「とうかがたでんしけんびきょうほう」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

CADデータ等の設計情報から撮影／検査に必要な全ての条件を作成し、その条件で実際の検査を行うために、半導体検査システムを設計情報から撮影／検査に必要な全ての条件を作成するナビゲーションシステムと実際の撮影／検査を実行する走査型電子顕微鏡システムとから構成させる。例文帳に追加

The semiconductor test system is composed of a navigation system which makes up all conditions required for photographing/testing from design information, and a scanning electron microscope system which actually carries out photographing/testing, and then the all conditions required for photographing/testing are made up from the design information such as CAD data or the like, and the actual test is carried out in those conditions. - 特許庁

４）本膜を透過型電子顕微鏡により像、電子回折図形および電子エネルギー損失分光法スペクトルを観察、解析し、従来にない新しい構造と組成を有する極薄単離膜が生成していることを確認する。例文帳に追加

(4) It is confirmed that the ultra-thin isolation membrane having an unprecedented new structure and composition is formed by observing and analyzing images, electron diffraction diagrams and electron energy loss spectroscopy spectrums of the membrane by use of a transmission electron microscope. - 特許庁

グラファイトの結晶構造が透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）画像において、繊維軸方向に魚骨状配列構造を有したフィッシュボーン型炭素質微細繊維状体である。例文帳に追加

The fish-bone type carbonaceous microfiber body has a graphite crystal structure having a fish bone-like arrangement structure in the fiber axis direction in a transmission electron microscope (TEM) image. - 特許庁

複数個の試料から同時にスペクトル像を取得し、スペクトル像より抽出された電子エネルギー損失スペクトルから、高精度のケミカルシフトを測定することが可能な透過型電子顕微鏡装置，試料ホルダ，試料台及びスペクトル像の取得方法を提供する。例文帳に追加

To provide a transmission electron microscope apparatus capable of acquiring a spectral image simultaneously from a plurality of samples and measuring a highly accurate chemical shift form an electronic energy loss spectrum extracted from the spectral image, a sample holder, a sample stage, and a method of acquiring the spectral image. - 特許庁

複数個の試料から同時にスペクトル像を取得し、スペクトル像より抽出された電子エネルギー損失スペクトルから、高精度のケミカルシフトを測定することが可能な透過型電子顕微鏡装置，試料ホルダ，試料台及びスペクトル像の取得方法を提供する。例文帳に追加

To provide a transmission electron microscope apparatus, a sample holder, a sample stage and a method for acquiring a spectral image, capable of acquiring the spectral image from a plurality of pieces of samples simultaneously, and measuring a chemical shift of high precision from an electron energy loss spectrum extracted from the spectral image. - 特許庁

実機から抜管したサンプル管の金属組織を透過型電子顕微鏡で観察し、Ｃｕ富化相の析出によって生じる歪場の黒点の密度を次のような方法で計測することにより、クリープ損傷を精度よく推定する方法。例文帳に追加

In this method, the creep damage is estimated accurately by observing the metallographic structure of a sample tube extracted from an actual machine by a transmission electron microscope, and by measuring the density of black spots on a strain field generated by deposition of a Cu-enriched phase by the following methods. - 特許庁

トラックに識別マーク（２０）が設けられ、この識別マークは、光源から放射される中心波長（λ）の光、すなわち角度（Θ_i）で情報媒体（１０）に入射する当該光によって検出することができ、これらの識別マークから情報媒体（１０）のポジションを導き出すことができる。例文帳に追加

Marks (20) are disposed in a track, the marks can be detected by means of light of a central wavelength (λ) which is emitted by the light source and made incident upon the information carrier (10) at an angle (Θ_i) and the position of the information carrier (10) can be derived from the marks. - 特許庁

容易に、低コストにて、ガラス繊維配合ポリマー本来の明確なモルフォロジーを観察できる、透過型電子顕微鏡の検鏡試料作成法の提供。例文帳に追加

To provide microtomy for a transmission type electron microscope providing easy and inexpensive observation of clear glass fiber mixed polymer innate morphology. - 特許庁

