「回路試験」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

変調回路、信号発生器、試験装置、及び半導体チップ例文帳に追加

MODULATION CIRCUIT, SIGNAL GENERATOR, TESTING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR CHIP - 特許庁

アドレスパターン発生装置及び半導体集積回路試験装置例文帳に追加

ADDRESS PATTERN GENERATING DEVICE AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE - 特許庁

本技法は、検出器の各行ドライバと関連する試験回路を採用する。例文帳に追加

The technique adopts a test circuit related to each row driver of the detector. - 特許庁

ＱＰＳＫトランシーバの自己校正及び試験の方法並びに回路例文帳に追加

METHOD AND CIRCUIT FOR SELF-CALIBRATING AND TESTING QPSK TRANSCEIVER - 特許庁

スキャンチェーンの形成方法および集積回路の試験方法例文帳に追加

METHOD FOR FORMING SCAN CHAIN AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

モータ制御回路および内視鏡操作部耐久試験装置例文帳に追加

MOTOR CONTROL CIRCUIT AND DURABILITY TEST DEVICE FOR ENDOSCOPE OPERATION PART - 特許庁

体外回路のための血液チューブ系セットの完全性試験例文帳に追加

METHOD FOR TESTING PERFECTNESS OF BLOOD TUBE SET FOR EXTRACORPOREAL CIRCUIT - 特許庁

電流駆動形電力用半導体素子のターンオン試験回路例文帳に追加

TURN-ON TEST CIRCUIT FOR CURRENT DRIVING TYPE POWER SEMICONDUCTOR ELEMENT - 特許庁

メモリ動作試験におけるインターフェース回路の判定を容易にすること。例文帳に追加

To facilitate the determination of an interface circuit in a memory operation test. - 特許庁

スキャンチェーン回路、スキャンチェーン構築方法及び試験装置例文帳に追加

SCAN CHAIN CIRCUIT, SCAN CHAIN CONSTRUCTION METHOD, AND TEST DEVICE - 特許庁

無線周波数集積回路（ＲＦＩＣ）を試験する方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of testing a radio frequency integrated circuit (RFIC). - 特許庁

電磁波供給部１８は、被試験回路２２に電磁波を供給する。例文帳に追加

The electromagnetic wave supply part 18 supplies an electromagnetic wave to the circuit 22 to be tested. - 特許庁

信号発生タイミング制御プログラム及び集積回路動作試験装置例文帳に追加

SIGNAL GENERATION TIMING CONTROL PROGRAM AND INTEGRATED CIRCUIT PERFORMANCE TEST DEVICE - 特許庁

ベアチップ実装回路装置及びその高電源電圧印加試験方法例文帳に追加

BEAR CHIP MOUNTING CIRCUIT DEVICE AND ITS HIGH POWER SUPPLY VOLTAGE IMPRESSION TEST METHOD - 特許庁

半導体集積回路のテープキャリアパッケージおよびその試験方法例文帳に追加

TAPE CARRIER PACKAGE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND METHOD OF TESTING THE SAME - 特許庁

セレクタ回路４は試験モード信号によって切り替えられる。例文帳に追加

The selector circuit 4 is switched by a test mode signal. - 特許庁

配電盤の交流電圧回路試験装置およびその方法例文帳に追加

DEVICE FOR TESTING AC VOLTAGE CIRCUIT OF DISTRIBUTION BOARD, AND METHOD THEREOF - 特許庁

半導体集積回路、その静電気耐圧試験方法及び装置例文帳に追加

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS STATIC ELECTRICITY BREAKDOWN VOLTAGE TEST METHOD, AND DEVICE - 特許庁

ＰＬＬ回路、並びに通信装置及びその折り返し試験方法例文帳に追加

PLL CIRCUIT, AND COMMUNICATION APPARATUS AND LOOPBACK TEST METHOD THEREOF - 特許庁

ジッタ印加回路、パターン発生器、試験装置、および、電子デバイス例文帳に追加

JITTER APPLICATION CIRCUIT, PATTERN GENERATOR, TEST APPARATUS, AND ELECTRONIC DEVICE - 特許庁

閾値に基づくパルス特性検出回路及びその測定評価試験方法例文帳に追加

PULSE CHARACTERISTIC DETECTION CIRCUIT BASED ON THRESHOLD, AND ITS MEASUREMENT/EVALUATION TESTING METHOD - 特許庁

位置補正方法及び装置並びに半導体集積回路試験装置例文帳に追加

POSITION CORRECTING METHOD AND DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE - 特許庁

