「とうかがたでんしけんびきょうほう」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目)

マイクロカプセルを含む観察用試料のマイクロカプセル内の材料を透過型電子顕微鏡により解析する方法であって、該マイクロカプセルを含む観察用試料として、光重合可能なモノマーが内包されたマイクロカプセルに光照射をした観察用試料を用いることを特徴とする、マイクロカプセル内の材料を透過型電子顕微鏡により解析する方法。例文帳に追加

In the method for analyzing the materials in the microcapsule of the sample for observation containing the microcapsule by the transmission electron microscope, the sample for observation is used as the sample for observation containing the microcapsule, where the microcapsule including monomer capable of photopolymerization is irradiated with light. - 特許庁

本発明は透過型電子顕微鏡におけるトモグラフのデータ測定方法及び装置に関し、試料への電子線照射量を減らすことができるトモグラフのデータ測定方法及び装置に関する。例文帳に追加

To provide a data measuring method and a device of a tomograph, reducing an electron beam irradiation quantity to a sample, in the data measuring method and the device of the tomograph in a transmission type electron microscope. - 特許庁

透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）三次元像構築画像処理方法のアライメントに関する技術において、従来よりも簡便なＴＥＭ三次元像構築画像処理方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for construction and processing of a three dimensional image in a transmission electron microscope TEM, which is simpler than before, concerning a technology associated with alignment of the method for construction and processing of the three dimensional image in the TEM. - 特許庁

写真撮影位置にかかわらず、最適な領域で電子ビームの焦点合わせ等の調整動作を行うことができる透過型電子顕微鏡における電子ビーム調整方法を実現する。例文帳に追加

To realize a control method of an electron beam in a transmission type electron microscope which enables such a control that an electron beam can be focused in the optimal range irrespective of a photographing position. - 特許庁

本発明に係る電子部品実装状態検査方法の一例では、まず、微分干渉顕微鏡１による透明な実装基板１０を介した電極パッド１０ａの観察像を、電子画像データとして得る。例文帳に追加

In the example of the electronic component mounting state inspection method disclosed herein, first an observation image of the electrode pads 10a via a transparent mount board 10 by a differential interference microscope 1 is obtained as electronic image data. - 特許庁

本発明は、観察条件に最適な感度ムラ補正の補正係数の設定を自動的に行なうことができる透過型電子顕微鏡用カメラの感度ムラ補正方法及び装置を提供することを目的としている。例文帳に追加

To provide a sensitivity unevenness correction method and device of a camera for a transmission electrode microscope capable of automatically establishing a correction factor of a sensitivity unevenness correction optimal for observation conditions. - 特許庁

透過型電子顕微鏡において、加熱しても試料を連続観察することができ、かつ試料とヒーターの温度差を減らすことができる試料ホルダーおよび試料観察方法を提供する。例文帳に追加

To provide a sample holder capable of continuously observing a sample even if the sample is heated and reducing a temperature difference between the sample and a heater, in a transmission electron microscope, and a sample observation method. - 特許庁

ガラス繊維配合ポリマーを、0.01vol％以上1vol%以下の濃度のフッ化水素酸水溶液に5分以上24時間以下浸漬し、ガラス繊維のみを浸食させることを特徴とする透過型電子顕微鏡の検鏡試料作成法。例文帳に追加

The microtomy for the transmission type electron microscope is characterized by that only glass fiber is eroded by dipping glass fiber mixed polymer in a hydrofluoric acid solution with a concentration of ≥0.01 vol.% and ≤1 vol.% for ≥ five minutes and ≤24 hours. - 特許庁

透過型電子顕微鏡で生体試料を観察するための高性能かつ、安全で、容易に取り扱うことができる電子染色剤、染色液および電子染色方法を提供する。例文帳に追加

To provide an electron staining agent, staining liquid, and an electron staining method with high performance for observing a biological sample with a transmission electron microscope, safe and easily handleable. - 特許庁

本発明は透過型電子顕微鏡の自動最適合焦点調整方法及び装置に関し、最適合焦点位置を確実に検出することを目的としている。例文帳に追加

To surely detect an optimum focusing position as to a method and a device for adjusting an automatic optimum focusing of a transmission electron microscope. - 特許庁

共焦点走査透過型電子顕微鏡装置及び３次元断層像観察方法に関し、薄層状試料における異なった深さにおける原子配列を一画像で観察可能にする。例文帳に追加

To provide a confocal scanning transmission type electron microscope device and a three-dimensional tomographic observation method such that atom arrays of a thin-layer sample at different depths are observed through one image. - 特許庁

透過型電子顕微鏡を用いて角層細胞間の微細構造の全体の詳細を簡便かつ明瞭に観察することができる角層細胞間の微細構造の観察方法を提供する。例文帳に追加

To provide an observation method of intercellular microstructure of stratum corneum using a transmission electron microscope enabling a whole detail of intercellular microstructure of stratum corneum being easily and clearly observed. - 特許庁

本発明に係る検査方法では、微分干渉顕微鏡１による、透明な実装基板１０を介した電極パッド１０ａの観察像を電子画像データとして得る。例文帳に追加

In this inspection method, an observation image of the electrode pad 10a through a transparent mounting substrate 10 by the differential interference microscope 1 is acquired as electronic image data. - 特許庁

透過型電子顕微鏡を用いることなく、簡易な検査装置及び方法を用いて、微細なグレーティングを含む被検査物について迅速に検査を行えるようにする。例文帳に追加

To quickly inspect a specimen containing a fine grating by using a simple inspection apparatus and a simple inspection method without using a transmission electron microscope. - 特許庁