放熱性を十分に確保しつつ、電子親和力が低いことにより、高輝度を達成するとともに加熱温度を抑えてエネルギー幅を抑制することが可能な電子放射陰極、当該電子放射陰極を備えた電子顕微鏡および電子ビーム露光機を提供する。例文帳に追加

To provide an electron emitting cathode, capable of attaining a high luminance due to low electron affinity while sufficiently ensuring heat radiation performance, and reducing the energy width by reducing heating temperature, to provide an electron microscope, and to provide an electron beam exposing machine provided with the electron emitting cathode. - 特許庁

走査透過型電子顕微鏡に依る観察方法及び観察装置に関し、ＳＴＥＭに於ける焦点ずれ量の最適化や虚像の消去を可能にする計算手段を実現し、そして、計算像を得る為の時間を大幅に短縮して電子顕微鏡像を観察直後に計算像と比較して条件をフィードバックできるようにする。例文帳に追加

To realize a computing means which can optimize an amount of focal gap in STEM and which can erase a virtual image and receive a feedback of a condition by substantially shortening the period of time to obtain a computed image and by comparing an image of an electron microscope to the computed image right after observation in an observation method and an observation equipment by a scanning transmission electron microscope. - 特許庁

１ 一方の締約国の権限のある当局又は実施機関は、第七条(a)の規定により合意する措置に従い、当該一方の締約国の法令の下で収集された個人に関する情報（この協定の実施のために必要なものに限る。)を当該一方の締約国の法律及び規則に従って他方の締約国の権限のある当局又は実施機関に伝達する。例文帳に追加

1. In accordance with measures to be agreed upon by virtue of subparagraph (a) of Article 7, the competent authorities or competent institutions of one Party shall, in accordance with its national statutes and regulations, send to the competent authorities or competent institutions of the other Party information about an individual collected under its laws insofar as that information is necessary for the implementation of this Agreement. - 厚生労働省

その組織構造は、実質的に黒鉛構造以外の結晶構造が存在せず、Ｘ線回折法によるパターン解析により金属Ｓｉ及びＳｉ化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡(TEM) の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。例文帳に追加

The tissue structure has the structural characteristic in which the crystal structure substantially exclusive of a graphite structure does not substantially exist, the diffraction lines belonging to the metal Si and Si compound by the pattern analysis using an X-ray diffraction method are not detected and the granular structure is not identifiable by the observation of a transmission type electronmicroscope(TEM). - 特許庁

錫ドープ酸化インジウムナノ粒子は、透過型電子顕微鏡による観察で測定された一次粒子の平均粒径が５〜１００ｎｍであり、ピクノメーター法で測定された真密度が６．８〜７．２ｇ／ｃｍ^3であることを特徴とする。例文帳に追加

The tin-doped indium oxide nanoparticle has an average primary particle size of 5-100 nm as determined by transmission electron microscopic observation, true density of 6.8-7.2 g/cm^3 as determined by pycnometry. - 特許庁

また、その組織中には実質的に黒鉛構造以外の結晶構造が存在せず、Ｘ線回折法により金属ＳｉおよびＳｉ化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。例文帳に追加

The Si dispersed vitreous carbon material is provided with structural performance that a crystalline structure except graphite structure does not exist practically in the structure, the diffraction line attributed to metal Si or an Si compound is not detected in an X-ray diffraction method and granular structure is not discriminated by the observation by a transmission electron microscope(TEM). - 特許庁

シリコン結晶中の結晶欠陥観察用透過型電子顕微鏡用の薄片試料を、一度に大量に作成することができるとともに簡便に広い面積で作製することを可能とした試料作製方法及び薄片試料を提供する。例文帳に追加

To provide a method for manufacturing a sample which can form at once a large quantity of thin piece samples for a crystal defect observing transmission electron microscope in the silicon crystal and which can be simply manufactured in a wide area and to provide the thin piece sample. - 特許庁

１ 一方の締約国の権限のある当局又は実施機関は、当該一方の締約国の法令の下で収集された個人に関する情報（この協定の実施のために必要なものに限る。）を当該一方の締約国の法律及び規則に従って他方の締約国の権限のある当局又は実施機関に伝達する。例文帳に追加

