「そくびきょう」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

割引対象とする商品の設定を迅速化すること。例文帳に追加

To quicken a setup of a commodity to be discounted. - 特許庁

変速制御装置及び機電一体型電子制御装置例文帳に追加

SHIFT CONTROL DEVICE AND MECHANICALLY AND ELECTRICALLY INTEGRATED ELECTRONIC CONTROL UNIT - 特許庁

筋力測定装置及び筋力鍛錬装置例文帳に追加

MUSCULAR STRENGTH MEASURING DEVICE AND MUSCULAR STRENGTH TRAINING APPARATUS - 特許庁

電力計測装置及び機器制御装置例文帳に追加

ELECTRIC POWER MEASURING DEVICE, AND EQUIPMENT CONTROL DEVICE - 特許庁

圧力センサ及び吸気系圧力測定装置例文帳に追加

PRESSURE SENSOR, AND SUCTION SYSTEM PRESSURE MEASURING APPARATUS - 特許庁

圧力測定システム、圧力測定方法、及び記録媒体例文帳に追加

SYSTEM AND METHOD FOR MEASUREMENT OF PRESSURE AS WELL AS RECORDING MEDIUM - 特許庁

走査型電子顕微鏡及びそれを用いる測定方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING SAME - 特許庁

走査型電子顕微鏡及びその測定方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS MEASURING METHOD - 特許庁

走査型電子顕微鏡及び微細パターン測定方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MICRO-PATTERN MEASURING METHOD - 特許庁

走査型プローブ顕微鏡およびその測定設定方法例文帳に追加

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MEASUREMENT SETTING METHOD - 特許庁

走査プローブ型顕微鏡用の迅速走査ステージ例文帳に追加

RAPID SCAN STAGE FOR SCANNING PROBE TYPE MICROSCOPE - 特許庁

走査プローブ顕微鏡の走査速度決定装置例文帳に追加

SCANNING SPEED DETERMINING APPARATUS OF SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁

走査型プローブ顕微鏡及びその測定方法例文帳に追加

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MEASUREMENT METHOD - 特許庁

光学顕微鏡、及びスペクトル測定方法例文帳に追加

OPTICAL MICROSCOPE AND SPECTRUM MEASUREMENT METHOD - 特許庁

走査型プローブ顕微鏡およびその測定方法例文帳に追加

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MEASURING METHOD - 特許庁

走査型プローブ顕微鏡の測定パラメータ設定方法例文帳に追加

MEASUREMENT PARAMETER SETTING METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁

走査型プローブ顕微鏡とその測定方法例文帳に追加

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MEASUREMENT METHOD - 特許庁

走査型電子顕微鏡及びパターン測定方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND PATTERN MEASURING METHOD - 特許庁

液中測定可能な走査型プローブ顕微鏡例文帳に追加

SCANNING PROBE MICROSCOPE CAPABLE OF MEASUREMENT IN LIQUID - 特許庁

走査型電子顕微鏡を用いたパターン計測方法例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING PATTERN USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

成形装置、成形品及び金型相対距離計測方法例文帳に追加

MOLDING MACHINE, MOLDED PRODUCT AND MOLD RELATIVE DISTANCE MEASURING METHOD - 特許庁

走査型ＡＣホール顕微鏡とその測定方法例文帳に追加

SCANNING AC HOLE MICROSCOPE AND ITS MEASURING METHOD - 特許庁

電子顕微鏡の自動歪み測定方法例文帳に追加

AUTOMATIC DISTORTION-MEASURING METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査プローブ顕微鏡を用いた測定方法例文帳に追加

MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁

走査型プローブ顕微鏡およびその計測方法例文帳に追加

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF THE SAME - 特許庁

走査型プローブ顕微鏡の測定方法例文帳に追加

MEASURING METHOD FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE - 特許庁

走査型プローブ顕微鏡と計測方法例文帳に追加

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD - 特許庁

物性値の測定方法および走査形プローブ顕微鏡例文帳に追加

MEASURING METHOD OF PHYSICAL PROPERTY VALUE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁

走査型プローブ顕微鏡及びそれを用いた計測方法例文帳に追加

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING IT - 特許庁

走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた測定方法例文帳に追加

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING THE SAME - 特許庁

閉塞検出を行う荷電粒子顕微鏡例文帳に追加

CHARGED PARTICLE MICROSCOPE FOR PERFORMING BLOCKAGE DETECTION - 特許庁

帯電電位測定方法、及び荷電粒子顕微鏡例文帳に追加

CHARGED POTENTIAL MEASURING METHOD, AND CHARGED PARTICLE MICROSCOPE - 特許庁

物性値の測定方法および走査型プローブ顕微鏡例文帳に追加

MEASURING METHOD FOR PHYSICAL PROPERTY VALUE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁

走査型プローブ顕微鏡の測定位置の位置決め方法例文帳に追加

POSITIONING METHOD OF MEASURING POSITION OF SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁

走査型プロ—ブ顕微鏡の測定方法例文帳に追加

MEASURING METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁

光学顕微鏡及びスペクトル測定方法例文帳に追加

OPTICAL MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING SPECTRUM - 特許庁

記録装置および記録装置の記録速度制御方法例文帳に追加

RECORDER AND ITS RECORDING SPEED CONTROL METHOD - 特許庁

走査型プロ−ブ顕微鏡及びその測定方法例文帳に追加

SCANNING PROBE MIROSCOPE AND MEASURING METHOD THEREOF - 特許庁

電気物性の測定方法および顕微鏡装置例文帳に追加

ELECTRIC PROPERTY MEASURING METHOD AND MICROSCOPE DEVICE - 特許庁

閉鎖装置及び傷創傷閉塞装置例文帳に追加

CLOSURE APPARATUS AND WOUND OCCLUSION APPARATUS - 特許庁

三次元形状測定装置および金型構造体例文帳に追加

THREE-DIMENSIONAL SHAPE MEASUREMENT DEVICE AND DIE STRUCTURE - 特許庁

走査型顕微鏡の測定パラメータ決定方法例文帳に追加

METHOD FOR DETERMINING MEASUREMENT PARAMETER OF SCANNING TYPE MICROSCOPE - 特許庁

表示装置、輝度測定方法、プログラム、及び記憶媒体例文帳に追加

DISPLAYING DEVICE, MEASURING METHOD FOR LUMINANCE, PROGRAM AND RECORDING MEDIUM THEREOF - 特許庁

半導体投光装置および距離測定装置例文帳に追加

SEMICONDUCTOR LIGHT PROJECTOR AND DISTANCE MEASURING INSTRUMENT - 特許庁

反射シートの評価方法及び輝度測定装置例文帳に追加

EVALUATION METHOD FOR REFLECTION SHEET AND ITS BRIGHTNESS MEASURING DEVICE - 特許庁