「"Testing Method"」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a new in vitro solubility testing method.例文帳に追加

新規なｉｎ ｖｉｔｒｏ溶解試験方法の提供。 - 特許庁

CONTACTOR FOR ELECTRONIC PART, AND TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

電子部品用コンタクタ及びこれを用いた試験方法 - 特許庁

CREEP PHYSICAL PROPERTY TESTING METHOD, DEVICE, AND PROGRAM例文帳に追加

クリープ物性試験方法、試験装置、および試験プログラム - 特許庁

METHOD FOR PREVENTING COLLAPSE OF POROUS WALL, CASING, AND TESTING METHOD例文帳に追加

孔壁崩落抑制方法、ケーシング、及び試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND DEVICE OF LATERAL PRESSURE OF OPTICAL FIBER例文帳に追加

光ファイバの側圧試験方法及びその試験装置 - 特許庁

VIRTUAL SYSTEM TESTING METHOD AND VIRTUAL UNIT USED THEREFOR例文帳に追加

仮想システムテスト方法およびそれに用いる仮想ユニット - 特許庁

TEST SIGNAL GENERATING DEVICE AND TESTING METHOD OF VIDEO APPARATUS例文帳に追加

テスト信号発生装置及び映像機器の検査方法 - 特許庁

PRESSURE TESTING METHOD AND KNOCKING METHOD OF CATHODE- RAY TUBE例文帳に追加

陰極線管の耐圧試験方法及びノッキング方法 - 特許庁

MAGNETIC DISK DEVICE, AND TESTING METHOD AND TESTING PROGRAM THEREOF例文帳に追加

磁気ディスク装置、その試験方法および試験プログラム - 特許庁

TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD FOR VEHICULAR ELECTRONIC MODULE例文帳に追加

車両用電子モジュールの検査装置及び検査方法 - 特許庁

NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体不揮発性記憶装置およびその試験方法 - 特許庁

TELEPHONE DEVICE TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD FOR TELEPHONE DEVICE例文帳に追加

電話装置試験システムおよび電話装置の試験方法 - 特許庁

TESTING METHOD AND DEVICE OF TUNNELING MAGNETORESISTIVE EFFECT ELEMENT例文帳に追加

トンネル磁気抵抗効果素子の試験方法及び装置 - 特許庁

LOAD TESTING SYSTEM, LOAD TESTING APPARATUS, AND LOAD TESTING METHOD例文帳に追加

負荷試験システム、負荷試験装置および負荷試験方法 - 特許庁

CORROSION TESTING METHOD OF METALLIC MATERIAL FOR SHIP BALLAST TANK例文帳に追加

船舶バラストタンク用金属材料の腐食試験方法 - 特許庁

COMMUNICATION PROGRAM TESTING METHOD AND COMMUNICATION PROGRAM TESTING SYSTEM例文帳に追加

通信プログラム試験方法及び通信プログラム試験システム - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体装置とその試験方法及び製造方法 - 特許庁

STATIONARY INDUCTION ELECTRIC MACHINE AND ITS VOLTAGE BREAKDOWN TESTING METHOD例文帳に追加

静止誘導電気機器及びその耐電圧試験方法 - 特許庁

GAS-INSULATION SWITCHING DEVICE AND WITHSTAND VOLTAGE TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

ガス絶縁開閉装置及びその耐電圧試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR TOUCH PANEL AND TESTING METHOD FOR TOUCH PANEL例文帳に追加

