「回路試験」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

電子回路装置およびその動作試験方法例文帳に追加

ELECTRONIC CIRCUIT DEVICE AND ITS PERFORMANCE TEST METHOD - 特許庁

半導体集積回路試験装置及びその調整方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTER AND ADJUSTING METHOD THEREFOR - 特許庁

高周波遅延回路、及び試験装置例文帳に追加

HIGH FREQUENCY DELAY CIRCUIT, AND TESTING APPARATUS - 特許庁

試験回路及びそれを用いた半導体記憶装置例文帳に追加

TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR MEMORY USING THE SAME - 特許庁

ＣＴ１次試験用回路切替装置及び切替方法例文帳に追加

CIRCUIT SWITCHING DEVICE FOR CT PRIMARY TEST AND ITS SWITCHING METHOD - 特許庁

トレース回路、メモリ試験方法及び記録媒体例文帳に追加

TRACE CIRCUIT, MEMORY TESTING METHOD AND RECORDING MEDIUM - 特許庁

回路部品の試験装置および方法例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR TESTING CIRCUIT COMPONENT - 特許庁

電力用半導体素子の周波数試験回路例文帳に追加

FREQUENCY TEST CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR ELEMENT FOR ELECTRIC POWER - 特許庁

電源装置及び半導体集積回路試験装置例文帳に追加

POWER SUPPLY DEVICE AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST DEVICE - 特許庁

信号変換回路及び試験システム例文帳に追加

SIGNAL CONVERTER CIRCUIT AND TEST SYSTEM - 特許庁

半導体ＣＭＯＳ集積回路の試験装置例文帳に追加

TESTER FOR SEMICONDUCTOR CMOS INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

クランプ回路および試験信号発生装置例文帳に追加

CLAMP CIRCUIT AND TEST SIGNAL GENERATOR - 特許庁

集積回路を試験する装置および方法例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

集積回路の試験装置及び方法例文帳に追加

INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE AND ITS METHOD - 特許庁

スイッチング回路及びその試験方法例文帳に追加

SWITCHING CIRCUIT, AND TESTING METHOD THEREFOR - 特許庁

２回路間の誘導ノイズベンチ試験装置例文帳に追加

INDUCTION NOISE BENCH TESTING DEVICE BETWEEN TWO CIRCUITS - 特許庁

自己試験回路及びそれを内蔵するメモリデバイス例文帳に追加

SELF-TEST CIRCUIT AND MEMORY DEVICE INCORPORATING IT - 特許庁

アナログ・ディジタル特性試験回路例文帳に追加

ANALOG AND DIGITAL CHARACTERISTIC TEST CIRCUIT - 特許庁

差動ハイブリッド回路およびそれを用いた試験装置例文帳に追加

DIFFERENTIAL HYBRID CIRCUIT AND TESTING DEVICE USING SAME - 特許庁

試験装置の回路規模を低減する。例文帳に追加

To reduce a circuit scale of a testing device. - 特許庁

電力変換装置の試験用回路短絡装置例文帳に追加

SHORT-CIRCUITING DEVICE FOR TESTING OF POWER CONVERTER - 特許庁

集積回路中に自動試験装置機能を実現する。例文帳に追加

To provide an automatic testing device function in an integrated circuit. - 特許庁

伝送装置における試験パターン生成回路例文帳に追加

TEST PATTERN GENERATION CIRCUIT IN TRANSMISSION DEVICE - 特許庁

終端回路、試験装置、テストヘッド、及び通信デバイス例文帳に追加

TERMINATING CIRCUIT, TEST INSTRUMENT, TEST HEAD AND COMMUNICATION DEVICE - 特許庁

ワード・レコグナイザ回路及び試験測定機器例文帳に追加

WORD RECOGNIZER CIRCUIT AND TEST MEASUREMENT APPARATUS - 特許庁

所内電源系設備の保護回路試験装置例文帳に追加

PROTECTION CIRCUIT TESTING APPARATUS FOR ON-SITE POWER SUPPLY FACILITIES - 特許庁

ＣＣＳＤＳ準拠ＡＯＳ試験信号発生回路例文帳に追加

CIRCUIT FOR GENERATING AOS TEST SIGNAL CONFORMING TO CCSDS - 特許庁

電子回路装置およびその試験方法例文帳に追加

ELECTRONIC CIRCUIT DEVICE AND TEST METHOD THEREOF - 特許庁

信号処理装置及び半導体集積回路試験装置例文帳に追加

SIGNAL PROCESS DEVICE AND TESTER FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

嵌入式測定試験回路を備えた平面表示パネル例文帳に追加

PLANE DISPLAY PANEL EQUIPPED WITH SETTING-IN TYPE MEASUREMENT TEST CIRCUIT - 特許庁

メモリデバイス試験装置およびデ—タ選択回路例文帳に追加

TEST EQUIPMENT FOR MEMORY DEVICE AND DATA SELECTING CIRCUIT - 特許庁

集積回路のコンデンサの試験装置および方法例文帳に追加

TESTING DEVICE FOR CAPACITOR IN INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD THEREOF - 特許庁

集積回路装置及びその試験方法例文帳に追加

INTEGRATED CIRCUIT APPARATUS AND TEST METHOD THEREFOR - 特許庁

半導体試験装置の信号発生回路例文帳に追加

SIGNAL-GENERATING CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE - 特許庁

半導体集積回路の試験の容易化を図る。例文帳に追加

To facilitate the test of a semiconductor integrated circuit. - 特許庁

スイッチ回路、信号出力装置および試験装置例文帳に追加

SWITCH CIRCUIT, SIGNAL OUTPUT UNIT, AND TESTING DEVICE - 特許庁

受信回路試験システム及び方法例文帳に追加

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING RECEIVING CIRCUIT - 特許庁

半導体試験結果の判定方法及び判定回路例文帳に追加

JUDGEMENT METHOD OF TEST RESULT FOR SEMICONDUCTOR, AND JUDGEMENT CIRCUIT THEREOF - 特許庁

ドライバ回路およびそれを用いた試験装置例文帳に追加

DRIVER CIRCUIT AND TESTING APPARATUS USING THE SAME - 特許庁

撮像素子駆動回路、撮像素子試験装置例文帳に追加

IMAGE PICKUP ELEMENT DRIVE CIRCUIT, IMAGE PICKUP ELEMENT TEST UNIT - 特許庁

メモリ回路用の組込み自己試験装置例文帳に追加

BUILT-IN SELF-TEST DEVICE FOR MEMORY CIRCUIT - 特許庁

集積回路素子の並列試験装置及び方法例文帳に追加

APPARATUS AND METHOD FOR PERFORMING PARALLEL TEST ON INTEGRATED CIRCUIT DEVICES - 特許庁

メモリインターフェース回路及びメモリ試験装置例文帳に追加

MEMORY INTERFACE CIRCUIT, AND MEMORY TEST DEVICE - 特許庁

組立て前にセンサ回路の性能を試験できるようにする。例文帳に追加

To test the performance of a sensor circuit before assembly. - 特許庁

試験データ生成回路１０からの試験データを試験チャネル選択回路１２−１を介して拡散回路６−１〜６−Ｎに択一的に供給し、その拡散出力を試験チャネル選択回路１２−２を介して試験データ照合回路１４へ導出する。例文帳に追加

Test data from a test data generation circuit 10 are alternatively supplied through a test channel selection circuit 12-1 to diffusion circuits 6-1 to 6-N and its diffusion output is derived through a test channel selection circuit 12-2 to a test data collation circuit 14. - 特許庁