「そくびきょう」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

共焦点走査型光学顕微鏡、高さ測定方法、及びプログラム例文帳に追加

CONFOCAL SCANNING OPTICAL MICROSCOPE, HEIGHT MEASURING METHOD AND PROGRAM - 特許庁

高さ測定方法、共焦点走査型光学顕微鏡、及びプログラム例文帳に追加

HEIGHT MEASURING METHOD, CONFOCAL SCANNING OPTICAL MICROSCOPE, AND PROGRAM - 特許庁

操作速度情報出力方法、操作速度情報出力装置および記録媒体例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR OUTPUTTING OPERATION SPEED INFORMATION AND RECORDING MEDIUM - 特許庁

除外経過意匠に関連して本規則(規則1.04及び規則3.02を除く)を適用するにあたり，例文帳に追加

In applying these Regulations (other than regulations 1.04 and 3.02) in relation to an excluded transitional design:  - 特許庁

測定器制御アダプター、測定システム、測定器制御方法及び記録媒体例文帳に追加

CONTROL ADAPTER FOR MEASURING DEVICE, MEASURING SYSTEM, METHOD FOR CONTROLLING MEASURING DEVICE AND RECORDING MEDIUM - 特許庁

曲率半径測定機の被測定体保持位置補正方法および曲率半径測定機例文帳に追加

MEASURED OBJECT HOLDING POSITION CORRECTION METHOD OF CURVATURE RADIUS MEASURING INSTRUMENT AND CURVATURE RADIUS MEASURING INSTRUMENT - 特許庁

干渉計、手術用顕微鏡、および対象物の運動速度の干渉測定法例文帳に追加

INTERFEROMETER, MICROSCOPE FOR SURGICAL OPERATION, AND INTERFEROMETRIC MEASURING METHOD FOR MOVING SPEED OF OBJECT - 特許庁

探針の形状計測方法、試料の形状計測方法、及びプローブ顕微鏡例文帳に追加

METHODS OF MEASURING PROBE SHAPE AND SAMPLE SHAPE, AND PROBE MICROSCOPE - 特許庁

商品等提供促進支援システム、商品等提供促進支援方法及び記憶媒体例文帳に追加

SYSTEM AND METHOD FOR PROMOTING AND SUPPORTING PROVISION OF ARTICLE AND THE LIKE, AND RECORDING MEDIUM - 特許庁

電子顕微鏡で測定する試料を簡易に作製でき試料測定が容易な試料測定方法及び測定用試料基材を提供すること。例文帳に追加

To provide a specimen measurement method for simply manufacturing a specimen measured by using an electron microscope and facilitating specimen measurement, and to provide a specimen base material for measurement. - 特許庁

測定対象の表面状態によって生じる計測誤差を低減することができる距離測定装置および距離測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a distance measuring device and distance measuring method, capable of reducing measurement errors due to surface conditions of a measuring object. - 特許庁

測定顕微鏡装置、その表示方法、及びその表示プログラム例文帳に追加

MEASURING MICROSCOPE DEVICE, ITS DISPLAY METHOD, AND ITS DISPLAY PROGRAM - 特許庁

走査型プローブ顕微鏡の試料ホルダ、および試料の測定方法例文帳に追加

SAMPLE HOLDER OF SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE MEASUREMENT METHOD - 特許庁

走査プローブ顕微鏡及びそれを用いた表面形状計測方法例文帳に追加

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SURFACE SHAPE MEASUREMENT METHOD USING THE SAME - 特許庁

走査プローブ顕微鏡を用いた試料の磁気力測定方法及び装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING MAGNETIC FORCE OF SPECIMEN USING SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁

レーザ走査型顕微鏡及びその表面形状の測定方法例文帳に追加

LASER SCANNING MICROSCOPE APPARATUS, AND SURFACE SHAPE MEASURING METHOD THEREOF - 特許庁

顕微鏡用標本作成方法および試料観測管理システム例文帳に追加

SPECIMEN PREPARATION METHOD FOR MICROSCOPE, AND SAMPLE OBSERVATION CONTROL SYSTEM - 特許庁

移動局装置および基地局装置並びに周辺セル測定制御方法例文帳に追加

MOBILE STATION, BASE STATION AND METHOD OF CONTROLLING MEASUREMENT OF PERIPHERAL CELL - 特許庁

反射鏡アンテナの鏡面精度測定装置および鏡面制御システム例文帳に追加

MIRROR SURFACE PRECISION MEASURING APPARATUS FOR REFLECTOR ANTENNA AND MIRROR SURFACE CONTROL SYSTEM - 特許庁

走査型電子顕微鏡及び走査型電子顕微鏡における加速電圧最適化方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ACCELERATION VOLTAGE OPTIMIZATION METHOD IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

Ｘ線回折顕微鏡装置およびＸ線回折顕微鏡装置によるＸ線回折測定方法例文帳に追加

X-RAY DIFFRACTION MICROSCOPE APPARATUS AND X-RAY DIFFRACTION MEASURING METHOD BY THE SAME - 特許庁

共振器の共振周波数測定方法および共振器の結合度測定方法例文帳に追加

RESONANCE FREQUENCY MEASURING METHOD OF RESONATOR AND COUPLING DEGREE MEASURING METHOD OF RESONATOR - 特許庁

冪則型情報処理装置、冪則型情報処理方法、プログラム、及び記録媒体例文帳に追加

POWER LAW TYPE INFORMATION PROCESSOR, POWER LAW TYPE INFORMATION PROCESSING METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM - 特許庁

文字列特徴量予測装置、文字列特徴量予測方法、プログラムおよび記録媒体例文帳に追加

DEVICE FOR PREDICTING CHARACTER STRING CHARACTERISTICS, METHOD FOR PREDICTING CHARACTER STRING CHARACTERISTICS, PROGRAM AND STORAGE MEDIUM - 特許庁