タッチパネルの検査装置およびタッチパネルの検査方法 - 特許庁

COAT MEMBRANE ADHESIVE PERFORMANCE EVALUATION TESTING METHOD OF SPECTACLE LENS例文帳に追加

眼鏡レンズのコート膜密着性能評価試験方法 - 特許庁

BEAM PATH TESTING METHOD, WAVEFORM ANALYZER, AND PROGRAM例文帳に追加

光線路試験方法、波形解析装置およびプログラム - 特許庁

COMBINED CYCLE TESTING APPARATUS AND COMBINED CYCLE TESTING METHOD例文帳に追加

複合サイクル試験装置及び複合サイクル試験方法 - 特許庁

TESTING APPARATUS, TESTING METHOD AND TESTING FACILITY FOR IMAGE SENSOR例文帳に追加

イメージセンサの検査装置、検査方法及び検査設備 - 特許庁

LSI TESTER, LSI TESTING METHOD AND LSI DEVICE例文帳に追加

ＬＳＩテスタ及びＬＳＩテスト方法及びＬＳＩデバイス - 特許庁

TESTING APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR ELEMENTS AND TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

半導体素子の試験装置およびその試験方法 - 特許庁

NONVOLATILE SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置、及びそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTER, AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体試験装置および半導体メモリの試験方法 - 特許庁

BURN-IN TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR CHIP, BURN-IN TESTING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR CHIP USED FOR BURN-IN TESTING METHOD例文帳に追加

半導体チップのバーンイン試験方法、バーンイン試験装置及びバーンイン試験方法に使用する半導体チップ - 特許庁

ELECTRIC WIRE FLEXIBILITY TESTING DEVICE, AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

電線の耐屈曲性試験装置およびその試験方法 - 特許庁

DETECTOR TESTING METHOD FOR FIRE SENSOR AND FIRE RECEIVER例文帳に追加

火災感知器のあぶり試験方法及び火災受信機 - 特許庁

TESTING METHOD PRIOR TO PLATING AND INSTRUMENT FOR TEST PRIOR TO PLATING例文帳に追加

めっき前検査方法およびめっき前検査装置 - 特許庁

CORROSION RESISTANCE TESTING METHOD AND EVALUATING METHOD FOR STEEL MATERIAL例文帳に追加

鋼材の耐食性試験方法及び評価方法 - 特許庁

TESTING METHOD OF COARSE AGGREGATE AND FINE AGGREGATE例文帳に追加

粗骨材の試験方法及び細骨材の試験方法 - 特許庁

TROUBLE GENERATING DEVICE AND TESTING METHOD FOR COMPUTER SYSTEM例文帳に追加

障害発生装置およびコンピュータシステムの試験方法 - 特許庁

AIR PERMEATION TESTING METHOD FOR STICK-LIKE ARTICLE AND ITS DEVICE例文帳に追加

棒状物品の通気検査方法及びその装置 - 特許庁

TESTING METHOD AND STORAGE MEDIUM STORING TESTING PROGRAM例文帳に追加

テスト方法、および、テスト用プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

BREAKER TESTING APPARATUS, PROGRAM AND BREAKER TESTING METHOD例文帳に追加

遮断器試験装置、プログラムおよび遮断器試験方法 - 特許庁

LEAK TESTING METHOD FOR POROUS FILM HAVING ASYMMETRIC STRUCTURE例文帳に追加

非対称構造を有する多孔質膜のリークテスト法 - 特許庁

UNDERWATER SENSOR AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

水中探知装置および水中探知装置のテスト方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TESTING METHOD FOR ELECTRIC EQUIPMENT PROTECTION CIRCUIT例文帳に追加

電気設備保護回路の試験装置及び試験方法 - 特許庁

GROUND PROPERTY TESTING METHOD AND GROUND PROPERTY TESTING DEVICE例文帳に追加

地盤特性試験方法及び地盤特性試験装置 - 特許庁

SCRATCH RESISTANCE TESTING EQUIPMENT AND SCRATCH RESISTANCE TESTING METHOD例文帳に追加

耐擦傷性試験装置および耐擦傷性試験方法 - 特許庁

IMAGE SENSOR, TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

イメージセンサ及びそのためのテストシステム並びにテスト方法 - 特許庁

RELAY APPARATUS, TESTING DEVICE, TESTING METHOD, AND TESTING PROGRAM例文帳に追加

中継装置，試験装置，試験方法，及び試験プログラム - 特許庁