電界放射型電子銃と、電界放射型電子銃から放射された電子線を試料に収束する収束手段と、試料を照射する収束電子線を走査する偏向手段と、試料像を投影する投影手段と、試料厚さ測定手段とを備える走査透過型電子顕微鏡観察装置を用いて観察を行う。例文帳に追加

The observation is performed by a scanning transmission electron microscope observation equipment equipped with a field emission electron gun, a convergence means to converge an electron ray emitted from the field emission electron gun onto a sample, a deflecting means to scan a convergence electron ray irradiating the sample, a projecting means to project a sample image, and a measuring means for a sample thickness. - 特許庁

シリコン結晶中の欠陥を透過型電子顕微鏡で観察するための試料作製方法であって、結晶表面の浅い領域のみを剥離させて薄片化し薄片試料とするようにした。例文帳に追加

The method for manufacturing the sample to observe the defect in the silicon crystal by the transmission electron microscope comprises the steps of releasing only a shallow region on the surface of the crystal, and thinning the region to the thin piece samples. - 特許庁

サンプルが、効果的に区域限定されかつ再現されるような形で迅速に作成されることを可能にすると共に、多数の異なるサンプル材料に関して損傷を殆ど引き起こさない透過型電子顕微鏡法用サンプルの作成方法、および該方法を実施するのに適した装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method of producing a sample for transmission electron microscopy that effectively restricts the zone of the sample, is rapidly produced in a reproduced form, and hardly causes breakage in many different sample materials, and a device appropriate for executing the method. - 特許庁

その中空粒子としては透過型電子顕微鏡法による平均一次粒子径が２０ｎｍ〜１μｍ、動的光散乱法による平均粒子径が２０ｎｍ〜３μｍが好適である。例文帳に追加

The particle suitably has an average primary particle diameter of from 20 nm to 1 μm measured by a transmission electron microscope method, and average particle diameter of from 20 nm to 3 μm measured by a dynamic light scattering method. - 特許庁

薄片状に加工する前のサンプルにＯｓ（オスミウム）からなる膜をサンプルの表面に形成し、その後に加工して薄片状とすることを特徴とする透過型電子顕微鏡用試料の作製方法。例文帳に追加

A film comprising Os (osmium) is formed on the surface of the sample before processed into a slice form and this sample having the Os film on its surface is processed into the slice form to prepare the sample for the transmission electron microscope. - 特許庁

２一方の締約国の権限のある当局又は実施機関は、他方の締約国の権限のある当局又は実施機関の要請がある場合には、当該一方の締約国の法令の下で収集された者に関する情報であって、１に規定する情報以外の情報（当該他方の締約国の法令の実施のために必要なものに限る。）を当該一方の締約国の法令その他関連する法律及び規則に従って、当該他方の締約国の権限のある当局又は実施機関に伝達することができる。例文帳に追加

2. The competent authorities or competent institutions of a Contracting State may, upon the request of the competent authorities or competent institutions of the other Contracting State, transmit, in accordance with the legislation and other relevant laws and regulations of that Contracting State, information about a person other than that information referred to in paragraph 1 of this Article collected under the legislation of that Contracting State, to the competent authorities or competent institutions of that other Contracting State insofar as they are necessary for the implementation of the legislation of that other Contracting State. - 厚生労働省

得られた中空粒子は透過型電子顕微鏡法による一次粒子径が３０〜３００ｎｍ、動的光散乱法による粒子径が３０〜８００ｎｍ、水銀圧入法により測定される細孔分布において２〜２０ｎｍの細孔が検出されない緻密なシリカ殻からなる。例文帳に追加

The obtained hollow particle is comprised of a dense silica shell which has a diameter of a primary particle of 30-300 nm as measured by the transmission electron microscope method, and a particle size of 30-800 nm by the dynamic light scattering method, and which can not detect pores of 2-20 nm in a pore distribution measured by the mercury porosimetry. - 特許庁

試料を傾斜させて得られた透過像から３次元像を構築する透過型および走査透過型電子顕微鏡において、試料の厚さの変化情報を維持したまま、取得した画像の明るさ補正を行い、画像の明るさに含まれる情報の劣化の少ないトモグラフィ像を取得する。例文帳に追加

To enable achievement of a tomographic image having little deteriorated image contained in brightness of an achieved image by correcting the brightness of the image with keeping variation information of the thickness of a sample in a transmission type and scan transmission type electron microscope for constructing a three-dimensional image from a transmission image achieved by inclining the sample. - 特許庁

探針の先端状態をリアルタイム、短時間で確実にモニタでき、使用中の探針の先端が磨耗等したときに、自動的に新しい探針に交換しまたはユーザに交換を促すことができる自動検査工程に適した走査型プローブ顕微鏡およびカンチレバー管理方法を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning probe microscope and cantilever management method suitable for automatic inspection process capable of automatically replace with a new probe or inducing a user to replace a probe when the tip of the probe has worn while surely monitoring the tip condition of the probe in real time and in a short time. - 特許庁

半導体デバイス等における特定深さの平面的な微細構造の観察を容易にする、透過型電子顕微鏡観察用試料の作製方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for preparing a samaple for microscopic observation using a transmission type electron microscope facilitating the observation of a planar microstructure with a specific depth in a semiconductor device. - 特許庁

例文

位相回復法を適用した電子顕微鏡等において、回折像の画素サイズｐ、カメラ長L、照射ビームの波長λにより決まる画像サイズと試料照射領域が一定関係になるようにする。例文帳に追加

In the electron microscope applying a phase retrieval method, an image size decided by a pixel size p of a diffraction image, a camera length L, and a wavelength λ of irradiation beams and a sample irradiation area are set to have a constant relation. - 特許庁

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