1. The competent authorities or competent institutions of one Party shall, in accordance with its laws and regulations, send to the competent authorities or competent institutions of the other Party information about an individual collected under its legislation insofar as that information is necessary for the implementation of this Agreement. - 厚生労働省

２ 一方の締約国の権限のある当局又は実施機関は、当該一方の締約国の法令の下で収集された個人に関する情報（この協定の実施のために必要なものに限る。）を当該一方の締約国の法律及び規則に従って他方の締約国の権限のある当局又は実施機関に伝達する。例文帳に追加

2. The competent authorities or competent institutions of one Party shall, in accordance with its national statutes and regulations, send to the competent authorities or competent institutions of the other Party information about an individual collected under its legislation insofar as that information is necessary for the implementation of this Agreement. - 厚生労働省

特許法の規定に関わり無く，規則49及び規則50に基づく記録は，当該特許出願が規則26(2)に規定されている条件の下で印刷刊行される前に，一般公衆の閲覧に供されるべきものとする。例文帳に追加

Notwithstanding the provisions of the Law, none of the records provided for in Rules 49 and 50 shall be accessible to the public before the patent application has been published under the conditions provided for in Rule 26.2. - 特許庁

１ 一方の締約国の権限のある当局又は実施機関は、当該一方の締約国の法令の下で収集された者に関する情報（この協定の実施のために必要なものに限る。）を当該一方の締約国の法律及び規則に従って他方の締約国の権限のある当局又は実施機関に伝達する。例文帳に追加

1. The competent authorities or competent institutions of a Contracting State shall, in accordance with its laws and regulations, transmit to the competent authorities or competent institutions of the other Contracting State information about a person collected under the legislation of that Contracting State insofar as that information is necessary for the implementation of this Agreement. - 厚生労働省

ユーザがパスワードなどの情報を意識することなしに、配信サーバに電子データの配信作業を行わせること等を可能とした電子データ配信システム、電子データ配信装置、電子データ検索装置、携帯通信装置、電子データ配信方法、及び記憶媒体を提供する。例文帳に追加

To provide an electronic data distribution system, an electronic data distribution device, an electronic data retrieval device, a portable communication device, an electronic data distribution method and a storage medium, allowing an information distribution server to execute distribution work of electronic data without making a user conscious of information such as a password. - 特許庁

透過型電子顕微鏡観察用の試料となる試料片２を薄片化した後、フォトレジスト３でパターンを形成して、エッチングを行い、形成されたエッチング部４にイオンミリング装置による研磨を行って観察部５を形成する試料作製方法である。例文帳に追加

This method for making a sample comprises thinning a sample piece 2 that becomes the transmission electron microscopic sample, forming a pattern by a photo resist 3 followed by etching, and polishing a formed etched part 4 by an ion milling device to form an observation part 5. - 特許庁

サービス券等の共同配布及び回収システム１は、インターネット１３を介して顧客端末１２及び企業・商店端末１４に接続され、企業・商店ごとの前記サービス券の使用に関する情報及びサービス券の配布を伴うイベント等の開始・内容・終わり等の情報が登録されたデータベースサーバー１１を備える。例文帳に追加

This joint distribution and collection system 1 of the service tickets is provided with a database server 11 connected to customers' terminals 12 and enterprises' stores' terminals 13 via the Internet 13 and registering information such as the start, contents, end, etc., of an event, etc., with distribution of information related to the use of the service tickets for every enterprise and store and the service tickets. - 特許庁

異なる波長域の照明光の下で各々撮像される標本の顕微鏡画像において当該標本の移動により生じる撮像位置のズレを低減させる新たな手法を提供する。例文帳に追加

To provide new technique to decrease deviation in an imaging position caused by movement of a sample in the microscopic images of the sample to be picked up respectively under illuminating light of different wavelength regions. - 特許庁

また、半導体デバイスの断面を観察する観察方法において、前記半導体デバイスの特定箇所の断面を走査型顕微鏡で観察する工程と；前記断面に非晶質構造の保護膜を形成し、当該保護膜を透して透過型電子顕微鏡によって前記断面を更に観察する工程とを含むことを特徴とする。例文帳に追加

