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"Testing Method"を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 2141件
To provide a radio testing method for a mobile station which automatically tests the entire transmitter-receiver and antenna.例文帳に追加
送受信機及びアンテナの全体にわたって自動的に試験を行なう移動局の無線試験方法を提供すること。 - 特許庁
GENETIC TESTING METHOD FOR CANCER BY ANALYSIS OF EXPRESSION OF CANCER-RELATING GENE UTILIZING MONOCYTE CONTAINED IN BLOOD SAMPLE例文帳に追加
血液試料に含まれる単核球細胞を用いた癌関連遺伝子の発現解析による癌の遺伝子検査方法 - 特許庁
To obtain a foundation load testing method with which workability is improved while ensuring the settlement of a test version.例文帳に追加
試験版の沈下量を確保しつつ、作業性が向上された基礎の載荷試験方法を得ることを目的とする。 - 特許庁
To provide an anti-refraction property testing method which enables the efficient obtaining of anti-refraction property data, which has precision equal to or higher than that of a result obtained from a conventional testing method and also satisfies reliability, in a short time, and an anti-refraction property tester.例文帳に追加
従来の試験方法から得られる結果と同等以上の精度を有し且つ信頼性をも満足させる耐屈折性データを効率よく短時間で得ることのできる試験方法及びその試験方法を行なう試験装置を提供する - 特許庁
To provide a detection method capable of easily detecting the yield point of a solid material, which can not be calculated by a conventional method, by a tensile testing method using a weight type control method based on a viewpoint different from a conventional tensile testing method.例文帳に追加
従来の引張試験方法とは異なる観点に基づいた重り式制御法を用いた引張試験方法により、従来方法では求めることができなかった固体材料の降伏点を容易に検出できる検出法を提供する。 - 特許庁
This network load testing method is different from a conventional testing method, does not stop the transmission of the self-device on the basis of the reception completion of the opposite device but stops the transmission of the self-device on the basis of the reception completion of the self-device itself.例文帳に追加
本発明のネットワーク負荷試験方法は、従来の試験方法と異なり、相手装置側の受信完了に基づいて、自装置側の送信が停止せず、自装置側自身の受信完了に基づいて、自装置側の送信が停止する。 - 特許庁
AUTOMATIC TESTING DEVICE, AUTOMATICALLY TESTING METHOD AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH CONTROL PROGRAM FOR AUTOMATIC TEST RECORDED THEREON例文帳に追加
自動テスト装置、自動テスト方法及び自動テスト用制御プログラムが記録されたコンピュータにより読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
To provide a data transmitter-receiver and its testing method for carrying out a test while miniaturizing a circuit scale.例文帳に追加
本発明は、回路規模を小型化しながらテストを実行することができるデータ送受信装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
To provide a horizontal load testing method of a pile measuring a horizontal resistance of many piles by one-time static horizontal load test.例文帳に追加
1回の静的水平載荷試験により多数の杭の水平抵抗を求める杭の水平載荷試験方法を提供する。 - 特許庁
SUCCESSIVELY TRANSPORTING TYPE REACTION VESSEL, METHOD FOR PRODUCING SUCCESSIVELY TRANSPORTING TYPE REACTION VESSEL, AND TESTING METHOD BY USING SUCCESSIVELY TRANSPORTING TYPE REACTION VESSEL例文帳に追加
逐次移送式反応槽、逐次移送式反応槽の製造方法及び逐次移送式反応槽を用いた試験方法 - 特許庁
To provide a testing device and testing method capable of detecting vibration detector with a simple structure.例文帳に追加
簡単な構成で振動検出器を検定することが可能な検定装置および検定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a testing method by which presence/absence of defects of current copy type pixels is tested in the state where an EL element is not enclosed.例文帳に追加
EL素子未封入の状態でカレントコピー型の画素の欠陥の有無を試験することができる試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a testing method for accurately detecting the contact state between unit coils composing stator coils in each phase.例文帳に追加
各相のステータコイルを構成する単位コイル間の接触状態を精度よく検出するための試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide an acceleration testing device and an acceleration testing method of software for efficiently executing the acceleration test of the software.例文帳に追加
ソフトウェアの加速試験を効率的に実行することのできるソフトウェアの加速試験装置及び加速試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing method and a semiconductor test system where pin resources in a semiconductor testing apparatus can be efficiently used.例文帳に追加
半導体試験装置のピンリソースを効率的に使用できる半導体試験方法および半導体試験システムを提供する。 - 特許庁
To avoid a large current from flowing through a specific probe pin by a simple mechanism, relating to a testing device and a testing method.例文帳に追加