結晶形状測定装置および結晶形状測定方法およびプログラムおよび記録媒体例文帳に追加

CRYSTAL SHAPE DETERMINING APPARATUS, ITS METHOD AND PROGRAM AND RECORDING MEDIUM - 特許庁

全血血小板凝集能測定方法、その装置、及び吸引ノズル例文帳に追加

WHOLE BLOOD PLATELET AGGREGATION MEASURING METHOD, ITS APPARATUS, AND SUCTION NOZZLE - 特許庁

試料観測方法、光学顕微鏡及び蛍光相関分析装置例文帳に追加

SPECIMEN OBSERVATION METHOD, OPTICAL MICROSCOPE, AND FLUORESCENT CORRELATION ANALYZER - 特許庁

地表降雨演算装置、地表降雨予測装置、及び記憶媒体例文帳に追加

SURFACE RAINFALL OPERATION DEVICE, SURFACE RAINFALL PREDICTION DEVICE, AND STORAGE MEDIUM - 特許庁

距離測定装置およびこれを備えた光学干渉計、光学顕微鏡例文帳に追加

DISTANCE MEASURING DEVICE, AND OPTICAL INTERFEROMETER AND OPTICAL MICROSCOPE EQUIPPED WITH THIS - 特許庁

電場変調スペクトル測定用近接場光学顕微鏡例文帳に追加

NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE FOR MEASURING ELECTRIC FIELD MODULATION SPECTRUM - 特許庁

基板熱状態測定装置及び基板熱状態分析制御方法例文帳に追加

SUBSTRATE HEAT STATE MEASURING DEVICE AND SUBSTRATE HEAT STATE ANALYSIS CONTROL METHOD - 特許庁

蛍光顕微鏡及び蛍光寿命の測定方法、並びに蛍光寿命の測定用プログラム例文帳に追加

FLUORESCENCE MICROSCOPE, MEASURING METHOD OF FLUORESCENT LIFETIME, AND MEASURING PROGRAM OF FLUORESCENT LIFETIME - 特許庁

ＯＣＴ計測を用いた共焦点顕微鏡装置において、高速に断層画像の取得を行う。例文帳に追加

To obtain a tomographic image at a high speed in a confocal microscope apparatus using OCT measurement. - 特許庁

光学顕微鏡、位相差顕微鏡、微分干渉顕微鏡または偏光顕微鏡等の第１の顕微鏡で観察した測定対象物の位置情報等から電子顕微鏡観察における測定対象物の位置を簡単に求めることができる位置決定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a position determination method capable of easily determining the position of a measuring object in electron microscope observation from position information or the like of the measuring object acquired by observation by a first microscope such as an optical microscope, a phase contrast microscope, a differential interference microscope or a polarization microscope. - 特許庁

走査型プローブ顕微鏡用カンチレバー及びその製造方法、並びに走査型プローブ顕微鏡及び表面電荷測定顕微鏡例文帳に追加

CANTILEVER FOR SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND SCANING-TYPE PROBE MICROSCOPE AND SURFACE CHARGE-MEASURING MICROSCOPE - 特許庁

表面形状の測定方法、表面形状の測定プログラム及び記録媒体例文帳に追加

METHOD AND PROGRAM FOR MEASURING SURFACE CONFIGURATION AND RECORDING MEDIUM - 特許庁

希望波対干渉波電力比測定回路および希望波対干渉波電力比測定方法例文帳に追加

CIRCUIT AND METHOD FOR MEASURING DESIRED WAVE/ INTERFERENCE WAVE POWER RATIO - 特許庁

加工性および強度に優れた等速ジョイント用内輪の製造方法例文帳に追加

METHOD FOR MANUFACTURING INNER RING FOR CONSTANT VELOCITY JOINT SUPERIOR IN WORKABILITY AND STRENGTH - 特許庁

決算処理方法、利息額記帳方法、及び金融自動化システム例文帳に追加

PROCESSING METHOD FOR SETTLEMENT OF ACCOUNTS, INTEREST AMOUNT REGISTERING METHOD AND FINANCIAL AUTOMATION SYSTEM - 特許庁

設備機器の入力エネルギーの計測方法及び蒸気流量の計測方法例文帳に追加

MEASURING METHOD OF INPUT ENERGY OF EQUIPMENT APPARATUS, AND MEASURING METHOD OF STEAM FLOW RATE - 特許庁

半導体測定装置及び半導体測定方法、サンプル作製方法、並びに走査型容量顕微鏡例文帳に追加

SEMICONDUCTOR MEASURING INSTRUMENT AND SEMICONDUCTOR MEASURING METHOD, SAMPLE FABRICATING METHOD, AND SCANNING CAPACITANCE MICROSCOPE - 特許庁

原子間力顕微鏡を用いた試料測定方法およびシステム例文帳に追加

SAMPLE MEASURING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND SAMPLE MEASURING SYSTEM THEREFOR - 特許庁

まず、走査型トンネル顕微鏡のステージ上に測定試料を載置する。例文帳に追加

At first, a measuring sample is placed on a stage of a scanning tunnel microscope. - 特許庁

表面性状測定用探針およびこれを用いた顕微鏡例文帳に追加

SURFACE PROPERTY MEASURING PROBE AND MICROSCOPE USING IT - 特許庁

直接染料によるヒトのケラチン繊維の急速染色及び急速脱色方法例文帳に追加

METHOD FOR RAPIDLY DYEING BY USING DIRECT DYESTUFF AND RAPIDLY BLEACHING HUMAN KERATIN FIBER - 特許庁