Further, the observation method for observing the cross section of the semiconductor device includes a process for observing the cross section of the specific place of the semiconductor device by a scanning microscope and a process for forming the protective film of an amorphous structure to the cross section and further observing the cross section by the transmission type electron microscope through the protective film. - 特許庁

走査型電子顕微鏡等に適した検出器は、p^＋‐拡散層に接続された純ホウ素の薄い層をもつPINフォトダイオードで、そのホウ素層は、アルミニウム・グリッドをもつ電極に接続され、そのホウ素層と電極との間の各々の位置において低い電気抵抗の経路を形成する。例文帳に追加

In this detector suitable for a scanning electron microscope or the like, which is a PIN photodiode having a thin layer of pure boron connected to the p^+-diffusion layer, the boron layer is connected to an electrode having an aluminum grid to form a path of low electrical resistance on each position between the boron layer and the electrode. - 特許庁

ＣＰＵ４４は、予め登録されている電子メールアドレスを宛先とし、当該画像データと、当該画像データで表されている観察像の撮影時における顕微鏡１０若しくはカメラ３０の設定状態を示す情報とが含まれている電子メールを作成する。例文帳に追加

A CPU 44 generates email to an email address registered in advance, which includes the image data and information on settings of the microscope 10 or camera 30 for imaging the observed image represented by the image data. - 特許庁

本発明は、設計データと走査型電子顕微鏡にて取得される画像との間でパターンマッチングを行うパターンマッチング方法及び装置であって、設計データをビットマップに変換して、当該ビットマップ化された設計データと、走査型電子顕微鏡によって取得された画像とのマッチングを行うことを特徴とする。例文帳に追加

The pattern matching method and apparatus for carrying out pattern matching between design data and the image taken by a scanning electron microscope converts the design data into a bitmap, and carries out the matching between the bitmapped design data and the image taken by a scanning electron microscope. - 特許庁

透過型電子顕微鏡は、試料を保持する試料ステージを、ナノ駆動構造により電子ビームの光軸方向であるＺ軸方向とそれに直交するＸ軸とＹ軸方向（Ｘ軸とＹ軸は互いに直交する）とに移動調整可能とする。例文帳に追加

This transmission electron microscope allows a sample stage holding a sample to be adjusted to be movable by a nano-drive mechanism in the Z-axis direction being an optical axis direction of an electron beam and X-axis and Y-axis directions (the X-axis and the Y-axis are orthogonal to each other) orthogonal thereto. - 特許庁

また、その組織構造は、Ｘ線回折法によるパターン解析により金属Ｓｉ及びＳｉ化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡(TEM)の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。例文帳に追加

Diffraction lines attributed to metallic Si and Si compound cannot be detected in the texture structure by the pattern analysis by X-ray diffraction method and granular texture is unrecognizable by the observation with a transmission electron microscope(TEM). - 特許庁

特に、粒子表面に希土類元素（Ｓｃ、Ｙも希土類元素として扱う）を有するものが挙げられ、透過型電子顕微鏡写真より計測される平均長軸長が１０〜２００ｎｍ、ＢＥＴ法による比表面積が３０〜２００ｍ^2／ｇであるものが好適な対象となる。例文帳に追加

Particularly, a preferable example is the powder having rare earth elements (Sc, Y can be treated as rare earth elements)on the particle surfaces, such as having an average long axis length of 10-200 nm when measured in the image photographed by using transmission electron microscope and a specific surface area of 30-200 m^2/g by the BET method. - 特許庁

記録した登録画像に対し、任意の設定時間後に記録した参照画像の２つの画像間の視野ずれ量および方向をリアルタイムで高精度に計測，表示し、視野ずれを自動的に補正する透過型電子顕微鏡を得る。例文帳に追加

To obtain a transmission electron microscope which measures and indicates an amount and directions deviations in a visual field of a reference image recorded after an arbitrary set time relative to a recorded image in a real time and a high degree of accuracy and automatically corrects for the deviations in visual field. - 特許庁

