例文帳に追加

回転分析デバイス及び計量方法及び検査方法 - 特許庁

SWITCHGEAR UNIT CONNECTING STRUCTURE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

開閉装置ユニット接続構造体及びその試験方法 - 特許庁

HIGH-FREQUENCY SIGNAL OUTPUT TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

高周波信号出力試験方法および半導体装置 - 特許庁

BEARING POWER TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR PILE BURIED IN GROUND例文帳に追加

地盤埋設杭の支持力試験方法および試験装置 - 特許庁

VEHICLE TRAVEL TESTING DEVICE, AND VEHICLE TRAVEL TESTING METHOD例文帳に追加

車両走行試験装置および車両走行試験方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

集積回路、並びに、集積回路を試験するための方法 - 特許庁

CDMA BASE STATION TESTING DEVICE AND BASE STATION TESTING METHOD例文帳に追加

ＣＤＭＡ基地局試験装置及び基地局試験方法 - 特許庁