試験装置及び試験方法に関し、簡単な機構により特定のプローブピンに大電流が流れることを回避する。 - 特許庁
To provide a testing device and a testing method which are utilized for an accommodation of an electronic component having a pressurizing housing with a conductor.例文帳に追加
加圧ハウジングが導電体を有した電子コンポーネントの収容に利用される試験装置と試験方法とを提供すること。 - 特許庁
To provide a step testing method and its device capable of shortening measurement time without lowering reliability and accuracy.例文帳に追加
信頼性や精度を落とすことなく、測定時間を短縮することができるステップテスト方法及びその装置を提供する。 - 特許庁
To provide a can lid testing method which enables the easy inspection of a distribution status of a sealing compound applied to the can lid.例文帳に追加
缶蓋に塗布されているシーリングコンパウンドの分布状態を容易に検査することが可能な缶蓋検査方法を提供する。 - 特許庁
IMAGE PROCESSING DEVICE, INFORMATION PROCESSING DEVICE, SOFTWARE OPERATION TESTING METHOD, SOFTWARE OPERATION TESTING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM TO WHICH THE PROGRAM IS RECORDED例文帳に追加
画像処理装置、情報処理装置、ソフトウェア動作テスト方法、ソフトウェア動作テストプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
In this compression fatigue testing method, the non-contact state of an indenter and a sample is provided one or more times during measurement.例文帳に追加
測定中に圧子と試料が非接触である状態を1回以上設けることを特徴とする圧縮疲労試験方法。 - 特許庁
MATERIAL TESTER, JIG SET FOR TENSILE TEST USED THEREIN AND MATERIAL TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加
材料試験機、材料試験機に用いる引張試験用治具セット、及び材料試験機を用いて実行する材料試験方法 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit and its testing method and device capable of accomplishing an effective test of the integrated circuit and generating a scan design involving less entanglement of the wiring.例文帳に追加
半導体集積回路の効果的なテストを実現し、且つ、配線の錯綜の少ないスキャンデザインを提供する。 - 特許庁
DISTRIBUTION GOODNESS-OF-FIT TESTING DEVICE, CONSUMABLE ITEM SUPPLY TIMING DETERMINATION DEVICE, IMAGE FORMATION APPARATUS, DISTRIBUTION GOODNESS-OF-FIT TESTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
分布適合度検定装置、消耗品補給タイミング判定装置、画像形成装置、分布適合度検定方法及びプログラム - 特許庁
To provide a testing method for easily securing the recording/reproduction quality of magnetic disk device in a low-temperature environment.例文帳に追加
低温環境下における磁気ディスク装置の記録再生品質を簡易に確保することができる試験方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a corrosion resistance testing method for a copper-based member with which the corrosion resistance of a copper-based member can be tested promptly.例文帳に追加
銅系部材の耐孔食性を迅速に試験することができる銅系部材の耐食性試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide test equipment, testing method and program which can reduce dependency on measurements such as leak current for logic pattern of test vector in testing of devices under test.例文帳に追加
被試験デバイスの試験において、試験ベクタの論理パターンに対する、リーク電流等の測定値の依存性を低減する。 - 特許庁
TESTING METHOD OF IMAGE DISPLAY PANEL MEMBER, IMAGE DISPLAY PANEL MEMBER, IMAGE DISPLAY PANEL, DRIVE METHOD OF THE IMAGE DISPLAY PANEL, AND IMAGE DISPLAY例文帳に追加
画像表示パネル部材のテスト方法、画像表示パネル部材、画像表示パネル、画像表示パネルの駆動方法、画像表示装置 - 特許庁
To provide a testing method and a testing device capable of easily evaluating peeling resistance of a pressure sensitive adhesive tape to oblique bearing pressure.例文帳に追加
粘着テープの斜向面圧に対する耐剥離性を簡単に評価できる試験法、および、試験装置を提供すること。 - 特許庁
MAGNET ASSEMBLY, INSTRUMENT FOR MEASURING MAGNETIC LEAKAGE FLUX BY USING THE MAGNET ASSEMBLY, METHOD FOR MEASURING MAGNETIC LEAKAGE FLUX, AND TESTING METHOD例文帳に追加
磁石構成体、並びにこの磁石構成体を用いた漏洩磁束測定装置、漏洩磁束測定方法及び検査方法 - 特許庁
MOBILE INTERNET MEASURING DEVICE WITH BASE STATION EMULATING FUNCTION, AND UL SYNCHRONIZATION ACQUISITION AND TERMINAL TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加
基地局エミュレーティング機能を有する携帯インターネット計測器及びこれを利用したUL同期取得及び端末のテスト方法 - 特許庁
To provide a transmission processing apparatus testing method for the testing development of transmission processing apparatus software correctly and efficiently.例文帳に追加
通信処理装置ソフトウェアの開発の試験を正確かつ効率的に実施する通信処理装置試験方法を提供する。 - 特許庁
To enable testing even during an network operation in an LAN switch and a testing method for testing in or between LAN switches.例文帳に追加
LANスイッチ及びLANスイッチ内又はLANスイッチ間の試験を行う試験方法に関し、ネットワーク運用中でも試験を可能とする。 - 特許庁