透過型電子顕微鏡に付随している複数個の多重極子レンズを有する電子分光器の多重極子レンズを調整する方法であって、多重極子レンズの励磁電流をパラメータとしたパラメータ設計手法を用いたシミュレーションにより最適条件を求めるレンズ調整方法を提供する。例文帳に追加

This method is to adjust the multi-pole lenses of the electron spectrometer having a plurality of the multi-pole lenses attached to a transmission electron microscope, and optimum conditions are found by simulation using a parameter design method using the exciting currents of the multi-pole lenses as parameters in this lens adjusting method. - 特許庁

倒立顕微鏡は、標本１１２を入れたディッシュ１１３を載置するためのステージと、ディッシュ１１３の下方に位置する対物レンズ１１０と、標本１１２を観察するための観察光学系とを備えている。例文帳に追加

The inverted microscope is equipped with a stage for placing a dish 113 in which a sample 112 is put, an objective lens 110 positioned under the dish 113, and an observation optical system for observing the sample 112. - 特許庁

リードフレーム10上に装着した電子部品12の樹脂封止成形用金型とその周辺自動化機構等の構造や全体形状の簡易・小型化と、前記電子部品12と金型キャビティ４・５との位置合わせの簡易・確実化と、前記各電子部品12に対する同一成形条件化等を図ることができる電子部品の樹脂封止成形方法及び金型を提供する。例文帳に追加

To provide a method for sealingly molding resin for an electronic component which can realize simplification and miniaturization of a mold for sealing molding of the electronic component mounted on a lead frame and of a structure or entire shape of an automated mechanism, etc., provided in the vicinity thereof, simplification and accurate positioning between the electronic component and a mold cavity, and setting of identical molding conditions for such electronic components. - 特許庁

ＳＥＭオペレータが独自のノウハウに基づきマニュアルで生成した撮像レシピと同等あるいはそれ以上の性能をもつ撮像レシピを正確にかつ高速に生成する機能を備えた走査型電子顕微鏡装置ならびにそれを用いた撮像方法を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope device having a function to produce precisely and rapidly an imaging recipe having an equal or better performance than an imaging recipe produced manually by SEM operators based on their own unique know-how, and to provide an imaging method using the same. - 特許庁

半球ピンと潤滑剤を載せたディスクの摺動接触点で発生する光子像を、紫外線透過レンズで構成された光学顕微鏡を通して検出し、UV像の発生の有無により、トライボプラズマが潤滑剤の潤滑点の近傍に発生しているかどうかを判定することからなる潤滑剤の劣化測定方法。例文帳に追加

In this lubricant degradation measuring method, a photon image generated in a slide contact point of a disk mounted with a semi-spherical pin and the lubricant is detected through an optical microscope constituted of an ultraviolet ray transmitting lens, and the presence of the generation of triboplasma in the vicinity of a lubricating point of the lubricant is determined based on the presence of a UV image. - 特許庁

試料を照射する１次電子ビームを放出する照射系と、試料から放出された２次電子ビームを検出系へ導く投影結像光学系２４とを備える写像型電子顕微鏡の投影結像光学系２４は、第１のズームレンズ６ａと第２のズームレンズ６ｂとを有するトランスファー・レンズ系２４ｂを備える。例文帳に追加

The mapping type electron microscope includes an illuminating system which irradiates a primary electron beam onto a sample, and the projection imaging optical system 24 which guides a secondary beam irradiated from the sample to a detection system, and the projection imaging optical system 24 is provided with the transfer lens system 24b, having a first zooming lens 6a and a second zooming lens 6b. - 特許庁

前記磁性粒子は、六方晶フェライト磁性粒子の還元処理物であって、透過型電子顕微鏡により求められる（２２０）面に垂直な方向における粒子径Ｄｔｅｍと、（２２０）面の回折ピークから求められる結晶子サイズＤｃとの比Ｄｃ／Ｄｔｅｍが０．９０〜０．７５の範囲である。例文帳に追加

The magnetic particles are reduction treatment products of hexagonal ferrite magnetic particles, and a ratio Dc/Dtem between a particle diameter Dtem in a direction perpendicular to a face (220) obtained with a transmission electron microscope and a crystallite size Dc obtained from a diffraction peak of the face (220) is within the range of 0.90-0.75. - 特許庁

