「回路試験」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

回路試験装置例文帳に追加

CIRCUIT TESTING EQUIPMENT - 特許庁

回路の試験装置例文帳に追加

CIRCUIT TESTING DEVICE - 特許庁

回路試験装置例文帳に追加

CIRCUIT TESTING SYSTEM - 特許庁

回路試験装置例文帳に追加

CIRCUIT TESTING DEVICE - 特許庁

発振回路の試験回路例文帳に追加

TEST CIRCUIT OF OSCILLATION CIRCUIT - 特許庁

試験方法および試験回路例文帳に追加

TESTING METHOD AND TESTING CIRCUIT - 特許庁

試験方法及び試験回路例文帳に追加

TEST METHOD AND TEST CIRCUIT - 特許庁

回路試験装置、回路試験プログラムおよび回路試験方法例文帳に追加

CIRCUIT TESTING DEVICE, CIRCUIT TEST PROGRAM, AND CIRCUIT TEST METHOD - 特許庁

回路基板試験装置、回路基板試験方法、及び回路基板試験プログラム例文帳に追加

APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM FOR TESTING CIRCUIT BOARD - 特許庁

半導体試験回路例文帳に追加

SEMICONDUCTOR TESTING CIRCUIT - 特許庁

デジタル回路試験装置例文帳に追加

DIGITAL CIRCUIT TESTING DEVICE - 特許庁

レヤーコロナ試験回路例文帳に追加

LAYER CORONA TESTING CIRCUIT - 特許庁

集積回路の試験装置例文帳に追加

INTEGRATED CIRCUIT TESTING APPARATUS - 特許庁

クロック断試験回路例文帳に追加

CLOCK INTERRUPT-TESTING CIRCUIT - 特許庁

回路基板試験装置例文帳に追加

CIRCUIT BOARD TESTING DEVICE - 特許庁

ループバック試験回路例文帳に追加

LOOP BACK TEST CIRCUIT - 特許庁

電源回路試験装置例文帳に追加

DEVICE FOR TESTING POWER SUPPLY CIRCUIT - 特許庁

伝送路試験回路例文帳に追加

TRANSMISSION PATH TEST CIRCUIT - 特許庁

限流器試験回路例文帳に追加

CURRENT LIMITER TESTING CIRCUIT - 特許庁

組込み型自己試験回路例文帳に追加

INCORPORATED SELF-TEST CIRCUIT - 特許庁

伝送路試験回路例文帳に追加

TRANSMISSION PATH TESTING CIRCUIT - 特許庁

ユニット試験回路例文帳に追加

UNIT TEST CIRCUIT - 特許庁

電子回路の試験装置例文帳に追加

TEST DEVICE FOR ELECTRONIC CIRCUIT - 特許庁

回路基板の試験装置例文帳に追加

CIRCUIT BOARD TESTING SYSTEM - 特許庁

集積回路試験方法例文帳に追加

INTEGRATED CIRCUIT TEST METHOD - 特許庁

遮断器試験回路例文帳に追加

BREAKER TESTING CIRCUIT - 特許庁

遅延故障試験回路例文帳に追加

DELAY FAULT TESTING CIRCUIT - 特許庁

光出力試験回路例文帳に追加

LIGHT OUTPUT TEST CIRCUIT - 特許庁

集積回路試験装置例文帳に追加

DEVICE FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

メモリアレイ試験回路例文帳に追加

MEMORY ARRAY-TESTING CIRCUIT - 特許庁

集積回路試験装置例文帳に追加

INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE - 特許庁

半導体集積回路の試験回路及び試験方法例文帳に追加

TESTING CIRCUIT AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

半導体集積回路の試験回路およびその試験方法例文帳に追加

CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

回路劣化試験装置および回路劣化試験方法例文帳に追加

CIRCUIT DETERIORATION TESTING DEVICE AND CIRCUIT DETERIORATION TEST METHOD - 特許庁

差動出力回路の試験方法および試験回路例文帳に追加

TESTING PROCESS AND TESTING CIRCUIT FOR DIFFERENTIAL OUTPUT CIRCUIT - 特許庁

集積回路の試験回路及び試験方法例文帳に追加

CIRCUIT FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD THEREOF - 特許庁

スイッチ回路の試験回路および試験方法例文帳に追加

TEST CIRCUIT OF SWITCH CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING - 特許庁

回路試験装置及び回路試験システム例文帳に追加

CIRCUIT TEST DEVICE AND CIRCUIT TEST SYSTEM - 特許庁

試験セル生成回路および試験データ生成回路例文帳に追加

TEST CELL GENERATING CIRCUIT AND TEST DATA GENERATING CIRCUIT - 特許庁

回路試験装置および回路試験方法例文帳に追加

CIRCUIT TESTER AND CIRCUIT TESTING METHOD - 特許庁

集積回路試験装置、及び集積回路試験方法例文帳に追加

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

昇圧回路の試験回路及び試験方法例文帳に追加

TESTING CIRCUIT AND TESTING METHOD FOR VOLTAGE STEP-UP CIRCUIT - 特許庁

集積回路試験装置及び集積回路試験方法例文帳に追加

INTEGRATED CIRCUIT TESTER AND TESTING METHOD - 特許庁

地絡試験回路内蔵高圧地絡継電器試験回路例文帳に追加

HIGH-VOLTAGE GROUND FAULT RELAY TESTING CIRCUIT WITH BUILT-IN GROUND FAULT TESTING CIRCUIT - 特許庁

半導体集積回路の試験回路例文帳に追加

TESTING CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