電子デバイス、負荷変動補償回路、電源装置、及び試験装置例文帳に追加

ELECTRONIC DEVICE, LOAD VARIATION COMPENSATION CIRCUIT, POWER SUPPLY APPARATUS, AND TEST APPARATUS - 特許庁

プリント回路基板６を試験する際、テスタ５が故障箇所を検出する。例文帳に追加

A tester 5 detects a trouble portion when testing the printed circuit board 6. - 特許庁

バーニア遅延回路、それを用いた時間デジタル変換器および試験装置例文帳に追加

VERNIER DELAY CIRCUIT, TIME DIGITAL CONVERTER USING THE SAME, AND TEST DEVICE - 特許庁

簡単な構成のＢＧＡ集積回路装置試験用ソケットを提供する。例文帳に追加

To provide a socket for testing a BGA integrated circuit of simple configuration. - 特許庁

電圧電流特性測定回路および半導体試験装置例文帳に追加

CIRCUIT FOR MEASURING VOLTAGE-CURRENT CHARACTERISTICS AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS - 特許庁

電圧印加電流測定回路とそれを用いた半導体試験装置例文帳に追加

VOLTAGE APPLYING CURRENT MEASUREMENT CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR TESTER USING THE SAME - 特許庁

光結合により集積回路（ＩＣ）を試験する方法およびシステム。例文帳に追加

The method and the system test an integrated circuit (IC) by optical coupling. - 特許庁

パターン発生装置及び方法並びに半導体集積回路試験装置例文帳に追加

PATTERN GENERATING DEVICE AND METHOD, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST DEVICE - 特許庁

アナログ加入者回路の伝送特性試験装置および方法例文帳に追加

TRANSMISSION CHARACTERISTIC TEST DEVICE AND METHOD FOR ANALOG SUBSCRIBER CIRCUIT - 特許庁

アンドフェイル検出回路及び半導体メモリ試験装置例文帳に追加

AND FAIL DETECTING CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR MEMORY TEST DEVICE - 特許庁

集積回路デバイス試験装置のタイミング較正方法および装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE OF CALIBRATING TIMING FOR DEVICE OF TESTING INTEGRATED CIRCUIT DEVICE - 特許庁

ウエハ段階にある個別の集積回路に対するＣＤＭ試験装置例文帳に追加

CDM TEST DEVICE FOR INDIVIDUAL INTEGRATED CIRCUIT IN WAFER STAGE - 特許庁

半導体装置の出力回路における試験時間を短縮する。例文帳に追加

To shorten testing time at an output circuit of a semiconductor device. - 特許庁

コンタクトプローブ及びこれを用いた電子回路試験装置例文帳に追加

CONTACT PROBE AND ELECTRONIC CIRCUIT TESTING DEVICE USING THE SAME - 特許庁

集積回路メモリの冗長列試験システムおよび方法例文帳に追加

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING COLUMN REDUNDANCY OF INTEGRATED CIRCUIT MEMORY - 特許庁

インバータ制御アンプ試験装置の対地相対電位検出回路例文帳に追加

CIRCUIT FOR DETECTING RELATIVE POTENTIAL TO GROUND OF INVERTER CONTROL AMPLIFIER TESTER - 特許庁

半導体試験装置は、救済判定回路６０をさらに備える。例文帳に追加

The semiconductor testing device is further provided with a relief judgment circuit 60. - 特許庁

送信器−受信器回路は、試験モジュール２をさらに含む。例文帳に追加

The transmitter-receiver circuit also includes a test module 2. - 特許庁

記憶部１は、試験対象回路を示すネットリストを記憶する。例文帳に追加

A storage part 1 stores a net list showing a test target circuit. - 特許庁

信号を送受信する回路のための動作試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide an operation test method for a circuit for transmitting and receiving signals. - 特許庁

電気回路設計支援装置及び方向性継電装置試験支援装置例文帳に追加

ELECTRIC CIRCUIT DESIGN SUPPORT SYSTEM AND DIRECTIONAL RELAY UNIT TEST SUPPORT SYSTEM - 特許庁

被試験回路をテストする場合の総合的なテスト時間を短縮する。例文帳に追加

To shorten total testing time, in the testing of a circuit to be tested. - 特許庁

試験回路及びこれを備えたパイプラインＡ／Ｄ変換器例文帳に追加

TESTING CIRCUIT AND PIPELINE ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER EQUIPPED WITH THE SAME - 特許庁