PRETREATMENT METHOD AND AIRTIGHTNESS TESTING METHOD FOR FUEL REFORMING APPARATUS, OPERATION PRETREATMENT METHOD FOR FUEL CELL POWER GENERATION SYSTEM例文帳に追加
燃料改質装置の前処理方法および気密試験方法、並びに燃料電池発電システムの運転前処理方法 - 特許庁
To provide a testing device and testing method for efficiently executing the operation test of codec software.例文帳に追加
本発明は、コーデックソフトウェアの動作試験を効率的に実行可能な試験装置及び試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a semiconductor device, a testing method thereof and a semiconductor chip which is capable of independently inspecting the semiconductor chip.例文帳に追加
半導体チップを単独で検査することができる半導体装置およびその検査方法および半導体チップを提供する。 - 特許庁
To provide a cycle life testing method for a lithium secondary battery which can shorten duration of existing cycle life testing.例文帳に追加
既存のサイクル寿命検査の期間を短縮することができるリチウム二次電池のサイクル寿命検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a testing method capable of measuring the filling strength of catalyst particles (2) as their deformability and the dispersibility of the particle sizes.例文帳に追加
触媒粒子(2)の変形性、その粒子径の分散性として充填強度を測定しうる試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a test circuit, an integrated circuit and a testing method optimum for testing a macro block including a physical layer circuit for data communication.例文帳に追加
データ通信用の物理層回路を含むマクロブロックのテストに最適なテスト回路、集積回路、テスト方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a testing method for semiconductor device suitable and more efficient for testing a mass-produced semiconductor device.例文帳に追加
大量生産された半導体装置を試験するときに好適な、より効率的な半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁
CONTROL VOLTAGE DETERMINING METHOD OF INTEGRATED CIRCUIT, GATE VOLTAGE DETERMINING METHOD OF TEG CIRCUIT, TEG CIRCUIT TESTING METHOD AND TESTING DEVICE例文帳に追加
集積回路の制御電圧決定方法、TEG回路のゲート電圧決定方法、TEG回路試験方法及び試験装置 - 特許庁
To provide a testing method for an impervious sheet without the necessity for providing an electrode in the bottom side in testing the impervious sheet.例文帳に追加
遮水シートの検査に際しその下側に電極を設置することの不要な遮水シート検査方式を提供する。 - 特許庁
ELECTRIC CONTACT DEVICE, SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING SOCKET USING IT, SEMICONDUCTOR MODULE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING METHOD例文帳に追加
電気的接触装置とそれを用いた半導体デバイスのテストソケットおよび半導体モジュールならびに半導体デバイスのテスト方法 - 特許庁
To provide a testing method for a semiconductor device whose measurement accuracy will not be lowered, even when the temperature fluctuates, while an IC chip is being measured.例文帳に追加
ICチップを測定中に温度が変動しても測定精度が低下しない半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a testing device tester, capable of detecting defective through-hole at high speed, and to provide a testing device testing method.例文帳に追加
不良のスルーホールを高速に検出できる被試験デバイス試験装置及び被試験デバイス試験方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a testing method to solve the problem of steam generator (SG) fouling due to the accumulation of corrosion products from a secondary system.例文帳に追加
二次システムからの腐食生成物の堆積による蒸気発生器(SG)の閉塞を解決する試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide an inexpensive material testing method resistant to outside vibration and capable of grasping the testing force at the initial stage of destruction in accurate timing.例文帳に追加
安価で外部振動に強く、破壊初期の試験力を正確なタイミングで捉えられる材料試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide an accelerated weathering resistant testing method whose correlativity with respect to an exposure to weather is high and whose testing time is shortened.例文帳に追加
自然曝露との相関性が高く、試験時間を大幅に短縮することができる促進耐候性試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide an abrasion testing method of a printing surface, which provides measuring data of high objectiveness, reproducibility and reliability with respect to the friction resistance of the printing surface, and also to provide glossy paper manufactured by putting the measuring data, which is obtained by the abrasion testing method, into practical use.例文帳に追加
印刷面の耐擦性について、客観性、再現性及び信頼性の高い測定データを提供し得る印刷面の摩耗試験方法、及び該摩耗試験方法により得られた測定データを活用して製造された光沢紙を提供すること。 - 特許庁
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