「とうかがたでんしけんびきょうほう」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

透過型電子顕微鏡装置および試料解析方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE ANALYSIS METHOD - 特許庁

透過型電子顕微鏡の検鏡試料作成法例文帳に追加

MICROTOMY FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用の試料製造方法例文帳に追加

METHOD FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡における電子ビーム調整方法例文帳に追加

ADJUSTMENT METHOD OF ELECTRON BEAM IN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料の作成方法例文帳に追加

METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION-TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料及びその作製方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SPECIMEN AND METHOD FOR PREPARING THE SAME - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料の作製方法例文帳に追加

SAMPLE PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料作製方法例文帳に追加

SAMPLE PREPARING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料の解析方法および透過型電子顕微鏡用試料例文帳に追加

METHOD OF ANALYZING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡の試料作製方法例文帳に追加

SAMPLE PREPARING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡の観察方法および保持治具例文帳に追加

OBSERVATION METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND HOLDING JIG - 特許庁

透過型電子顕微鏡による観察方法例文帳に追加

OBSERVATION METHOD BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡及びその制御方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS CONTROL METHOD - 特許庁

透過型電子顕微鏡用の試料の作製方法、観察方法及び構造例文帳に追加

MANUFACTURING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE, OBSERVATION METHOD AND STRUCTURE - 特許庁

透過型電子顕微鏡グリッド及びその製造方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE GRID AND MANUFACTURING METHOD THEREOF - 特許庁

透過型電子顕微鏡及び撮影方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND PHOTOGRAPHING METHOD - 特許庁

透過型電子顕微鏡及び立体観察法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND STEREOSCOPIC OBSERVING METHOD - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料保持体およびその製造方法、透過型電子顕微鏡用試料およびその製造方法、並びに、透過型電子顕微鏡用試料を用いた観測方法および結晶構造解析方法例文帳に追加

TEST PIECE CARRIER FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD, OBSERVATION AND CRYSTAL STRUCTURE ANALYSIS METHODS USING THE SAME, AND TEST PIECE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD - 特許庁

透過型電子顕微鏡法用サンプルの作成方法および装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR PRODUCING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY - 特許庁

透過型電子顕微鏡の自動最適合焦点調整方法及び装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR ADJUSTING AUTOMATIC OPTIMUM FOCUSING OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料のアモルファス層の厚さ評価方法および透過型電子顕微鏡用試料の作製方法例文帳に追加

METHOD FOR EVALUATING THICKNESS OF AMORPHOUS LAYER OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡による鋼板の最表層の評価方法例文帳に追加

EVALUATION METHOD FOR OUTERMOST LAYER OF STEEL PLATE BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用試料作製装置及び試料作製方法例文帳に追加

SAMPLE-FORMING APPARATUS AND SAMPLE FORMATION METHOD FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡観察用試料の作製方法および作製装置例文帳に追加

PREPARATION METHOD AND PREPARATION DEVICE FOR SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION - 特許庁

透過型電子顕微鏡観察用薄膜試料作製方法例文帳に追加

FORMATION FOR THIN FILM SAMPLE FOR TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPIC OBSERVATION - 特許庁

透過型電子顕微鏡観察用薄膜試料の作製方法例文帳に追加

METHOD OF MANUFACTURING THIN-FILM SAMPLE FOR OBSERVING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡の試料作製方法及び試料保持体例文帳に追加

METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION-TYPE ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE HOLDER - 特許庁

電子線回折像の解析方法及び透過型電子顕微鏡例文帳に追加

METHOD FOR ANALYSIS OF ELECTRON BEAM DIFFRACTION IMAGE AND TRANSMISSIVE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡用半導体試料およびその製造方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR SAMPLE FOR TRANSMISSION-TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAMPLE - 特許庁

走査透過型電子顕微鏡に依る観察方法及び観察装置例文帳に追加

OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION EQUIPMENT BY SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

本発明は、透過型電子顕微鏡グリッドの製造方法に関する。例文帳に追加

To provide a method of manufacturing a transmission electron microscope grid. - 特許庁

透過型電子顕微鏡およびそれを用いた像観察方法例文帳に追加

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE OBSERVATION METHOD USING IT - 特許庁

透過型電子顕微鏡の情報伝達限界測定法およびこの測定法が適用された透過型電子顕微鏡例文帳に追加

INFORMATION TRANSMISSION LIMIT MEASURING METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE WITH THE MEASURING METHOD APPLIED - 特許庁

透過型電子顕微鏡におけるトモグラフのデータ測定方法及び装置例文帳に追加

DATA MEASURING METHOD AND DEVICE OF TOMOGRAPH IN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

透過型電子顕微鏡による薄膜の厚みの測定方法例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING THICKNESS OF THIN FILM BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

集束イオンビーム加工方法およびそれを用いた透過型電子顕微鏡試料の作製方法例文帳に追加

FOCUSED ION BEAM PROCESSING METHOD, AND PREPARATION METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE USING IT - 特許庁

結晶エッチング方法および透過型電子顕微鏡用試料の作製方法例文帳に追加

CRYSTAL ETCHING METHOD, AND METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査透過像と透過像の倍率・回転補正方法及び走査透過型電子顕微鏡例文帳に追加

SCANNING TRANSMITTED IMAGE AND MAGNIFICATION OF TRANSMITTED IMAGE/ROTATION CORRECTION METHOD AND SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

エネルギーフィルタを用いた透過型電子顕微鏡の分光データ処理方法、及びその透過型電子顕微鏡例文帳に追加

SPECTRUM DATA PROCESSING METHOD OF TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE USING ENERGY FILTER AND ITS TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査型電子顕微鏡と集束イオンビーム装置との共用試料ホルダー及び透過型電子顕微鏡用の試料作製方法例文帳に追加

COMMON SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND FOCUSED-ION BEAM DEVICE, AND SAMPLE-PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電界放出型 点投影顕微鏡は、MortonとRamberg(1939年)によって発明された。例文帳に追加

The field-emission point-projection microscope was invented by Morton and Ramberg (1939).  - 科学技術論文動詞集

透過型電子顕微鏡法における位相コントラスト結像のための新しい方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a new method for phase contrast imaging in transmission electron microscopy. - 特許庁

透過型電子顕微鏡を用いた観測により、種々の方向における観測対象物の観測データを取得することが可能な、透過型電子顕微鏡用試料保持体およびその製造方法、透過型電子顕微鏡用試料およびその製造方法、並びに、透過型電子顕微鏡用試料を用いた観測方法および結晶構造解析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a test piece carrier for a transmission type electron microscope and its manufacturing method, a test piece for the transmission type electron microscope and its manufacturing method, as well as observation and crystal structure analysis methods using the test piece for the transmission type electron microscope, wherein observation using the transmission type electron microscope can obtain observation data of an object to be observed in various directions. - 特許庁

共焦点走査透過型電子顕微鏡装置及び３次元断層像観察方法例文帳に追加

CONFOCAL SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND THREE-DIMENSIONAL TOMOGRAPHIC OBSERVATION METHOD - 特許庁

透過型電子顕微鏡による燃料電池触媒層に含まれる触媒の定量的解析方法例文帳に追加

QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD OF CATALYST CONTAINED IN FUEL CELL CATALYST LAYER BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