透過型電子顕微鏡用薄膜試料の作成にあたり、汚れや破損のない、広範囲にわたる、再現性の良い、平面方向からの最表層サンプリングを可能にすることであり、また、これによって最表層の組織、析出物評価を可能にすることである。例文帳に追加

To sample an outermost-layer from the plane direction extending over a wide range, having no dirt, no damage and excellent reproducibility, at the time of forming a thin film sample for a transmission electron microscope, thereby evaluates structure and deposit of the outermost layer. - 特許庁

エネルギー損失量と測定位置情報の二軸で形成される電子エネルギー損失スペクトル像について、各測定位置間での電子エネルギー損失スペクトルの相違点を高効率かつ高精度に補正する透過型電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a transmission electron microscope for highly efficiently and highly accurately correcting differences in electron energy-loss spectra between measuring positions on electron energy-loss spectral images formed of two axes of the amount of an energy loss and measuring position information. - 特許庁

集束イオンビームを用いて透過型電子顕微鏡で観察をおこなうための薄膜試料を作製する方法において、大きな試料基板から観察所望部位を確実に抽出し、薄膜試料作製のための仕上げ加工を行なう際に、観察所望部位を試料ホルダに安定して保持することができるようにする。例文帳に追加

To hold an observation desired portion stably on a sample holder, when extracting surely the observation desired portion from a large sample substrate and performing finishing process for preparing a thin-film sample, in a method for preparing the thin-film sample for performing observation by a transmission electron microscope by using a focused ion beam. - 特許庁

エネルギーフィルタ方式の透過型電子顕微鏡を用いて、試料の元素分布或いはスペクトルを撮影する場合に、分光計を通して撮影される元素分布或いはスペクトルに関する分光データの撮影時間を試料のドリフトに対応し得るように時分割する。例文帳に追加

When pictures are taken of element distribution of a sample and spectrum using the transmission type electron microscope of a energy filtering type, photography time of spectrum data concerning the element distribution or the spectrum pictured through a spectrometer, is time-shared so that it can respond to a drift of the sample. - 特許庁

電子分光器および透過型電子顕微鏡を用いて、エネルギー損失量と測定位置情報が直交する二軸で形成されるスペクトル像について、スペクトル像の測定倍率および測定位置を高効率かつ高精度に行う。例文帳に追加

To correct measurement magnification and measurement position of a spectral image with high efficiency and with high accuracy using an electronic spectroscope and a transmission electron microscope, regarding the spectral image formed with two axes where an amount of energy loss and a measurement position information are orthogonal to each other. - 特許庁

透過型電子顕微鏡によって測定されたストラクチャー長さを用いて描かれた粒度分布曲線の最大頻度径が０．５〜０．８μｍで、その半値幅が１μｍ以上であるカーボンブラック原料を、水素を含む気流中、加熱処理して酸性官能基を脱離させることを特徴とするカーボンブラックの製造方法。例文帳に追加

The method for producing the carbon black comprises subjecting a raw material of the carbon black having 0.5-0.8 μm mode diameter in the size distribution curve drawn by using the structure lengths measured by the transmission electron microscope, and ≥1 μm half width thereof to a heat treatment in a gas flow containing hydrogen to remove an acidic functional group. - 特許庁

（ａ）：前記シリカ粒子の形状係数ＳＦ１が１．００〜１．２０であること（ｂ）：前記シリカ粒子の窒素吸着法により求められる平均一次粒子径が５〜１００ｎｍであって、且つ透過型電子顕微鏡写真の画像解析から求められる粒子径変動係数ＣＶ値が０〜１５％であること（ｃ）：前記ポリエチレングリコールは、数平均分子量が２００〜１５０００であること例文帳に追加

(b) an average primary particle size of the silica particles measured by a nitrogen adsorption method is 5-100 nm and a coefficient of variation CV value of a particle size of the silica particles measured by an image analysis of a photograph obtained by using a transmission electron microscope is 0-15%; and (c) the polyethylene glycol has a number-average molecular weight of 200-15,000. - 特許庁